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一种植被多/高光谱成像装置
一种植被多高光谱成像装置,其特征在于它包括一滤色片壳体、一光学镜头、一成像单元、放置在所述滤色片壳体中的滤色片、一滤色片更换装置、一计算机和一电源其中,所述滤色片壳体、光学镜头和成像单元顺序排列,且各中心同轴所述光学镜头与成像单元固连,且所述成像单元位于所述光学镜头的成像面上所述滤色片更换装置的控制端电连接所述计算机,所述成像单元与计算机进行数据及控制信号通信所述电源为各用电设备供电。
北京大学
2021-02-01
早期椎间盘退行性变的磁共振成像技术
中试阶段/n该项目通过分子及功能性 MRI 技术观察早期 IVDD 的可逆性变化;明确早期 IVDD 可逆性变化的 MRI 表现特征，建立一套临床诊断 IVDD 可逆 性变化的 MRI 技术和诊断标准。通过椎间盘分子及功能性 MRI 技术的建 立，实现椎间盘营养源成像、营养-代谢物运输成像、基质生化状态成像、 基质力学性质成像等；建立一套临床诊断 IVDD 可逆性变化的 MRI 技术和 诊断标准；提供 IVDD 早期临床诊断方法并为治疗疗效评估提供观测手段； 为颈椎 IVDD 及其它骨关节退变的早期
华中科技大学
2021-01-12
一种多角度复合的血流成像系统
本实用新型公开了一种多角度复合的血流成像系统。系统包括OCT光学相干层析装置、OCT扫描装置和多角度独立成像装置。利用本实用新型所涉及的系统能获取多角度复合的血流图像，能提高了动态血流信号与静态组织的运动对比度，降低了系统噪声，提高了信噪比。
浙江大学
2021-04-13
便携式精准红外热成像测温仪研制
北京工业大学
2021-04-14
一种用于弱光信号的扫描成像系统
本发明公开了一种高速弱光扫描成像系统。所述成像系统包括 线扫描模块和光斑整形模块；其中线扫描模块包括线探测器和成像镜 头；光斑整形模块，按照光路方向依次包括扩束单元和缩束单元；准 直光束通过光斑整形模块形成椭圆光斑，用于照明样品；样品产生光 信号，经所述线扫描模块的成像镜头聚焦后，被所述线扫描模块的线 探测器采集成像，样品和所述线探测器 1 相对运动扫描，所述线探测 器的扫描方向与椭圆光斑长轴垂直，椭圆光斑的长轴大于
华中科技大学
2021-04-14
一种红外大景深面阵成像探测芯片
本发明公开了一种红外大景深面阵成像探测芯片，包括面阵红外折射微透镜、面阵非制冷红外探测器和驱控预处理模块。面阵非制冷红外探测器位于面阵红外折射微透镜的焦面处，包括多个阵列分布的子面阵非制冷红外探测器。每个子面阵非制冷红外探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元，面阵红外折射微透镜包括多个阵列分布的单元红外折射微透镜，每单元红外折射微透镜与一个子面阵非制冷红外探测器对应。本发明的红外大景深面阵成像探测芯
华中科技大学
2021-04-14
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最 优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光 学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测 参数的数值。
华中科技大学
2021-04-11
针对光学微腔调控金属纳米颗粒电磁环境的实验
金属纳米结构中的自由电子振荡与外部光场发生耦合，形成局域表面等离激元共振，可以将光场压缩到纳米尺度。利用高品质因子光学微腔来调控金属颗粒的电磁场环境。相比于真空环境，光学微腔调制的电磁环境与等离激元共振模式有更强的耦合，增强了等离激元的辐射输出。高效的输出渠道使得能量不再集中于吸收区域，从而减小其热损耗。相比于真空中的金属颗粒，微腔调制的金属颗粒可以将单原子的辐射效率提升40倍，输出功率提升50倍。
北京大学
2021-04-11
一种气动光学热辐射噪声校正方法与系统
本发明公开了一种气动光学热辐射噪声校正方法，包括以下步·733·骤：首先将退化图像进行预处理得到多尺度退化图像集合；然后，根据上述多尺度退化集合，以上一尺度估计结果作为下一尺度估计初始值来获得最优解的更新迭代过程，完成原始尺度的偏差场估计；最后，根据原始尺度的偏差场估计值对退化图像进行复原，得到气动光学热辐射噪声校正图像。本发明还涉及一种气动光学热辐射噪声校正系统。本发明有效解决了现有方法中存在的校正效
华中科技大学
2021-04-14
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测参数的数值。
华中科技大学
2021-04-14