本发明提出一种基于免基线波长扫描直接吸收光谱的气体浓度测量方法，该方法首先对透射光强信号加上Ｎｕｔｔａｌｌ时窗，其次对加窗的透射光强信号进行数字带通滤波处理，获得谐波处的Ｘ分量，使得吸收部分的信号得到强化而使边缘处接近为零，同时对加窗的透射光强信号进行数字低通滤波处理得到常数项，然后使用得到的常数项对Ｘ分量进行归一化处理，消除光强波动的影响，最后对归一化的Ｘ分量使用拟合算法即可得到待测气体参数值。本发明的测量方法克服了传统直接吸收方法对基线敏感的缺点，同时避免了由于基线拟合误差对结果的影响，尤其适合

本发明公开了一种水体表观光谱二向性自动测量装置及方法，装置包括总控系统、观测几何自动调 整系统、全球定位系统、多角度光学测量系统；总控系统分别通过电缆与观测几何自动调整系统、全球 定位系统、多角度光学测量系统连接，多角度光学测量系统安装在观测几何自动调整系统上；方法包括 安装部署、位置信息输入、实时时间信息输入、太阳方位角计算、观测几何自动调整、多角度光谱采集； 本发明能轻松实现若干个观测方位上的水体表观光谱的自动测量，严格调整观测角度，并行采

首次提出基于Savart偏光镜的图像、光谱、偏振态多维信息一体化获取技术；研制了星载原理样机，开展了模拟星载探测实验

一、先进遥感仪器—成像光谱仪具有自主知识产权；国际上首台 偏振干涉成像光谱仪（机载、星载、地面），参加了 国家“十一五”重大科技成就展。成果：国家 863 项目 2 项；国家自然基金 2 项；获授权发明专利 3 项；发表 SCI 论文 80 余篇；出版专著 1 部。地面样机机载样机星载样机二、先进遥感仪器—偏振成像光谱仪研发成果：首次提出基于 Savart 偏光镜的图像、光谱、偏振态多维信息一体化获取技术；研制了星载原理样机，开展了模拟星载探测实验。成果：获国家 863 计划 1 项；国家自然科学基金 2 项；发表 SCI 论文 20 余篇；获授权发明专 5 项。-- 38 --西安交通大学国家技术转移中心三、偏振成像光谱仪仪器特性：高空间/高光谱分辨率 NISP、短波/中波红外波段 NISP（高科技，具有相机、光谱仪、偏振仪全部功能、具有地理信息导航及时间、气象信息；具备精确定位功能，并与仪器有机结合、适合于农业、工业、环保、军事、民用探测要求。具备鲁棒性、成本低，小型轻量，结构紧凑，结实，易维护、维修，抗振抗冲击，抗高低温，自动控制，可编程，可联网、适合于大力推广。应用领域可用于农

先进遥感仪器—成像光谱仪研发成果：自行研发，具有自主知识产权；国际上首台偏振干涉成像光谱仪（机载、星载、地面），参加了 国家“十一五”重大科技成就展。国家863项目 2 项；国家自然基金 2 项；获授权发明专利 3项；发表SCI论文 80 余篇；出版专著 1 部先进遥感仪器—偏振成像光谱仪研发成果：首次提出 基于Savart偏光镜的图像、光谱、偏振态多维信息一体化获取技术；研制了 星载原理样机，开展了模拟星载探测实验。成果：获国家863计划 1 项；国家自然科学基金 2 项；发表SCI论文20余篇；获授权发明专5项。

技术亮点 ❖ 单轴/双轴测量； ❖ 超宽测量范围：±180°； ❖ 卓越的测量精度，0.01°（全量程）； ❖ 工业级可靠性设计； ❖ 符合严苛工业环境应用要求； ❖ 多种标准输出接口，便于系统集成与扩展。   应用范围 该系列产品特别适用于：建筑结构健康监测（古建筑、历史遗迹、危房等）、工业自动化控制系统以及高精度角度测量应用场景需要长期稳定监测的工业现场。   产品介绍 STS标准输出型倾角传感器是瑞惯科技专注于工业自动化控制领域而研发的产品。该产品采用紧凑型工业设计，配备RS485/RS232标准串行通信接口，集成高性能MEMS倾角传感单元和24位高精度差分A/D转换器，结合五阶数字滤波算法，可实现水平面倾斜角与俯仰角的高精度测量。 凭借其优异的测量精度、可靠的工业级性能和灵活的配置方案，STS标准输出型倾角传感器已成为工业测量领域的高性能解决方案。   性能参数 STS 条件 参数 测量范围 - ±10° ±30° ±60° ±90° ±180° 测量轴   - X Y轴 X Y轴 X Y轴 X Y轴 X轴 分辨率1） - 0.001° 精度 最大绝对误差2） 室温 0.01° 0.01° 0.015° 0.02° 0.02° 均方根值误差3） 室温 0.008° 0.008° 0.008° 0.009° 0.009° 零点温度系数4） -40～85℃ ±0.0005°/℃ 灵敏度温度系数5） -40～85℃ ≤0.01%/℃ 上电启动时间   0.5S 响应频率 20Hz 输出信号 TTL / RS232 / RS485可选 通信协议 串口通讯协议 / MODBUS RTU协议 可选 电磁兼容性 依照EN61000和GBT17626 平均无故障工作时间 ≥99000小时/次 绝缘电阻 ≥100兆欧 抗冲击 100g@11ms、三轴向(半正弦波) 抗振动 10grms、10～1000Hz 防水等级 IP67 电缆线 标配2米M12航空插头带PVC屏蔽电缆线，线重≤120g 重量 ≤150g(不含电缆线) 1) 分辨率：在有效量程内可识别的最小角度变化量，反映其对微小倾角波动的监测能力。 2) 最大绝对误差（MAE）：全量程范围内，对多个标准角度点进行测量，各测量值与实际角度值偏差绝对值的最大值。该参数表征产品在最不利情况下的测量偏差极限。 3) 均方根误差（RMSE）：量程范围内，对固定角度点进行多次重复测量（采样次数≥16次），计算各测量值与实际角度值偏差的均方根值。该参数反映测量结果的重复性与稳定性，是评估系统随机误差的重要指标。 4) 零点温度系数：传感器在零输入状态下，其输出值随温度变化的比率，定义为额定工作温度范围内零点偏移量与常温基准值的比值。   5) 灵敏度温度系数：传感器满量程输出值随温度变化的稳定性指标，表征额定温度范围内灵敏度相对于常温参考值的漂移率。

本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；本发明提 供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正，也适用于所有基于光 谱分析的光信

本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法，方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面，检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收，通过对测量光谱进行谐波分析，计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息，并通过非线性回归，库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数，特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源，透镜组，起偏器和伺服电机驱动的补偿器)，待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器，检偏器，透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件，以及纳米制造中各种纳米结构的在线

本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；

本发明公开了一种基于频域消偏结构的光谱偏振无关测量的装 置与方法，该装置包括泵浦光源模块、消偏模块、SBS 效应发生模块 以及数据采集与光谱重构模块。本发明提出的方法包括：泵浦光源模 块发出偏振态固定的激光；泵浦光源模块输出端的激光通过消偏模块 成为消偏光；将此消偏光作为泵浦光输入到 SBS 效应发生模块与外界 输入到 SBS 效应发生模块的待测信号光发生相互作用；待测信号光经 过 SBS 效应发生模块放大后由数据采