|
搜索
搜 索
高等教育领域数字化综合服务平台
ST STM32F407 CORTEX-M4 ARM学习板
2020年8月25日上午，由上海皮赛电子有限公司研发、设计与生产的“学而精”系列ST STM32F407 CORTEX-M4 ARM 实验箱在中国科学技术大学通过了《嵌入式与微机原理》课程组的验收，标志着该门课程的教学与实验的内容成功地从X86架构转向了ARM架构，以适应市场的变化与人才培养的需求。
ST STM32F407 CORTEX-M4 ARM实验箱是由上海皮赛电子有限公司自主研发、设计与生产的，基于ST公司CORTEX-M4 ARM内核的处理器STM32F407ZGT6，配合独立按键、矩阵键盘、拨码开关、红外线遥控器等输入设备，和数码管、LED发光二极管、128*64 LCD液晶屏等显示设备，I2C/SPI/SD卡存储设备，DS18B20数字温度采集/ADC&DAC模拟信号采集/光强信号采集等传感设备、MIC/LINEIN/LINEOUT音频接口，RS232/RS422/USB/CAN通信接口等，使得学生们可以在该实验箱上完整地进行《嵌入式与微机原理》课程所需的所有实验。
中科大嵌入式与微机原理实验室
ST STM32F407 CORTEX-M4 ARM 实验箱运抵现场
我司技术工程师李工在给实验室管理老师们进行设备的现场演示与培训
GPS&北斗EMOD扩展模块定位功能现场演示
验收过程中，我司技术工程师为验收组做了详细的操作演示与技术讲解，获得了一致好评。验收组全体成员对“学而精”系列ST STM32F407 CORTEX-M4 ARM 实验箱从硬件功能设计、防静电处理、USB端口取电、板载J-Link8下载器以及箱体上、下盖结构设计等各方面均给予了高度的评价，希望今后继续与上海皮赛电子有限公司合作，为在中国科学技术大学打造高度集成化、现代化和新颖化的实验室而努力！
中科大何力老师、梁晓雯老师、杨晓宇老师与我司朱哲勇经理合影
上海皮赛电子有限公司
2021-02-01
XILINX 3S500E SPARTAN-3E FPGA学习板
上海皮赛电子有限公司生成XILINX 3S500E SPARTAN-3E FPGA学习板。
上海皮赛电子有限公司
2021-02-01
宁波华茂外国语学校探究性学习实验室
宁波华茂文教股份有限公司
2021-08-23
智学小u学生学习终端 | 答题/语音/一卡通
产品详细介绍
深圳伟东云教育科技有限公司
2021-08-23
基于形状记忆聚合物智能复合材料结构的可展开柔性太阳能电池系统
课题组开展形状记忆聚合物及其复合材料结构的研究，自主研发了适用于航天环境的多种类、不同系列的形状记忆聚合物材料，这些材料能满足高低轨道等不同极端空间环境的需求。与形状记忆合金不同，形状记忆聚合物是一种激励响应聚合物材料（图1），具有主动可控大变形（20%-500%）、驱动方式多样、刚度可变等特性，可被设计成集驱动与承载功能一体化的部件，结构简单，可靠性高，未来有望部分替代复杂的机电驱动系统。本次搭载的“基于形状记忆聚合物智能复合材料结构的可展开柔性太阳能电池系统”主要包括哈工大研制的形状记忆复合材料锁紧释放机构、形状记忆聚合物复合材料可展开梁和上海空间电源研究所研制的柔性太阳能薄膜电池。基于复合材料力学理论和结构精细化设计，形状记忆聚合物复合材料结构可以实现柔性太阳能电池的锁紧、释放和展开，及展开后高刚度可承载等功能。
哈尔滨工业大学
2021-04-11
加快突破核心技术 增强自主创新能力——两院院士谈面向国家重大需求
党的二十大报告指出，以国家战略需求为导向，集聚力量进行原创性引领性科技攻关，坚决打赢关键核心技术攻坚战。本期特刊邀请两院院士撰文，畅谈学习体会，并分享他们面向国家重大需求，在各自科研领域所作出的努力。
科技日报
2022-11-03
【7月3-7日 淄博】高校国际科技合作能力提升工作坊启动报名
报名时间：2023年6月29日18:00前。
中国高等教育培训中心
2023-05-20
天津大学仅具备防水疏油“超能力” 新型斥液表面性能再次升级
尽管坚固耐久型斥液表面的应用前景很美好，但将其大规模推广前，还需解决一些问题。解决耐久性评价方法的合理选择与统一化问题、优化提高耐久性的策略、开发优秀的斥液表面加工方法，对推动坚固耐久型斥液表面的工业化应用具有重要意义。
天津大学
2022-12-15
人才需求：对厂内技术人员的业务技能和创新能力进行专项指导和培训。
1、与高校和科研单位继续合作，与时俱进、创新思维，需要皮革专业的专科以上人才，加强培训，提高科研人员的综合素质，打造一批技术过硬的团队。2、需求一批国内外皮革行业知名专家来厂进行现场指导，对厂内技术人员的业务技能和创新能力进行专项指导和培训。
山东莱福特皮革制品有限公司
2021-09-08
一种紫花苜蓿刈割后株高再生能力鉴定方法、分子标记及应用
本发明提供了一种紫花苜蓿刈割后株高再生能力鉴定方法、分子标记及应用，属于分子标记技术领域，本发明通过测定刈割四周后紫花苜蓿再生的株高来体现紫花苜蓿刈割后一定时间内植株再生的能力。所述分子标记的核苷酸序列如SEQ ID NO.4或SEQ ID NO.5所示，插入或缺失片段的核苷酸序列如SEQ ID NO.3所示。用于扩增分子标记的引物对，其核苷酸序列如SEQ ID NO.1～2所示。本发明所述分子标记对应的引物对能够鉴定或辅助鉴定紫花苜蓿刈割后株高再生能力。同时本发明还提供了利用所述分子标记快速鉴定紫花苜蓿刈割后株高再生能力的方法，该方法简便快捷，鉴定结果准确，具有良好的推广应用前景。
兰州大学
2021-01-12