产品详细介绍ZJ-3A/B/J型压电测试仪关键词：压电，d33,极化,压电片   郑重申明：     最近网上有单位冒充我们的压电产品，他们采用盗图，或是盗取技术参数，我们的产品没有授权给任何一家单位，确认产品可以直接拨打电话：15810615463 010-60414386 。 2.为了保护购买者的利益：我们支持货到验收后付款。 性能国内唯一，请勿相信其它任何仿制我们参数相同的产品.    目前我们国家对材料测试越来越重视，很多单位及科研院校对产品甄别出现很大问题，但是真正测试材料需要选择一款精准可靠的测试产品，这样对自己的测试成果及研究会带来很大的作用,对我们的生产带来极大的指导性作用。 ZJ-3A/B/J型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）关键词:压电,陶瓷材料,高分子,d33/d15   一、产品介绍： ZJ-3A/B/J型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器，它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷，小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。此外，也可测量任意取向压电单晶以及某些压电器件的等效压电d’33常数，仪器测量范围宽，分辨率细，可靠性高，操作简单，对试样大小及形状无特殊要求，圆片、圆环、圆管、方块、长条、柱形及半球壳等均可测量，测量结果和极性在三位半数字面板表上直接显示。ZJ-3型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）在原ZJ-2A型压电测试仪的基础上增加了对被测元件的放电保护、放电提示以及被测波形输出等功能，使得仪器在测量未放电（尤其是较大尺寸）的压电元件时具备了高电压放电提示及保护功能，本仪器是从事压电材料及压电元件生产、应用与研究部门的必备仪器。 二、参考标准:GB3389.4-82《压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试》 GB/T3389.5-1995《压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式》 GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式》 GB/T 3389.7-1986《压电陶瓷材料性能测试方法 强场介电性能的测试》 GB/T3389.8-1986《压电陶瓷材料性能测试方法 热释电系数的测试》 三、产品主要功能： ﹡测量压电材料的d33常数 ﹡测量具有大压电常数的压电陶瓷 ﹡测量小压电常数的压电单晶及压电高分子材料  ﹡测量任意取向压电单晶以及某些压电器件的等效压电d’33常数 四、主要技术指标 d33测量范围： ★×1挡：10到2000pC/N， ★×0.1挡： 1到200pC/N， ★误差：×1挡：±2%±1个数字，当d33在100到4000pC/N；★±5%±1个数字，当d33在10到200pC/N；★×0.1挡：±2%±1个数字，(当d33在10到200pC/N)±5%±1个数字，当d33在10到20pC/N。 ★电压保护：独有的放电保护功能               ★分辨率：   ×1挡：1 pC/N；×0.1挡：0.1 pC/N。尺寸：施力装置：Φ110×140mm；仪器本体：240×200×80mm。重量：施力装置：约4公斤；    仪器本体：2公斤。电源：220伏，50赫，20瓦。 五、压电电容测试装置： 频带宽度  DC～7MHz Y偏转系数  10mV/div～5V/div, 分9档 X偏转系数  0.2μS/div～0.1S/div, 分18档 X扩展  ×2 触发源  内、外、电视场 同步方式  自动、触发 有效显示面  6div×10div(1div=0.6cm) 使用电源  AC 220V/50Hz 外形尺寸  240B×100H×300Dmm 重量  3kg 六、压电极化装置：1. 能够同时极化1-4片试样，目前国内唯一2. 安全可靠，温度补偿快、恒温精度高3. 每路当漏电流超过规定值时，都具有切断保护功能，不影响其它样片的极化，其它回路可按正常极化时间完成极化。4. 任意夹持样品尺寸为3-40mm片方型或是圆型试样1、工作电源：AC220V  50/60HZ2、额定功率：2.0kw3、压电材料极化或耐压测试：DC：0-10KV（±5％+2个字）连续可调4、总电流：10mA5、每路切断电流：0.5mA6、定时：1-99min±5％任意设定7、加热元件 ：优质电阻丝8、1次测试试样数量:可加载1-4片试样9、额定温度 ：≤180℃10、最高温度 ：200℃11、控温方式 ：智能化恒温控制（进口表）12、样片 ：样品尺寸为3-40mm片方型或是圆型试样13、外形尺寸 ： 宽872高466深360（mm)  

产品详细介绍概述CLY-45型磁场线性霍尔传感器采用：高档豪华金属机箱、名牌镀金接插件、硅霍薄型探头等优质元器件，通过优化设计，抛弃了传统的琴键开关，而选用轻触薄膜开关，设计更专业，品质更高、操作更方便。CLY-45型磁场线性霍尔传感器具有：结构合理、整机性能稳定、性价比高、操作方便、外型美观等特点，是实验室、生产线上磁性测量的首选仪器。CLY-45型磁场线性霍尔传感器是一种高精度的磁性测量仪器，仪器带模拟端口输出，具有峰值测量、量程宽等特点，可作为二次仪表使用。CLY-45型磁场线性霍尔传感器主要用于测量磁场强度，如磁体表面磁场、永磁电机磁场、电磁铁产生的磁场、喇叭漏磁场等，以及一些特殊测量磁场的场合，如电磁铁磁场、磁体表面场的最大值等。CLY-45型磁场线性霍尔传感器能测0—2T范围内的直流（恒磁）及低频交变磁场的磁场强度。CLY-45 输出线性电压值的线性霍尔传感器的测量磁场大小在±1T, 线性电压（正比于磁场）输出。可测量磁场-2T---2T，线性电压输出，精度1%。测量磁场时带有正负指示方向，输出为带有信号为正负信号，表示磁场的正反向，供电电源AC220V,50Hz，三位半数字LED 显示。量程两档： -200 ～ 200mT,-2 ～ 2T ，线性电压输出-5-5V，最大分辨率0.1mV ，测量DC 磁场。分辨率高、性能稳定、可靠美观。 是测量磁场，测量磁体表面磁场、永磁电机磁瓦 、电磁铁磁场等的理想仪器。 订制配套霍尔传感器尺寸30CM及可夹持部分尺寸15CM，订制非磁性可调节探头支架。技术指标：型号CLY-45型磁场线性霍尔传感器供电电源AC 220V，50Hz显示方式三位半数字显示读数单位mT，T量程0～200mT，0～2T最大分辨率0.1mTDC-AC-FLUX测AC/DC磁场测量范围0～2T精度（直流）1%AC响应频率200HzAC测量值平均值特点采用豪华机箱，薄膜按键、性能稳定，设计更合理，测量精度高，操作简便。用途测量磁场，如脉冲磁场、测量磁体表面磁场、永磁电机磁瓦 、电磁铁磁场、喇叭漏磁、充磁机磁场等，适用场合广泛。

本发明涉及一株恶臭假单胞菌RXX‑01，分类名为Pseudomonas putida，已保藏于中国微生物菌种保藏管理委员会普通微生物中心(CGMCC)，地址为北京市朝阳区北辰西路1号院3号，保藏日期为2016年11月1日，保藏编号为CGMCC No.13224。本发明提供的恶臭假单胞菌RXX‑01对土壤DBP和DEHP复合污染具有高效的降解效果，在邻苯二甲酸酯污染土壤修复领域具

本发明公开了一种基于掺杂型 NiO 空穴传输层的反式平面结构 钙钛矿太阳能结构及其制备方法。属于新材料太阳能电池领域，现有 技术中钙钛矿太阳能电池存在电池稳定性差、光电转换性能差等问题， 本发明提供了一种基于掺杂型 NiO 空穴传输层的反式平面结构钙钛矿 太阳能电池，其包括在导电基底上沉积一层掺杂一定浓度的 Mg、Li 等杂原子的 NiO 致密层，作为空穴传输层，接着制备一层钙钛矿薄膜 (APbX3，A＝CH3NH3

该研究团队在黄土高原雨养农业区创新性地采用隔沟覆膜和免耕相结合的方法，增加雨水入渗的同时从时间和空间尺度实现地膜减量1/3至1/2。

退耕还林是修复退化生态系统的有效方法，但往往会消耗深层土壤水分，造成深层土壤干化，这一现象在干旱半干旱区更为明显。目前，尚不清楚造林引起的深层土壤干化如何影响土壤微生物群落和功能，限制了对旱地恢复生态系统可持续性的认识。

针对金属矿山应力测量和声波探测中存在的关键技术问题开展研发，主要技术内容如下：（1）在工程实际中应用了岩石声发射测量地应力波形识别新技术；（2）研发出光弹性应力监测图像识别技术及数据分析方法及设备；（3）研发出岩体结构稳定性的声波探测技术。为我国金属矿山普遍存在的采矿回收率低、地压控制难度大等相关技术难题的解决，提供了有力的技术手段。该成果获江西省科技进步二等奖 1 项，已在国内 4 家矿山企业应用，实现产值 5.45 亿元。 

面结构光三维测量技术是近几年飞速发展的光学三维测量技术，是基于条纹投影的物体三维面形重建技术。它利用物体面形对标准正弦条纹图的相位调制并对图像进行相位解调实现物体三维检测。该系统包括高质量面结构光投影模块、低失真图像采集模块及快速的数据处理算法。该测量系统中，标定准确的相位与空间三维坐标的关系是该三维测量技术至关重要的步骤。由于面结构光三维测量技术具有速度快、非接触、精度高等优点逐步受到人们的重视，它被认为是目前最有前途、最有发展潜力的三维测量技术。 一、主要功能和应用领域 该面结构光三维测量系统结合特定的标定技术，确定各个系统参数，建立相位与空间三维坐标的数学关系，改善系统的精确度及灵和性。该测量系统适用于工业制造、产品检测、模具设计、逆向工程、生物医学、文物保护、机器视觉等领域，具有广阔的应用前景。 二、特色及先进性 1、系统结构任意摆放 该任意摆放面结构光三维测量系统的组成部件在空间位置相对任意，易于在实地测量中使用。它在几何结构、光路等方面没有严格的平行性、垂直性要求，仅需要图像采集系统的视场被投影系统的视场所覆盖。 2、标定技术经济实惠且使用灵活 系统标定的过程中，仅需一种打印的棋盘格作为标定板，相比于制作困难且成本高昂3D标准件，该技术成本低，具有极高的实用性。同时，标定板的位置可以随机、任意放于测量视场中的任何一个空间位置，相比于现行的标定技术，具有极大的灵活性。 3、高分辨率 基于任意摆放面结构光三维测量系统，避免现行测量方法中因系统设置不准而造成的测量误差；考虑镜头引起的畸变现象，对每个像素点标定，降低畸变对测量结果的不良影响；采用最小二乘拟合算法，对多组数据拟合，保证相位与空间三维坐标关系的准确性。 4、测量系统技术指标 物体面形三维测量对测量仪器的分辨率、稳定性有较高要求，且部分算法复杂，所设计的系统采用联机方式。系统主要技术指标：测量范围：200mm×300mm×200mm，且连续可调；横向分辨率：可达0.06mm(主要受相机分辨率的限制，本系统采用AVT-GT1660C相机)；纵向分辨率：可达0.02mm 四、能为产业解决的关键问题和实施后可取得的效果 1、基于任意摆放面结构光三维测量系统，解决传统系统设置难度大、对测量环境稳定要求高的困难。 2、标定技术可适用于任何面结构光三维测量系统，解决了现行标定技术使用范围较窄的问题。 3、该测量系统和标定技术具有高分辨率且经济实用，极大提高面结构光三维测量技术测量精度，拓展了面结构光三维测量技术的应用领域。

本发明公开了一种非接触式金属互连线电迁移测量方法，具体为：使用平行光照射标定用金属互联线，同时采用四探针检测标定用金属互联线的电阻；建立四探针检测到的标定用金属互联线的电阻与标定用金属互联线的表面反射光强的对应关系；使用平行光照射待测金属互联线；实时检测待测金属互联线表面反射光的强度；依据建立的电阻与反射光强的对应关系获取待测金属互联线在某反射光强下对应的电阻值。本发明还提供了测量装置，主要包括四探针、平行光光源、光学显微镜和计算机。本发明不接触试样的情况下对试样上的较大范围金属互连线电迁移同时进行实时检测，与普通的四探针检测方法相比，检测范围更大，时间更快、成本更低。