产品详细介绍MD—7llN 型彩色液晶大屏幕电缆故障测试仪是我们2007年新推出的M型电缆故障测试仪的升级产品，该仪器采用当今最流行的全金属外壳。本型机除具备M 型机的测试功能外，新增加了全新的测试软件，提高了测试的精确度。同时由于采用彩色液晶显示屏大大提高了清晰度，更加适合野外使用。可用于检测各种电缆的低阻、高阻、短路、开路、泄漏性故障以及闪络性故障，可准确的检测地下电缆的故障点位置、电缆长度和电缆的埋设路径。仪器采用汉字系统，高清晰度显示，界面友好。机内存有仪器使用说明书、标准波形及测试接线图，便于操作使用；具有波形比较功能，可方便的将两幅波形同时显示在屏幕上进行对比，并可左右移动；自动计算故障距离，无需人工换算；可以存储一幅测试波形。仪器配有打印接口，可将所有的文字、图表、波形出打印输。同样该机设有和计算机相连接的USB 接口，通过在电脑上安装我们提供的软件可以现场和我们的工程师进行交流。我们专业工程师将现场帮助用户解决测试中问题。本套仪器由电缆仪主机、路径仪、基本型定点仪和同步定点仪及其他附件组成。【可测的故障类型】     各种截面的铝芯或铜芯电力电缆、同轴电缆、及其他类型电缆的： 闪络性故障或电阻值极高的故障； 封闭性故障或一般高阻的故障； 低阻故障、短路或开路故障； 电缆长度和电波在电缆中的传播速度。【规格及参数】 可测电缆的电压等级：35KV 以下； 最大测试距离：15Km； 工作极限误差：±3%； 使用环境温度：-10℃—40℃； 使用环境湿度：45—75； 采样频率：30MHz； 功耗：30W； 系统误差：；≤1米 体积：300× 250 × 150mm3 重量：7.5kg；【测试方法】 低阻开路故障：低压脉冲法 高阻故障：闪络法 闪络性故障：直流高压闪络或闪络法     MD711路径仪是核查地下电缆走向的仪器。【规格及参数】 测试信号：正弦波  频率15KHz、1KHz； 输出功率：＞30W； 输出阻抗：＞8Ω； 电源电压：交流220V±10％  50Hz±1％； 使用环境温度：-10℃—40℃； 外形尺寸：300×250×90mm3； 重量：1.5Kg     DGC-DC定点仪经过三十多年的考验，可称得上是定点仪经典之作。其具有的灵敏度高、抗干扰、结构简单、结实耐用、工作可靠性高等特点，一直为用户青睐。【主要技术参数】 在输出信号为300Hz，幅度为30uV的情况下，可保证2.5V不失真输出。 在2.5V不失真条件下，使输入为零，定点仪内部噪声电平不大于150mV。 工作种类：定点工作方式：测定电缆故障点的精确位置时使用。 路径工作方式：测试电缆埋设的路径走向使用。 输入阻抗：＞1KΩ 工作电压：9V±10％ 工作电流：＞4mA 环境温度：-10℃—40℃ 体积：65×120×150mm3 重量：1.5Kg（不含探头）     选配设备：DSG-Ⅱ（Ⅲ）一体化交直流高压发生器 

产品详细介绍MD—7llM电缆故障测试仪是在MD—7llH型基础上加以改进，本型机除具有可用于检测各种电缆的低阻、高阻、短路、开路、泄漏性故障以及闪络性故障，可准确的检测地下电缆的故障点位置、电缆长度和电缆的埋设路等基本功能外。一改H型的体积、重量较大的不足，同时主机自带电源更加方便外出携带。仪器采用汉字系统，高清晰度液晶显示，界面友好。机内存标准波形及测试接线图，便于操作使用；具有波形比较功能，可方便的将两幅波形同时显示在屏幕上进行对比，并可左右移动；自动计算故障距离，无需人工换算；可以存储一幅测试波形。仪器配有打印接口，可将所有的文字、图表、波形打印输出。同时该机设有和计算机相连接的USB 接口，通过在电脑上安装我们提供的软件可以现场和我们的工程师进行交流。我们专业工程师将现场帮助用户解决测试中问题。本套仪器由电缆仪主机、路径仪、基本型定点仪和同步定点仪及其他附件组成。【基本指标】·可测电缆种类：各种不同介质的电力、通信（同轴）电缆·可测电缆长度：不小于15公里·采样主频：30MHZ·测量误差：系统误差小于0.5米·读数分辨率：V/2f （米）·体积：300×235×130mm3·重量：主机重3.2公斤，全套重量小于15公斤【测试方法】·低阻开路故障：低压脉冲法·高阻故障：闪络法·闪络性故障：直流高压闪络或闪络法【测试故障范围】·电力电缆：低阻、开路、高阻故障·其它电缆：低阻、开路故障MD711路径仪是核查地下电缆走向的仪器。【规格及参数】·测试信号：正弦波  频率15KHz、1KHz；·输出功率：＞30W；·输出阻抗：＞8Ω；·电源电压：交流220V±10％  50Hz±1％；·使用环境温度：-10℃—40℃；·外形尺寸：300×250×90mm3；·重量：1.5KgDGC-DC定点仪经过三十多年的考验，可称得上是定点仪经典之作。其具有的灵敏度高、抗干扰、结构简单、结实耐用、工作可靠性高等特点，一直为用户青睐。【主要技术参数】在输出信号为300Hz，幅度为30uV的情况下，可保证2.5V不失真输出。在2.5V不失真条件下，使输入为零，定点仪内部噪声电平不大于150mV。工作种类：定点工作方式：测定电缆故障点的精确位置时使用。·路径工作方式：测试电缆埋设的路径走向使用。·输入阻抗：＞1KΩ·工作电压：9V±10％·工作电流：＞4mA·环境温度：-10℃—40℃·体积：65×120×150mm3·重量：1.5Kg（不含探头）选配设备：DSG-Ⅱ（Ⅲ）一体化交直流高压发生器

产品详细介绍济南兰光摩擦系数仪执行GB/T 10006-1988（塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法）标准，适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、输送带、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标。200g和500g两种滑块质量可选。 摩擦系数仪技术指标： 负荷范围：0～5N 精       度：1级 行       程：10 mm + 60 mm 滑块质量：200g  500g（1000g另购） 试验速度：100 mm/min 环境要求：温度：10℃～40℃　           湿度：20% RH～70%RH    了解详细信息，敬请致电0531-85068566 本信息由济南兰光提供   Labthink兰光产品： 1. 透氧仪 2. 气体渗透仪 3. 透气性测试仪 4. 透湿仪 5. 透湿性测试仪 6. 密封试验仪 7. 落镖冲击试验仪 8. 密封仪 9. 泄漏与密封强度测试仪 10. 氧气透过率测试仪 11. 热封仪 12. 氧气透过率测定仪 13. 水蒸气透过率测试仪 14. 薄膜拉力机 15. 摩擦系数仪 16. 初粘性测试仪 17. 智能电子拉力试验机 18. 撕裂度仪 19. 热缩试验仪 20. 电子剥离试验机 21. 揉搓试验仪 22. 瓶盖扭矩仪 23. 顶空分析仪 24. 磨擦试验机 25. 热封试验仪 26. 摆锤冲击试验仪 27. 墨层结合牢度试验机 28. 持粘性测试仪 29. 薄膜测厚仪 30. 雾化试验仪 31. 摩擦系数测试仪 32. 纸箱抗压试验机 33. 气相色谱仪 34. 摩擦系数测定仪 35. 测厚仪 36. 胶粘剂拉伸剪切试验机 37. 透气度测试仪

产品详细介绍粉末冶金零件密度测试仪÷含油轴承含油率测试仪，粉末冶金比重测试仪，粉末冶金密度计，粉末冶金密度天平：粉末冶金制品在成型之前，先将原资料增加黏结剂、光滑剂如硬脂酸锌、硬脂酸锂及白蜡、石墨粉等加以混杂平均，而后加以成型。使成型胚体中与内部接触的孔隙或多或少被光滑剂和石墨粉所填满。配合现场作业，于试模和密度再确认时，根据生胚密度的测试可立刻调剂粉末填充量，防止粉末适量充填或充填缺乏。为了延长停机的时光，须要疾速的实现密度测量。目前市场上用来检测粉末冶金构造件体密度、有效孔隙率、湿密度、体积的测量仪器有很多，现重要给大家介绍一款产自台湾的粉末冶金密度计，可正确、疾速、不便测出各种粉末冶金构造件的体密度与含油合金的有效孔隙率、湿密度、体积。粉末冶金零件密度测试仪÷含油轴承含油率测试仪重要技巧参数：1、型号：TW－120P、TW－600P2、称重规模：0。001g～120g、0。01g～300g、0。01g～600g3、密度解析精度：0。0001 g÷cm3 0。001 g÷cm34、测量时光：约10称5、测试品种：粉末冶金构造件、含油合金、含油轴承及各种固体、颗粒体、薄膜、浮体功用及特征：1、可间接读取粉末冶金构造件的体密度和含油合金的有效孔隙率、湿密度、体积；2、可间接读取烧结含油轴承含油率、有效孔隙率；3、可根据现场操作习性，间接读取不吸水资料的密度和体积值；4、具备温度弥补设定、溶液弥补设定、防水解决油的密度设定功用；5、主机配有RS－232标准打印接口，能很不便地衔接打印机将测试后果输入；6、采取大水槽设计，可下降吊栏线的浮力所形成的误差；7、两个操作步骤即可显示测量后果；8、操作简朴、不便、测量疾速；9、全主动零点跟踪功用；10、具备环境调剂功用；为什么要测试粉末冶金原料的密度粉末冶金是将金属、合金、或其氧化物、碳化物等粉末装入模具内，施以低压而成形，再进行烧结固化来制作所须要的资料、产品的技巧。粉末冶金是把金属的粉末颗粒微细化后，再制形成外形庞杂的零件，替代传统的机械加工。因为粉末冶金的孔隙构造对粉体的物感性质影响很大，而且粉末冶金产品根据其需求是以体密度、湿密度、视孔隙率、含油率等为重要的认定标准，所以关于成形胚体和烧结体的密度检测更为重要。按照标准：金属烧结资料的烧结密度=试料空气中分量÷（防水解决后试料空气中重－防水解决后试料水中重）。抉择数显台式精细密度计，密度仪，密度测试仪，密度天平，比重计，比重测试仪，比重仪，比重天平，比重密度测试仪÷测量仪

产品详细介绍YZZ-10 直流电阻测试仪     仪器仪表 >> 电工及自动化仪表 >> 电阻测量仪   一．概述 本直流电阻测试仪采用单片机控制，大屏幕汉字液晶显示，具有打印输出功能（及232接口）。仪器八个档位均由软件校正，精度达万分之一。可自动换档。机器体积小、重量轻、耗电省、测试数据稳定可靠。是取代直流单、双臂电桥的高精度换代产品。是测量电力变压器等各种感性负载电阻及低压开关接触电阻、电线电缆或焊缝接口电阻的理想仪器。 二．工作原理 本仪器内有一个直流恒流源。在测量时，机器向被试品馈入恒流，该电流在被测体上产生相应的压降，这一电压值取回本机，经放大采样计算后得出电阻值。（R=U/I） 三．技术指标 1、使用条件： 环境温度：   -15℃～40℃ 相对温度：   ≤85％RH 2、测量范围：1K档：1---999.9Ω; 1Ω档：0.1 ---999.9mΩ 3、测量精度：0.2%±5个字 4、分辨率：  1μΩ 5、恒流源：  1A/5ma（2A/10ma） 6、可交流   （AC220V）工作也可直流工作 功耗：≤15W(25W) 7、外形尺寸：330×300×160mm 8、重量：    3.8kg 2KΩ  

一、产品介绍         “MXY8301 LED/LD光谱分布测试仪”是一款能够探测与分析各种光源在可见谱区范围内分布的“CCD快速光谱仪”，它的探测器是线阵CCD多通道探测器，能够探测各种颜色LED发光管和其他发光体的光谱分布。 由以下几部分构成：由狭缝、分光光栅、凹面镜和线阵CCD光谱探测器等部件构成； 狭缝：仪器信号光输入口为可调缝宽的狭缝（缝宽可调）； 被测LED安装装置：用来安装被测LED等光源； 被测LD安装装置：用来安装被测LD光源； 衍射光栅：采用600lp/mm的衍射光栅对入射光进行分光； 凹面镜：将分出的发射光谱汇聚到线阵CCD像敏阵列上； 光谱探测器：用线阵CCD传感器为探测器，以便同步获得更多的光谱谱线； 数据采集：仪器采用12位A/D数据采集系统；以便获得更高的“强度”分辨率； 接口方式：采用0接口方式与计算机连接； 二、教学目的 1、能够同步快速探测可见光范围的多通道光谱，并对谱线进行分析； 2、进行“LED光谱分布的测量实验”，学习光谱探测原理与光谱分析方法； 3、进行“LED发光光谱半宽度的测量实验”认识LED发光光谱特性和测量方法； 4、利用设备提供的“SDK”软件开发包进行课程设计与毕业设计； 三、实验内容 1、测试各种颜色LED的光谱分布； 2、测试LD半导体激光器的光谱分布； 3、测试其他光的光谱分布；

7631耐压测试仪 –True RMS 量测线路 –可设定爬升时间 (0.1s-10s) –支持 Remote 远程控制信号 –7630 为 2 通道测试、7631 为 8 通道测试 –USB Host 可储存配置文件案及韧体的更新 –电弧侦测功能检测线圈是否有细微的放电现象 –提供 AC 耐压 5000V、DC 耐压 6000V、绝缘阻抗 12GΩ – 7631 可外接 7508/7516(8/16) 信道扩充扫描盒，满足车用线或 PCB车用测试   ‒高压输出安全开关，进行测试时需要将此端口进行短路机台才能输出测试电压 ‒测试运行中若该端口发生开路现象，机台会立即停止测试(停止输出电压) ‒机台画面同步会显示INTER LOCK ‒抗电强度 确保电子材料足以抵抗瞬间高电压的测试 例如：检测制程造成的漏电距离和电气间隙不足的瑕疵产品   ‒漏电流 预防产品发生故障或瑕疵所导致的危害，进行漏电流测试，如确保线材 绝缘层因制程破坏导致线材本身产生超出漏电流规范值的不良情况 ‒绝缘电阻 在某些安全规范下，会先要求做决元电阻，再进行耐压测试，主要检测产 品的绝缘特性是否符合标准范围，测试结果以电阻值Ω表示     关注微信公众号，看产品视频  

实验内容 1、了解 HALL 效应的基本原理； 2、测量 HALL 样品在恒定磁场条件下，霍尔工作电 流与霍尔电压的函数关系； 3、测量 HALL 样品在恒定霍尔工作电流条件下，霍 尔电压与外加磁场的关系； 4、测量变温情况下，温度与霍尔系数，载流子浓度 之间的关系； 5、通过实验得出在不同温度下样品的霍尔系数和载 流子浓度，计算禁带宽

产品介绍 CK-M1超高频RFID读写模块是小型化的UHF RFID 读写器 ，核心部件采用 R2000 为核心平台，R2000是一款高性能高度集成的读写器 IC,集成了模拟射频前端与基带数字信号处理模块等功能。用户只需要在模块的基础上作电源处理即可，可以很方便的通过 API 函数库控制模块工作适合各种应用场景用户开发。  产品特点 支持多种协议：ISO 18000-6C/EPC C1G2 、 ISO 18000-6B、国标GB/T29768-2013(可拓展支持)。 密集读取：端口最大输出33dBm，可根据需要设置功率，可应对非常密集的使用环境，多标签识别算法，行业内最强，每秒可识别超过600张以上。 能够定频或跳频工作。 输出功率可调,调节步进:1dBm。 支持标签数据过滤、支持防碰撞协议、支持多标签识别。 全频段、大功率、灵敏度高、功率准、零配置即可获得最佳性能。 规格参数 主要规格参数 产品型号 CK-M1 性能参数 频率范围 840MHz～960MHz 空口协议 EPC C1G2、ISO18000-6B/C、GB/T29768-2013（可选配） RFID主芯片 Impinj R2000 功能特点 支持密集读写、多标签识别、支持标签数据过滤、支持RSSI：可感知信号强度 通道数 1通道 RF输出功率（端口） 33dbm±1dbm（MAX） 输出功率调节 ±1dbm 前向调制方式 DSB-ASK、PR-ASK 连续读标签距离（读EPC码） 0-10米，连续读100次，读取成功率大于95%（无干扰环境）（8dBi圆极化天线@H3） 连续写标签距离（写EPC码） 0〜4米(与标签芯片性能有关)，连续写100次，写成功率大于90%（8dBi圆极化天线@H3） 标签识别速度 >600次/秒 通讯口 TTL串口 物理接口 15PIN端子 1.25mm间距 读卡功耗 （33dbm）：8W 物理参数 外观尺寸 42*76*8mm 外壳材质 铝型材外壳 安装方式 通过四个螺丝孔固定 电源 工作电压   操作环境 工作温度 -20°C~+70°C 储存温度 -40°C~+85°C 工作湿度 <95% (+25°C)

本项目提出并发展了通用的硅基二维半导体材料范德华外延技术, 实现了多种层状和非层状半导体材料的二维薄膜可控生长，解决了传统外延方法中存在的晶格失配、热失配等多物理失配技术难题，开辟了非层状材料在二维电子器件领域的研究新方向。 一、项目分类 重大科学前沿创新 二、成果简介 基于新材料、新架构的硅基高密度集成信息功能器件的自主发展是国家重大战略需求。本项目围绕新型低维半导体材料的大规模可控制备、物性调控及其电子、光电器件展开系统研究，主要技术创新点有： 一、二维半导体材料及其异质结构的大规模可控制备。本项目提出并发展了通用的硅基二维半导体材料范德华外延技术, 实现了多种层状和非层状半导体材料的二维薄膜可控生长，解决了传统外延方法中存在的晶格失配、热失配等多物理失配技术难题，开辟了非层状材料在二维电子器件领域的研究新方向。在晶圆级二维半导体材料的基础上构建出大规模的二维异质结构，得到了具有高可靠性和稳定性的集成器件。相关成果发表在Science Advances、Advanced Materials等国际知名刊物上，共计40余篇，授权专利16项；与中国电子科技集团公司第十三研究所等合作，成功实现了非层状GaN在大失配硅基衬底上的高质量外延，为第三代半导体的硅基集成提供了新的技术路线。 二、基于低维半导体材料的高灵敏光电器件。本项目通过发展高质量硫族半导体的外延生长新工艺，系统研究了MoTe2、PbS、CdTe等30余种二维半导体材料的光电性质，极大地拓展了传统的半导体光电材料体系；首次提出一种桥接的异质结构筑方式，大大降低了范德华间隙引入的光生载流子注入势垒，获得了高性能二维异质结光电器件；发展了纳米线场效应晶体管器件表面修饰方法，调节晶体管特性为强增强型，利用这种设计，实现了“锁钥”式高选择性、高灵敏度气体检测器件。本项目实现了从深紫外区到中远红外区的宽波段高灵敏度检测，相关成果发表在Science Advances、ACS Nano等国际知名刊物上，共计30余篇，授权专利6项。 三、后摩尔时代新型低维电子信息器件。本项目基于低维半导体材料及其异质结构的物性调控，首次提出了二维半导体材料中的“增强陷阱效应”物理模型，实现了高性能的亚带隙红外探测器和非易失性光电存储器；利用双极性沟道中横向载流子分布的特定电场依赖性，在二维黑磷晶体管中实现了室温负微分电阻特性；通过构筑亚5 nm沟道二维铁电负电容晶体管，使得亚阈值摆幅突破玻尔兹曼物理极限，有效降低了器件能耗；创新性的提出多层二维范德华非对称异质结构，实现了器件高性能与多功能的集成，器件性能为当时最高指标；发展了新型存算一体架构电子器件技术，首次演示了兼具信息存储和处理能力的二维单极性忆阻器，有望突破当前算力瓶颈，提供集成电路发展的新途径。相关成果发表在Nature Electronics、Nature Communications等国际知名刊物上，共计60余篇，授权专利7项。