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一种基于 MapReduce 的负载自适应任务调度方法
本发明公开了一种基于 MapReduce 的负载自适应的任务调度方 法，包括：(1)动态监测 Hadoop 集群负载状态，(2)动态监测集群各执 行节点在执行任务过程中产生的软件信息，(3)动态监测集群各执行节 ·841·点在执行任务过程中的硬件信息，(4)汇总步骤(1)、步骤(2)及步骤(3) 中采集的集群各执行节点的负载监控信息、软件监控信息以及硬件监 控信息三方监控信息，建模计算集群各执行节点的计算能力，(5)执行
华中科技大学
2021-04-14
一种高效的多路激光探针分析系统与方法
本发明公开了一种多路激光探针检测系统与方法。该检测系统 可将激光光源分成多路通过光纤分别传送至多个待测点，激发产生激 光等离子体后，将相应的光谱信号传回检测系统，最终实现一台激光 探针仪的多点同时在线检测，使用光纤传输激光和光谱信号，不仅可 以提高恶劣环境中激光探针的抗干扰能力，而且还可以大幅降低激光 探针仪的应用成本。该发明特别适用于包含多条生产线的大型工业过 程，具备对生产线上的产品的多种元素同时进行在线监测的能
华中科技大学
2021-04-14
一种基于广度优先遍历的图处理优化方法
本发明公开了一种基于广度优先遍历(BFS,Breadth-First-Search) 的图处理优化方法,属于计算机存储及数据处理技术领域，解决现有基 于外部存储器的大规模图处理系统在访问图数据时产生大量外存 I/O， 严重影响文件缓存命中率，削弱 I/O 性能的问题，从而提高图处理系 统的效率。本发明在不改变图处理模型和用户操作复杂度的前提下， 以充分利用外存储设备顺序 I/O 性能和提高系统文件缓存命中率为目 标，
华中科技大学
2021-04-14
一种机械加工能量效率的切削参数优化方法
本发明公开了一种机械加工能量效率的切削参数优化方法，包括以下步骤：根据数控机床切削过程建立数控机床的切削参数优化模型，根据数控机床的性能和加工要求建立切削参数优化模型的约束条件，利用改进的多目标教与学优化算法分别求解上述步骤建立的切削参数优化模型和切削参数优化模型的约束条件，得到优化后的切削参数，其中算法中的科目成绩为数控机床的切削速度 v、进给速度为 f、切 削 深 度 为 a<sub>p</sub> ， 学 员 X 为 拥 有 这 三 个 科 目 成 绩(v,f,a<
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2021-04-14
一种激光在线测量加工检测方法及其装置
本发明公开了一种激光在线测量加工检测方法及装置，将激光 测量、加工和检测集于一体，可实现激光加工前在线测量待加工工件 的平面或曲面几何尺寸形貌，获得真实平面或空间结构尺寸和特征， 消除待加工工件因在前期加工处理流程中产生的变形或时效变形所引 起与理论数模之间的误差，提高了激光加工精度和质量。装置包括依 次位于同一光路上的加工激光器、光路系统和激光加工头；还包括激 光测距系统，计算机控制系统，移动组件和工作台；激光测距
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2021-04-14
一种静脉穿刺针头位置定位的装置
本发明公开了一种静脉穿刺针头位置定位的装置，其特征在于，包括红外光源、主相机、侧相机和图像处理单元；红外光源用于照射穿刺区域的皮肤表面和针头；主相机用于从穿刺区域的皮肤表面的上方由上而下对针头进行拍照；侧相机的拍照方向与主相机的拍照方向相互垂直，用于从穿刺区域的皮肤表面的水平方向对针头进行拍照；图像处理单元与主相机和侧相机相连，用于比较主相机和侧相机拍摄的照片，从而得出针头的位置。本发明的针头位置定位装置，结构简单、定位准确，仅需更换针头便可重复使用，造价和使用成本低廉，具有效率高、直观、准确等特点
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2021-04-14
一种用于超分辨定位成像系统的样品池
本发明公开了一种用于超分辨定位成像系统的样品池，包括底座、压板、盖玻片、载玻片、第一螺栓、第二螺栓、进穿板接头与出穿板接头，载玻片安装于压板上，盖玻片安装于底座上，压板腔体外表面与底座腔体内表面间隙配合，并通过第一螺栓连接压板与底座，第二螺栓安装于压板上，通过调节第一螺栓与第二螺栓实现样品空间厚度的改变，进穿板接头与出穿板接头均安装于压板上，实现样品空间与外界环境的连通，通过向进穿板接头注入新的液态生化试剂，从
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2021-04-14
一种基于时域脉冲整形系统的光学微分器
本发明公开了一种基于时域脉冲整形系统的可编程光学微分器， 其包括锁模光纤激光器 MLL、第一色散器件、掺铒光纤放大器 EDFA、 马赫泽德调制器 MZM、偏振控制器 PC、任意波形发生器 AWG、光延 时线 ODL、第二色散器件和分频器。本发明利用时域光脉冲整形系统 的原理，将微分器的光谱滤波特性从频域搬移到时域中来，通过合理 设计任意波形发生器 AWG 的产生的调制型号，改变调制信号的形状 来得到不同阶数不同带宽的微分结果，可实现阶数、带宽灵活可调的 光学微分功能。本发明使用的各种元器件属于常用器
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2021-04-14
一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法
本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅 基液晶在同样的偏置电压下，对不同波长入射光有不同的相位调制的 特性，对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测，并能 在入射光波长未知的条件下，对该波长进行测量，并能随着相位调制 精度的提高，提高波长的分辨精度。本发明元件少，系统结构简单紧 凑，对光路的准直要求不高，无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进 行波长的分辨，并且有着与入射光偏振态无关的特性，在分辨出波长 的同时，还能对入射光束的偏振态进行测量，适用范围更广。
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2021-04-14
一种自聚焦物镜及微型荧光显微成像装置
本发明公开了一种自聚焦物镜及微型荧光显微成像装置。所述 自聚焦物镜，包括自聚焦透镜和端面抛光的玻璃棒，所述端面抛光的 玻璃棒的一端面与所述自聚焦透镜的像方端面连接。所述荧光显微成 像装置，包括激发光源、聚焦透镜、二向色镜、所述自聚焦物镜、结 像透镜、以及面阵光电探测器；所述激发光源发出激发光经聚焦透镜 聚焦，透射在所述二向色镜上；所述二向色镜将经聚焦的激发光反射， 通过所述加长物镜透射在样品上；样品激发出的荧光，被所
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2021-04-14