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一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；
华中科技大学
2021-04-14
基于快速二值编码的高分辨率遥感影像场景分类方法
本发明提供了一种基于快速二值编码的高分辨率遥感影像场景分类方法，包括步骤:步骤 1，划分 待分类遥感影像获得场景单元;步骤 2，从场景单元中提取尺寸相同的图像块作为局部图像块训练样本; 步骤 3，采用非监督学习法学习局部图像块训练样本获得滤波器组;步骤 4，将场景单元与滤波器组中 各滤波器分别做卷积获得各场景单元的幅滤波器响应图，采用二值编码法分别融合各场景单元的幅滤波 器响应图获得各场景单元的全局特征描述;步骤 5，基于场景单元的全局特征描述进行场景单元分类。 本发明在保证场景分类精度的前提下，大大降低了非监学习法的计算代价。
武汉大学
2021-04-13
MV- 1300UC-MINI高分辨率工业数字摄像头
产品详细介绍
维视数字图像（北京）有限公司
2021-08-23
高视角分辨率的360°视场三维显示装置和显示方法
本发明公开了高视角分辨率的360°视场三维显示装置，包括：LED光源、照明光学系统、空间光调制器、投影光学系统、组合式定向散射屏、转动装置、图像存储控制模块、转动检测模块和光源脉冲驱动控制模块。本发明还公开了实现高视角分辨率的360°视场三维显示方法。本发明通过光源脉冲驱动控制模块对LED光源进行脉冲点亮的方式与组合式定向散射屏的旋转相配合，利用了每个定向散射子屏散射方向的微小偏差实现高密度的视角扫描，实现了具有高视角分辨率的360°视场三维显示，提高了三维显示图像的质量，更加符合人眼自然观察的习惯。
浙江大学
2021-04-11
一种空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法
本发明公开了一种空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法。所述空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法，首先对第 n 时刻和第 n+1 时刻的图像进行降噪处理，然后根据第 n 时刻的查询窗口参数更新第 n+1 时刻的查询窗口参数,最后根据第 n+1 时刻的查询窗口参数，对第 n 时刻和第 n+1 时刻图像进行 PIV 流场矢量估计，得到全场速度矢量，其中查询窗口参数由人工指定。本发明提供的空间分辨率自适应调整的粒子图像测量方法突破了传统的粒子图像测速方法单向计算的计算模式，能自动适应流畅
华中科技大学
2021-04-14
一种空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法
本发明公开了一种空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量 估计方法。所述空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法， 首先对第 n 时刻和第 n+1 时刻的图像进行降噪处理，然后根据第 n 时 刻的查询窗口参数更新第n+1时刻的查询窗口参数,最后根据第n+1时 刻的查询窗口参数，对第 n 时刻和第 n+1 时刻图像进行 PIV 流场矢量 估计，得到全场速度矢量，其中查询窗口参数由人工指定。本发明提 供的空间分辨率自适应调整的粒子图像测量方法突破了传统的粒子图 像测速方法单向计算的计算模式，能自动适
华中科技大学
2021-04-14
一种提高微型光谱仪紫外响应和分辨率的滤光片
本实用新型提供一种提高微型光谱仪紫外响应和分辨率的滤光片，包括基板、镀膜层和镀膜保护层， 所述镀膜层分为三个区域，在不同区域分别镀有紫外转换膜，紫外截止滤光膜，可见光截止滤光膜。本 实用新型同时解决了紫外效率低、可见光、红外光波段存在高次衍射光的问题，并且可以根据光谱仪的 光谱范围选择镀膜的层数、类型、区间长度，具有安装拆卸方便，结构简单，使用灵活的特点，且镀膜 之间不会相互产生干涉。
武汉大学
2021-04-13
区域大气污染源高分辨率排放清单关键技术与应用
北京工业大学
2021-04-14
一种时间分辨率自适应调整的流场状态测量方法
本发明公开了一种时间分辨率自适应调整的流场状态测量方法，该方法包括如下步骤：首先，根据第 k+1 时刻图像与第 k 时刻图像之间的时间间隔Δt<sub>k</sub>，采集第 k+1 时刻图像，并对第 k 时刻和第k+1 时刻的图像进行降噪处理；然后，据 k 时刻图像和第 k+1 时刻的图像，采用粒子图像测速方法，计算第 k+1 时刻的流场状态 X(k+1)，包括：位移场 x(k+1)、速度场 x′(k+1)、加速度场 a(k+1)，并输出显示；最后，更新第 k+2 时刻与第
华中科技大学
2021-04-14
可变温霍尔效应测试仪高低温磁场型0.1GS分辨率
霍尔效应测试仪—高低温磁场型本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。为本仪器系统专门研制的JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。
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产品概述：
本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。为本仪器系统专门研制的JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。JH10 可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必*的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier oncentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等。
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可测试材料: Ø
半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等；
低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等；
高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等。
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北京锦正茂科技有限公司
2022-05-10