产品详细介绍  AAF-1000系统可对显微镜Z轴进行高分辨率控制、高精度重复定位，自动搜寻图像焦平面。主机采用日本进口直流步进伺服电机，通过图像信号的反馈，自动搜寻清晰的焦平面，实现自动聚焦。配合外部键盘控制，在转换不同倍率的物镜或者更换样品后，您只需轻点按键，清晰画面即可呈现。图像可通过监视器屏幕或者投影机大屏幕实时显现。适用于会议演示、教育教学、医学科研、自动化操作及特殊环境用途。   简易的安装设计，可以快速的与任何复式光学显微镜进行衔接，形成一个整体。安装Z轴控制器，不需要对显微镜进行任何破坏和改造，拆卸时亦无须专业工具，没有复杂的连线，瞬间恢复显微镜原貌。是真正意义上的即插即用。无论您的显微镜是正置的还是倒置的光学系统，安装都同样简便，不需要改变安装方向和位置，因为内置的步进电机及控制系统是一个智能的反馈系统，可以自动辨别运行方向。   AAF-1000系统可以安装在各种显微镜上使用，所搭载的CCD摄像系统具有标准的镜筒接口，无论是单目显微镜、示教显微镜、双目显微镜还是三目显微镜，都可以立即配合起来使用。通过AV接口与监视器或者投影机相连，传送实时的画面。

实验原理 AFM是SPM家族中应用领域最为广泛的表面观察与研究工具之一。其工作原理基于原子之间的相互作用力。当一根十分尖锐的微探针在纵向充分逼近样品表面至数纳米甚至更小间距时，微探针尖端的原子和样品表面的原子之间将产生相互作用的原子力。原子力的大小与间距之间存在一定的曲线关系。在间距较大的起始阶段，原子力表现为引力，随着间距的进一步减小，由于价电子云的相互重叠和两个原子核的电荷间的相互作用，原子力又转而表现为排斥力。这种排斥力随着间距的缩短而急剧增大。AFM正是利用原子力与间距之间的这些关系，通过检测原子间的作用力而获得样品表面的微观形貌的。   仪器概述 AFM采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器──微探针。微悬臂一端固定，另一端置有一与微悬臂平面垂直的金字塔状微针尖。当针尖与样品之间的距离逼近到一定程度时，两者间将产生相互作用的原子力，其中切向力（摩擦力）Ft使微悬臂扭曲，法向（纵向）力Fn将推动微悬臂偏转。我们所关心的主要是纵向力Fn，它与针尖──样品间距成一定的对应关系，即与样品表面的起伏具有对应关系。微悬臂的偏转量十分微小，无法进行直接检测，采用光学方法将偏转量放大，可推知微悬臂偏转量（即原子力）的大小，最终获得样品表面的微观形貌。   仪器特点 特有的卧式探头 卧式AFM探头设计，使原子力作用方向与重力方向垂直而互不干扰；降低了探头的整体重心；克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动；具有独特的卧式可视化光路。探头及仪器性能更加稳定和优越。   稳定的三轴压电扫描器 采用互相正交的三轴压电陶瓷扫描控制器，X、Y、Z三轴压电陶瓷之间互不耦合，可保证扫描图像不因耦合而失真；扫描器具有更好的扫描线性和独立性、更高的强度和刚度，兼具更强的扫描驱动力，能同时适用于较小与较大、较轻与较重样品的扫描成像。   优化的检测与控制系统 采用优化的微纳米扫描与反馈控制电路系统，配以多路高精度A/D&D/A控制接口，可获得更高的扫描分辨率、更好的重复性和更佳的图像质量。   完善的软件界面与功能 功能强大、界面友好，可适用于Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系统。一般操作者均可轻松而熟练地掌握，只需点击鼠标，即可完成从图像扫描到图像处理及数据信息计算的全部操作。可用鼠标任意选择局部扫描区域，实现图像平移、定位和缩放；可设定扫描次数并自动控制扫描停止；具有实现X、Y方向的面扫描和线扫描的功能；可获得样品表面的纳米级三维形貌结构和截面线；高质量的彩色/黑白平面图像显示与三维立体图像显示；具有图像的二维和三维纳米标尺标注功能及粒径测量功能；具备纳米级表面微观粗糙度的统计及计算功能；可精确测定样品表面的微纳米级台阶高度和深度；完善的图像处理功能，包括裁剪、粘贴、旋转、对比调节、亮度调节、颜色调整、背景色调整、图像平滑、滤波等。   简单便捷的仪器操作 AFM的操作十分简单和便捷，一般操作人员即可完成，无需专人操作和维护。安装探针、安装样品、粗调和微调进样、图像扫描、图像存储等操作，均可在1分钟内完成。特别适用于科学研究、教学实验及产品检测。   高稳定性与抗干扰能力 AFM既可在良好的实验条件下完美工作，也可在有一般实验室、普通桌面、有轻微振动、有环境干扰、有光照等条件下正常运作，快速扫描观察各种微纳米样品，获得理想的图像和微纳米结构信息。具备更好的稳定性和抗震性，更强的抗（光、电、磁等）干扰能力，更快的扫描速度（最快1幅图像/1~6秒，作为对比，进口仪器的扫描速率一般为1幅图像/10~20分钟甚至更慢）。   高适用性广泛应用领域 可同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。对被测材料样品无特殊要求，免去繁琐的样品制备过程，可直接扫描获得微纳米结构信息。   实验内容与典型实验数据 部分扫描测试样品的AFM图像   部件列表 描述 数量 原子力显微镜探头 1 控制机箱 1 直流高压电源 1 A/D&D/A控制接口卡 1 AFM微探针 15组60 tips USB光学显微镜 1 一体机, 含AFM扫描控制软件 1 样品 5 剪刀、镊子、启子、放大镜等工具 1

产品详细介绍德国莱卡DM1000、DM2000、DM3000正置生物显微镜◆ LEICA DM1000 DM2000 DM2500 DM3000系列显微镜可满足不同的应用：◇ LEICA DM1000 满足所有用于人性化要求的使用和光学清晰度的要求，并且用于临床实验室应用方面最为理想。◇ LEICA DM2000 带有一个精密的聚焦机械装置，有5中聚焦功能，可选择2齿轮或3齿轮调焦、扭矩调节以及调节载物台告诉限位。◇ LEICA DM2500 具有大功率的100W照明灯，特别适合于需要用到例如微分干涉相衬（DIC）等观察方法。◇ LEICA DM3000 智能化操作大大提高医疗诊断的工作效率。是针对临床以及所有其它生物医学常规应用和研究而设计的。◇ 所有这四种型号都可装备荧光。◆ DM1000、DM2000、DM2500、DM3000共同主要特点：◇ 高度可调的聚焦旋钮：  ◇ 可调式镜筒 leicaDM系列提供了各色各样的观察筒。观察时选择一个带有符合人机工效的15°观察角度的新镜筒或用于放松的头部位置的可调式Vario镜筒。可以防止颈部和背部肌肉劳损，有助于肩部和下颈部肌肉的放松，即使是超长时间工作也不会累。   ◇ 聚焦旋钮和载物台旋钮在同一高度上且与操作者的距离相同，实现对称操作。◇ 超硬台面。采用全新的陶瓷材料制成，比以往任何材料都坚固、耐磨。◇ 带色彩标记的光阑设置 方便快速识别和调整。聚光镜上的有效的光阑刻度标有色标记号，这些记号与物镜的标准颜色代码相对应，这使得用户一眼就能找出最匹配当前物镜的光阑位置。  ◇ 平场HI PLAN物镜有利于改进平场和色差校正。HI PLAN 10X 物镜非常适合诸如细胞学等方面的临床应用，而且有着12.1mm的长工作距离，可以用在10X物镜下进行标记。◇ 同步亮度物镜 有着4X 、10X 、40X 放大倍数的新HI PLAN SL （同步光）物镜系列非常赏心悦目。这些物镜可以在通一光强下工作，以便不管选择何种放大倍率，亮度保持不变。这样就无需在改变物镜时反复调整亮度，同时颜色效果保持最佳。◇ HI PLAN CY 专门物镜 专门的HI LAN CY10X/0.25 物镜有着优秀的区域整平和色彩校正，同时为临床提供了12mm的长工作距离。其同样具有SL（同步光）型号。◇ 宏观物镜 1.25X 放大倍率物镜。◇ 具有“零像素漂移”的全新荧光轴 确保在转换滤光块时图像不发生移位，方便准确地重叠图像。提供5个滤光块位置，用户可以在他们之间快速转换。◆ LEICA DM3000 自动显微镜特有功能：◇ 智能化、创新性的新型自动显微镜LEICA DM3000。 凭借其独一无二的toggle模式和自动聚光器，LEICA DM3000 操作速度更快且准确，同时在所有生物医学常规应用和研究领域中具有更高的安全可靠性。◇ DM3000自动显微镜电动物镜转盘让你仅在半秒内即可改变物镜放大倍率。眼睛无需离开物镜，双手保持原位即可通过触摸按钮实现物镜的转换。◇ 转盘由位于聚焦旋钮后不远处的两个按钮控制。你可将6个物镜中的任意两个设置成通过这两个按钮实现反复更换放大倍数的目的（即toggle模式）。显微镜前端的6个按钮分别控制6相应的物镜。   ◇ 自动聚光镜顶镜： LEICA DM3000 的聚光镜顶镜（辅助聚光镜）可根据物镜的倍率自动旋出和旋入。◇ 自动调节最佳光强度： LEICA DM3000可根据不同的物镜自动调节最佳光强度，以减少变换物镜必须调节光的亮度的麻烦。及减少操作者的眼睛疲劳。  

原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。

项目简介 原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。a 传统的商业CAFM 针尖图  b 覆盖有石墨烯层的CAFM 针尖应用范围原子力显微镜(AFM) 在许多基础研究领域中得到广泛使用，是超微观察工具，特别是对于不具有导电性的生物样品和有机材料等，AFM 同样可以提供较高分辨率的表面形貌图像。同时，AFM 还具有操纵和改造原子、分子世界的手段。原子力显微镜为了避免加宽效应，一般通过电子束加工针尖使其曲率半径达到几个纳米，来提高图像的分辨率和准确度。但仍然存在着一些局限性，例如：针尖性质的变化很大，获得高分辨率的图像变得很难。另外，针尖扫描时的磨损对分辨率也有影响。AFM 能获得原子分辨率，主要是因为在其针尖的表面存在着原子级的突起，构成了与样品的实际接触。但是这些突起的尺寸形状和化学组成是未知的，而且在实验中经常发生改变，因此获得可信赖的针尖是成像过程中获得高分辨率的关键。不同的针尖适用于AFM 不同的应用领域。导电原子力显微镜（CAFM）采用固体金属作AFM 的针尖，对材料进行纳米尺度的电学表征依然存在着同样的困扰。 项目阶段北京大学工学院研究团队利用单层石墨烯包覆CAFM 金属针尖，发现石墨烯包覆的针尖保留了包覆前针尖的形状，并且包覆的针尖能承受非常高的电流和摩擦力。新型针尖具有稳定、耐磨、寿命长、图像失真度低等优点，很好的解决了现有AFM 针尖中存在的问题，提高了AFM 的仪器性能。知识产权该项研究已经申请了欧洲专利，纳米技术设备领域的诸多公司表现出了对该项研究成果的强烈兴趣。合作方式 技术转让、合作开发、技术入股。

该显微镜主要用于果酱等食品内的霉菌监测领域，严格按照联合国粮农组织和联合国卫生组织有关霉菌检测的Howard标准设计。采用了数字图像测量技术，避免了传统目测带来的视觉疲劳和误差。可有效提高霉菌检测的精度和可靠性。 主要特点包括： 1.自动生成Howard网格，降低制造、安装成本。 2.通过USB2.0接口与计算机连接，在Windows环境中即插即用。3.实现霉菌图像的采集，存储，自动测量与报表生成。便于检测部门进行计算机信息管理。

成果创新点 荧光显微镜是记录动物脑内神经细胞活动的装置，而 微型化到数克可实现动物在运动时可背负装置。该装置是 解析动物脑内神经元活动如何编码行为和外界感知信息等 大脑工作原理。1.装置的无线化，实现大型动物清醒自由 移动状态下的脑活动成像，客服目前有线的产品只能用于 小鼠成像的局限；2.自动的动物手术装置；3.图像数据的 无源传送。 技术成熟度 关键技术研发阶段，有线微型荧

荧光显微镜是记录动物脑内神经细胞活动的装置，而微型化到数克可实现动物在运动时可背负装置。该装置是解析动物脑内神经元活动如何编码行为和外界感知信息等大脑工作原理。 1.装置的无线化，实现大型动物清醒自由移动状态下的脑活动成像，客服目前有线的产品只能用于小鼠成像的局限； 2.自动的动物手术装置； 3.图像数据的无源传送。 

产品详细介绍JFDFDC-N/C适用相机：NIKON 、CANON  APS-C画幅相机 JFDFDC-N/C-Q系列 2.5X延迟镜用于全画幅单反数码相机。