已有样品/n“十二五” 期间， 国家高技术863计划相关主题十分重视天光背景测量技术的研究。 在有关课题的支持下， 我所根据项目任务需求和学科发展的需要， 进行了太阳辐射和天光背景测量仪器的系统性技术开发和技术储备。 2013年完成了宽谱段天空背景辐射计的研制， 目前已在安徽合肥地区、 四川西昌地区、 广东茂名地区、 辽宁锦州地区以及吉林长春等全国多地开展天光背景实地测量研究， 为各种地基跟、瞄系统跟踪能力的评估提供了量化的数据支

成果创新点 1.多偏振态多角度散射表征颗粒； 2.基于详细形貌模型的反演算法 技术成熟度 样品样机测试阶段 市场前景 气溶胶测量领域。目前市场上并无商业化产品。 转化计划 2020 年完成产品化，自主转化寻求投资。 所需支持 资金 500 万。

1.多偏振态多角度散射表征颗粒； 2.基于详细形貌模型的反演算法 

面结构光三维测量技术是近几年飞速发展的光学三维测量技术，是基于条纹投影的物体三维面形重建技术。它利用物体面形对标准正弦条纹图的相位调制并对图像进行相位解调实现物体三维检测。该系统包括高质量面结构光投影模块、低失真图像采集模块及快速的数据处理算法。该测量系统中，标定准确的相位与空间三维坐标的关系是该三维测量技术至关重要的步骤。由于面结构光三维测量技术具有速度快、非接触、精度高等优点逐步受到人们的重视，它被认为是目前最有前途、最有发展潜力的三维测量技术。 一、主要功能和应用领域 该面结构光三维测量系统结合特定的标定技术，确定各个系统参数，建立相位与空间三维坐标的数学关系，改善系统的精确度及灵和性。该测量系统适用于工业制造、产品检测、模具设计、逆向工程、生物医学、文物保护、机器视觉等领域，具有广阔的应用前景。 二、特色及先进性 1、系统结构任意摆放 该任意摆放面结构光三维测量系统的组成部件在空间位置相对任意，易于在实地测量中使用。它在几何结构、光路等方面没有严格的平行性、垂直性要求，仅需要图像采集系统的视场被投影系统的视场所覆盖。 2、标定技术经济实惠且使用灵活 系统标定的过程中，仅需一种打印的棋盘格作为标定板，相比于制作困难且成本高昂3D标准件，该技术成本低，具有极高的实用性。同时，标定板的位置可以随机、任意放于测量视场中的任何一个空间位置，相比于现行的标定技术，具有极大的灵活性。 3、高分辨率 基于任意摆放面结构光三维测量系统，避免现行测量方法中因系统设置不准而造成的测量误差；考虑镜头引起的畸变现象，对每个像素点标定，降低畸变对测量结果的不良影响；采用最小二乘拟合算法，对多组数据拟合，保证相位与空间三维坐标关系的准确性。 4、测量系统技术指标 物体面形三维测量对测量仪器的分辨率、稳定性有较高要求，且部分算法复杂，所设计的系统采用联机方式。系统主要技术指标：测量范围：200mm×300mm×200mm，且连续可调；横向分辨率：可达0.06mm(主要受相机分辨率的限制，本系统采用AVT-GT1660C相机)；纵向分辨率：可达0.02mm 四、能为产业解决的关键问题和实施后可取得的效果 1、基于任意摆放面结构光三维测量系统，解决传统系统设置难度大、对测量环境稳定要求高的困难。 2、标定技术可适用于任何面结构光三维测量系统，解决了现行标定技术使用范围较窄的问题。 3、该测量系统和标定技术具有高分辨率且经济实用，极大提高面结构光三维测量技术测量精度，拓展了面结构光三维测量技术的应用领域。

该面结构光三维测量系统结合特定的标定技术，确定各个系统参数，建立相位与空间三维坐标的数学关系，改善系统的精确度及灵和性。该测量系统适用于工业制造、产品检测、模具设计、逆向工程、生物医学、文物保护、机器视觉等领域，具有广阔的应用前景。

本发明公开了一种纳米结构三维形貌测量方法及其装置，可以同时测量纳米结构线宽、深度、侧墙角、线缘粗糙度、线宽粗糙度等三维形貌参数的方法及装置。本发明方法步骤如下：将波长为紫外到近红外波段的光束经分光、起偏、前后相位补偿得到的椭圆偏振光投射到待测；采集待测结构表面反射零级衍射信号，计算得到纳米结构测量穆勒矩阵；将测量穆勒矩阵与理论穆勒矩阵进行匹配，提取得到待测纳米尺寸结构的三维形貌参数值。本发明所提供的纳米结构三维形貌参数测量装置，能为基于图形转移的批量制造方法如光刻和纳米压印等工艺中所涉及的一维和二维

近些年，工业发展导致环境污染越来越严重，其中粉尘作为环境 恶化的重要污染源,严重危害着我们的生活环境和人们的身心健康。 因此,采取及时有效的措施对环境中的粉尘浓度进行检测,然后进行 除尘降尘,可有效提高人生安全系数和环境质量。 目前，现有的粉尘检测设备中,所用的传感器稳定性差,致使测量 精度不够高,且校准调节难度大,这也对产品的推广和后期维护带来 不便。课题组采用激光散射法在线监测粉尘浓度,并采用 3D 打印技术 设计系统总体及光路结构，采用串口通讯模块对系统进行了数据校准 及稳定性分析,测量精准度高。

本实用新型涉及回转窑托轮轴向力测量仪传动装置，由中心杆、防护罩、螺栓、传感器连接件构成，其中心杆与传感器连接件之间设有防护罩，中心杆的底部扣在防护罩内，中心杆内安装一推力杆，其推力杆上设有压缩弹簧，推力杆的底部安装一弹性挡圈；防护罩中心轴处安装一推力轴承，传感器连接件的顶部通过螺栓固定在防护罩内，传感器连接件顶端内侧固定一蝶形弹簧，本实用新型的有益效果为：通过检测出这个轴向力，并调整使托轮轴向力在合理的范围，可以有效避免这些事故的发生，这对维持设备的正常运行。

采用激光反射和散射测量原理，激光照射被测物，经被测物表面反射和散射的光由探测头内部的硅光电池接收，再经电路处理由软件将接收到的信号值转换为Ra，即被测物的表面粗糙度。 仪器属于非接触测量，不会对产品表面造成破坏；可消除在高级别粗糙度测量时测尖无法进入谷底而带来的测量误差，特别适用于对超精加工后工件表面粗糙度的测量，以及内孔内壁的测量；非机械测量，不会有探针的损耗，降低了使用成本；可靠性、重复性高；采用数值标定，同一类平面只需标定一次，不需要重复标定，降低了标定成本，并且提高生产效率；由于激光的相干性好，测量系统结构简单，免去了一般光源干涉测量仪器视场过小带来的诸多不便。 仪器操作简单，可用于平面和圆柱面等多种被测材料，如：金属、塑料、陶瓷以及磁性介质等的测量，LCD直观显示。 主要性能指标：测量范围：0.01mm～0.1mm重复性：测量值的±1.0%准确度：±0.006mm光点直径：f3mm