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造纸废水近零排放膜集成工艺
造纸工业在我国国民经济中占有重要地位，但属于高物耗、高能耗的污染大户，废水排放量占全国工业废水排放量的17%以上。实现废水综合治理，减少尾水排放量，已成为造纸行业发展迫切。本项目技术采用膜集成技术实现了造纸尾水的净化处理，实现了水的分级回用，项目已经建成万吨级工程2项，经济效益好。
专利情况：在申请3项；已授权3项，
成熟度：量产
合作方式：技术入股、技术转让、技术服务
创新要点：
1）高效预处理技术实现尾水杂质深度净化；
2）双膜法尾水的脱盐和降COD技术；
3）低成本浓盐水处理技术。
技术指标：水回收率可以实现95%，85%和75%等不同工艺，经济性好。其中，回用95%时，水处理成本低于5元/吨水。本工艺已建成了4万吨/年和1万吨/年等应用示范工程。
南京工业大学
2021-01-12
复杂型面轴类零精密塑性成形工艺
采用塑性成形工艺成形具有复杂特征的轴类零件（如螺纹、花键、蜗杆、丝杠），相比于传统的切削加工工艺，零件精度高、机械性能好、生产率高、材料利用率高，是一种高效精确体积成形技术。根据不同零件特征发展一系类新工艺：将中高频感应加热同螺纹、花键滚压成形相结合，解决了高强度钢螺纹、花键滚压成形问题；复合振动的复杂齿形滚轧、挤压工艺有效改善了成形零件质量；提出了螺纹齿高大、变形量大的长螺纹（丝杠）零件塑性成形方法；发展可锻轧一体化蜗杆的精密塑性成形工艺等。为之配套的工装、伺服直驱设备体系与相关技术完备。
西安交通大学
2021-04-11
供应威创大屏滤网；威创VPL-003Y背投大屏灯泡
产品详细介绍供应威创大屏滤网；威创VPL-003Y背投大屏灯泡
威创VPL-003Y背投灯泡；VPL-003Y威创大屏灯泡
型号：威创VPL-003Y
编号：VPL-003Y
类型：UHP
瓦数：100W/120W
寿命：6000H
价格：1700
产地：比利时
包装：原封包
品牌：Philips飞利浦
我公司常年供应威创vtron背投灯泡；威创vtron DLP大屏灯泡；原装正货，一级代理，价格公道；
威创vtron背投大屏幕拼接显示屏/墙维护、DLP背投显示墙维修保养服务，承接年保服务，价格优惠、由
厂家授权专业工程师上门服务，专人负责。欢迎来电咨询。
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三菱、GQY、东芝、科视控制室大屏维护/科视背投大屏维修/科视DLP视频监控显示墙维护其它大屏维护保养、维修服务，欢迎来电咨询。
北京智诚普华大屏幕背投维护运营部
联系人：史先生 13718365685
销售电话:+86-10-51653823 Ext 16
巴可大屏背投技术支持与售后服务- TEL:+86-10-5165 3823
北京智诚科技发展中心
2021-08-23
大型回转类工件内壁尺寸的现场测量装置、系统及方法
本发明公开了一种大型回转类工件内壁尺寸的测量装置，包括 底座，用于支撑装置其它部件；安装架，用于将装置安装于待测工件 上；回转机构，安装于底座与安装架之间，用于带动激光位移传感器 在水平面上回转；纵向移动机构，用于调整激光位移传感器在竖直方 向的位置；横向移动机构，用于在水平方向上调整激光位移传感器相 对工件测点的距离；调平机构，用于调节激光位移传感器的姿态使其 发出的激光束水平入射工件测点；激光位移传感器，用于测量工件测点到传感器的距离。本发明还提供了基于该测量装置的测量系统和方 法。本发明利用激光三角测量原理确定测点的空间坐标，测量精度高； 能够自动调整测量位置，适用于各种大型回转壳体类零件的现场测量。
华中科技大学
2021-04-11
一种用于提取半导体纳米结构特征尺寸的方法
本发明公开了一种用于提取半导体纳米结构特征尺寸的方法，包括待提取参数取值范围的划分，子光谱数据库的建立，支持向量机分类器训练光谱的生成，支持向量机分类器的生成、测量光谱的映射和在子光谱数据库中进行的最相似光谱搜索。与现有方法相比，本发明方法通过额外增加一个可以离线进行的支持向量机分类器训练环节，实现了将测量光谱映射到一个小范围的子数据库中。与在整个大数据库中进行最相似光谱检索相比，在子数据库中展开的检索所消耗的时间大大减少。并且，通过增加每个分类器中包含的类数，可以得到更小的子数据库，从而进一步加速参数的提取。该方法实现了参数的提取速度可预期与可控。
华中科技大学
2021-04-11
一种控制 PbS 或 PbSe 量子点尺寸分布的方法
本发明公开了一种控制 PbS 或 PbSe 量子点尺寸分布的方法，其 步骤包括：(1)首先在铅的前驱物中注入较大尺寸的 CdSe(或者 CdS)量 子点，此时通过阳离子交换反应得到了较大尺寸 PbSe(或者 PbS)量子 点，(2)然后继续注入较小尺寸 CdSe(或者 CdS)量子点，这时通过阳离 子交换反应会得到较小尺寸 PbSe(或者 PbS)量子点，(3)然后在奥斯特 瓦尔德熟化效应的作用下， PbSe(或者 PbS)量子点的尺寸分布会越来越 窄，从而控制了 PbSe(或者 PbS)量子点的尺
华中科技大学
2021-04-14
一种控制 PbS 或 PbSe 量子点尺寸分布的方法
本发明公开了一种控制 PbS 或 PbSe 量子点尺寸分布的方法，其 步骤包括：(1)首先在铅的前驱物中注入较大尺寸的 CdSe(或者 CdS)量 子点，此时通过阳离子交换反应得到了较大尺寸 PbSe(或者 PbS)量子 点，(2)然后继续注入较小尺寸 CdSe(或者 CdS)量子点，这时通过阳离 子交换反应会得到较小尺寸 PbSe(或者 PbS)量子点，(3)然后在奥斯特 瓦尔德熟化效应的作用下，PbSe(或者 PbS)量子点的
华中科技大学
2021-04-14
一种公路车辆尺寸与重量自动测量系统及方法
本发明涉及一种公路车辆尺寸与重量自动测量系统及方法，尤其是动态快速测量车辆长、宽、高、 重量的一体化系统及方法。能够有效解决目前超限检测工作中存在的问题。该系统使用前后龙门架的方 式测量车辆的尺寸信息，其中在前龙门架上使用两个二维激光雷达组合测量单个车道上的车辆的宽高信 息，能够有效的避免因车辆变形带来的测量难题;在后龙门架上使用单个激光雷达间接测量单个车道上 车辆的长度信息。利用前龙门架上的激光雷达分离车辆为轴式称重衡提供单个车辆的起止信息。该系统 具有测量速度快、精度高等优点，并且不影响车辆的正
武汉大学
2021-04-14
大型回转类工件内壁尺寸的现场测量装置、系统及方法
本发明公开了一种大型回转类工件内壁尺寸的测量装置，包括底座，用于支撑装置其它部件；安装架，用于将装置安装于待测工件上；回转机构，安装于底座与安装架之间，用于带动激光位移传感器在水平面上回转；纵向移动机构，用于调整激光位移传感器在竖直方向的位置；横向移动机构，用于在水平方向上调整激光位移传感器相对工件测点的距离；调平机构，用于调节激光位移传感器的姿态使其发出的激光束水平入射工件测点；激光位移传感器，用于测量工件测点到传感器的距离。本发明还提供了基于该测量装置的测量系统和方法。本发明利用激光三角测量原理
华中科技大学
2021-04-14
一种纳米级尺寸结构测量方法及装置
本发明公开了一种纳米级尺寸结构测量方法及装置，可以同时测量纳米级尺寸结构宽度、深度、侧墙角等参数。本发明方法步骤如下：将白光光束经滤光、起偏后垂直投射到包含纳米级尺寸结构的样件表面；采集样件表面反射信号，计算得到纳米级尺寸结构显微成像图；将测量离焦扫描成像分布图与理论离焦扫描成像分布图进行匹配，提取得到待测纳米级尺寸结构的几何参数值。本发明所提供的纳米级尺寸结构测量装置，能为纳米制造技术如传统光刻和纳米压印等基于图形转移的批量化制造技术中所涉及的各种典型纳米级尺寸结构，如孤立线条阵列结构、密集型线条
华中科技大学
2021-04-14