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一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置

2021-04-14 00:00:00
云上高博会 https://heec.cahe.edu.cn
关键词: 点型缺陷
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所属领域:
电子信息
项目成果/简介:

本发明公开了一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装 置,该装置包括磁敏感元件部分,磁感应部分以及磁轭式局部微磁化 部分,磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引线端、磁引导芯和引导芯 套筒,磁引导芯下端采用圆锥形的结构细化检测区域,实现点型缺陷 的高分辨率检测;磁感应部分由绕制在引导芯套筒外侧的磁感应线圈 组成;由引导芯套筒支撑固定的磁轭式局部微磁化部分,包括环形导 磁构件、磁铁连接件、磁轭式双磁铁以及斜向双导磁构件,该部分将 磁场量导入待检测金属体内,达到局部微磁化的效果,通过与磁引导 芯连接的磁敏感

项目阶段:
试用
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