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星载激光测高仪在轨检校方法及系统

2021-04-14 00:00:00
云上高博会 https://heec.cahe.edu.cn
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所属领域:
其它领域
项目成果/简介:

本发明提出一种星载激光测高系统在轨检校方法及系统,在现有的在轨检校方法的基础上,根据已

知地表先验模型,建立星载激光测高仪的测距模型;基于测距模型,建立系统误差与测距残差的关系;

利用实测距离值与测距模型计算距离值生成测距残差,利用测距残差实现了对测高系统系统误差中的装

配误差及测距误差的在轨检校。本发明技术方案能够很好地检校系统误差,避免了姿态机动。 

项目阶段:
未应用
知识产权编号:
201510458220.3
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