本发明提供了一种基于静电控制扭摆的导体表面电势测量仪，包括悬丝、探针支架，扫描探针，多自由度微位移平移台，角度传感器，控制系统和反馈执行机；扫描探针设置在探针支架的任意一个端面上；悬丝悬挂探针支架构成扭摆；工作时，待测样品设置在多自由度微位移平移台上，待测样品的待测表面正对且平行于扫描探针的端面；扫描探针的端面与待测表面不接触；当扫描探针与待测样品之间存在相互作用时，角度传感器将检测的扭摆的扭转信息传给控制系统；进行 PID 运算后获得的反馈控制电压传给反馈执行机，产生一个与外力矩等大的反馈控制力矩

本发明公开了一种液体表面张力系数测量仪，所述的测定仪有一底座1，底座1上固定一立柱2，固定滑块6固定在立柱上。升降滑块8与固定滑块5滑动配合，力敏传感器9固定安装在升降滑块8上，铝合金吊环14、小型水平仪12都安装在一固定架上，水平调节钮13与悬挂细线11相连，铝合金吊环通过细线悬挂在力敏传感器10上。铝合金吊环14的升降通过转动升降调节手轮3实现。恒温加热套16用来将烧杯15里面的被测液体加热到设定的温度。本发明由于采用恒温加热套对被测液体加温可对不同温度下的液体表面张力系数进行测量；铝合金吊环从液面中拉脱通过转动升降调节手轮带动升降滑块实现，仪器稳定度高，调节容易，升降迅速，重复性好，使用起来非常方便，实验精度也高。

1、成果简介 热电系数测量仪又称热电仪，用于测量某些材料的热电系数（塞贝克系数）。本仪器是根据地质、矿业、物探、半导体领域有关单位的需求而研制的新型自动化数字化热电系数测量仪，用于测量具有半导体特性的各种矿物，如黄铁矿等及一般半导体材料的热电系数和导型（N型、P型）。本仪器适合于矿业、地质、物探、半导体等有关科研院所和高等学校使用。典型型号BHTE-06、BHTE-08特别适合测量直径在0.1-1.0mm之间的微小晶体的热电系数和导型。本仪器已获得了较广泛的实际应用，用户满意度为100%，返修率为零。 技术性能和指标： 1. 数字化、自动化测量，与笔记本（或台式）计算机配合，实现无纸化测量和记录；数据自动显示及保存成便于统计分析的格式，不需要用户在纸上作任何记录；适合大批量样本的快速测量； 2. 活化温度和量程可设定； 3. 读数分辨力：0.1μV/℃； 4. 可方便地测量直径小至0.1mm的矿物颗粒； 5. 测量效率高，操作熟练后一般可达10～15粒/分； 6. 携带方便，可随身带到矿区现场使用。2、应用说明 用于测量具有半导体特性的各种矿物，如黄铁矿等及一般半导体材料的热电系数和导型（N型、P型）。本仪器适合于矿业、地质、物探、金矿勘查、半导体等有关科研院所和高等学校使用。3、效益分析本仪器是根据地质、矿业、物探、半导体领域有关单位（如中国地质大学、南京保利华科技有限公司、成都理工大学、北京金有地质勘查有限责任公司、河北联合大学、兰州大学）的需求而研制的新型自动化数字化热电系数测量仪，已获得了行业实际应用，用户满意度为100%，返修率为零。目前矿物、半导体热电系数测量仪没有商业化产品，因此有广阔的市场空间。

1.测量R-T主机一台（主要完成温度的测量和电阻测量，以及为样品提供电流的恒流源） 2.测量X-T用主机一台（主要完成温度的测量和显示，磁化率的测量和显示） 3.测量实验台架一套（测量零电阻和磁化率共用） 4.测温传感器（PT100） 5.低温杜瓦（内径φ120×80）

1、测量范围:0-350㎜ ； 2、数显容栅尺读数分辨率：0.01㎜（无螺距差）； 两个换能器之间的距离可以通过摇动手轮而改变，改变的量可以通过数显容栅尺读出。 3、精密丝杆传动范围：50-350㎜ 精致水槽； 4、声速测定相对误差：2.5%； 5、低频信号源： ①、频率范围：正弦波：20Hz-100KHz，精度：0.001Hz，编码开关微调。方波：20Hz-1000Hz，精度：0.001Hz，编码开关微调；②、功率输出：≥5W；③、幅度：Vp-p：20V，编码开关微调；④、信号放大器：0-55倍，编码开关微调，显示：六位数码管显示。 6、采用提拉式设计，无论测量空气或液体都不用移动水槽。

表面粗糙度是机械零件加工质量的一个重要评定指标，在任何一张零件图上都离不开它。因为它与零件的摩擦、磨损、疲劳、腐蚀、配合、密封和美观等使用性能都有着密切的关系，其好坏直接影响产品的工作寿命和可靠性。因此，对重要的、精密的加工零件进行表面粗糙度的快速测量尤为必要。目前的测量仪器主要有两类：①电动轮廓仪（包括大型固定式和小型便携式）；②光学显微镜（包括双管显微镜和干涉显微镜）。光学显微镜通常是在计量室或实验室中使用，由于自动化程度差，测量效率低，现已少用。电动轮廓仪是利用仪器的金刚石测针在被测表面上以一定的移动速度自动划过，被测表面的微观高低不平将使测针作垂直方向的位移，再将测针的位移转换为电量并加以放大后送入计算机，就可在显示器上得到被测表面粗糙度的有关数据或通过记录器绘制出被测表面轮廓图。电动轮廓仪是目前广泛使用的表面粗糙度测量仪器。但它也存在如下不足之处：①电动轮廓仪的测针易划伤软质金属表面及精加工表面；②电动轮廓仪需要一个放置仪器的工作台，并把工件从机床或生产线上取下来测量，而且受到测针移动速度的限制，测量效率仍不高。除了上述测量仪器，还有一种人工比较法，即把被测表面与表面粗糙度样板通过视觉或触觉进行比较，从而判断被测表面的粗糙度大致范围，其测量精度不高。2、本专利的目的和特点本实用新型发明专利的目的是：克服上述现有技术的不足，为生产现场提供一种简便快捷的工件表面粗糙度测量仪。本实用新型发明专利的特点是：测量仪体积小，功耗低，操作方便快捷，不需要把工件从机床上取下来测量，可在多种机床上使用。如果发现工件的测量结果还达不到技术要求，可接着继续加工，从而减少装夹次数，有利于提高劳动生产率。经过多年的努力，已研制出了“手持式表面粗糙度快速测量仪”初步样机。

目前，实现对微孔测量的方法有多种，传统方法是操作者通过工具显微镜观察微孔的放大图像，利用人工进行测量。这种方法有效率低，精度不足，稳定性差等缺点；也有采用CCD摄像头，用它将放大后的微孔图像通过图像采集电路输入到计算机中，通过手工鼠标划线或刻度尺等方法确定微孔孔径的起始点和终止点位置，进而计算得到微孔孔径，这种方法虽然提高了测量精度，但它仍未实现自动测量功能，存在着操作繁琐，效率低等缺点。 我们采用数字图像处理技术实现对微孔孔径自动测量的方法，并可以有效地减少微孔周围的椒盐噪声对测量精度的影响。具体操作方法中要操作人员将放大调焦后的微孔图像显示在计算机的屏幕上（显示位置无任何要求）并且按测量按钮即可完成微孔的测量。 一、主要技术指标 1.测量范围：   5um-400um 2.测量重复性：±2um（400um测量范围下） 3.可以进行打印 4.可以进行处理前或处理后图像的存储以及打印 5.可以自动生成数据库 二、适用范围 1．适用于孔类器件的快速测量 2．改进后适用于孔类器件的全自动实时测量

热电系数测量仪又称热电仪，用于测量某些材料的热电系数（塞贝克系数）。本仪器是根据地质、矿业、物探、半导体科研院所的需求而研制的新型自动化数字化热电系数测量仪，用于测量具有半导体特性的各种矿物，如黄铁矿等及一般半导体材料的热电系数和导型（N型、P型）。本仪器适合于矿业、地质、物探、半导体等有关科研院所和高等学校使用。典型型号BHTE-06、BHTE-08特别适合测量直径在0.1-1.0mm之间的微小晶体的热电系数和导型。本仪器已获得了较广泛的实际应用，用户满意度为100%，返修率为零。 技术性能和指标：1. 数字化、自动化测量，与笔记本（或台式）计算机配合，实现无纸化测量和记录；数据自动显示及保存成便于统计分析的格式，不需要用户在纸上作任何记录；适合大批量样本的快速测量；2. 活化温度和量程可设定；3. 读数分辨力：0.1μV/℃；4. 可方便地测量直径小至0.1mm的矿物颗粒；5. 测量效率高，操作熟练后一般可达10～15粒/分；6. 方便携带，可随身带到矿区现场使用。

本实用新型提供一种鼻根高度测量仪，由标尺、支架、横杆、卡槽、支架螺帽组成，横杆连接标尺、支架，标尺在中央，支架在两侧呈“山”字形。所述支架在固定在双眼内眦，支架之间的距离即为眼裂宽度。所述标尺在测量时在内眦连线的垂直方向上移动，杆部与鼻根部接触，鼻根高度即为标尺在垂直方向上移动的距离。本实用新型很好的适应鼻根部的形状，支架能在垂直方向上稳定的固定在两侧内眦部，标尺能直观的读出刻度，即鼻根在两眼内眦连线上的垂直高度。本实用新型设计合理，操作更加方便，测量更加准确，更适合鼻根部这一特定部位的测量。

产品详细介绍根据大量的研究揭示：参加材料导电过程的不仅有带负电的电子，还有带正电的空穴。然而，学生对空穴导电的理解往往比较空泛，因此，我们应物理教学委员会的要求，设计了变温霍尔效应测试系统，供各院校物理系、材料系、电子学系等相关科系开展高年级学生实验。本仪器系统经多次改进，充分考虑了性价比和学生实验的安全性要求，极为适宜实验教学。该仪器系统还是教育部两次实行贷款国际招标的中标产品。其具有如下特点：    ◆  选用高灵敏度的标准样品。其霍尔电压较高，用4位半的微伏 表即可完成测量。因此大大降低了测量系统的造价；    ◆  可换向永磁体是专门为本实验研制的，其造价低、使用安全、磁极换向直观方便；    ◆  测量系统集中到一台仪器上，操作简单，接线方便；    ◆  自带一个N型耐低温霍尔片，其在室温附近已经标定，可以用来测磁场。在全温区可与P型样品对照霍尔电压方 向及大小的变化。    ◆  可用于中低阻样品的科学研究。本仪器系统在学生实验中涉及较为丰富的教学实验内容    变温霍尔效应实验已列入近代物理实验的低温、固体物理实验中。我公司生产的这套设备适用温区广，所选标准样品在低温下是典型的P型半导体，在室温下又是典型的N型半导体，其待测量的霍尔电压信号强，但对磁场强度的要求并不高，使用简便，性价比高，受到各近代物理实验室欢迎。在做学生实验方面有如下特点：     ▲ 学生可以打开恒温器尾部，观察一个实际实验样品是如何安装和焊接引线的，为将来从事科研工作打下一定基础     ▲ 了解低温恒温器的结构和如何减少固体漏热、辐射漏热、气体分子运动漏热     ▲ 实验前要对恒温器夹层抽真空，实践如何使用真空泵产生与测量真空     ▲ 应用已标定的霍尔片，测量可换向永磁体的中心磁场或其它磁场     ▲ 学习加注液氮，掌握低温流体的特性、使用安全注意事项和低温实验的基本技能     ▲ 了解温度的测量和低温温度的控制     ▲ 实测两种载流子的霍尔电压，验证P型导电到N 型导电的转变    同时，本仪器可扩展用于科研。即，焊脱恒温器内随机样品的引线，换上用户样品，即可用于科学研究。二、霍尔效应系统适用范围    本仪器可用于霍尔效应、载流子类型、载流子类型转变的演示和学生实验。也可焊脱恒温器内随机样品的引线，换上用户的样品，用于科学研究；例如研究变温磁阻、超导、电阻温度特性、变温光电、变温磁光（需另购带光学窗口的尾套）等。具有用途广、造价低、使用方便的特点。三、霍尔效应系统组成    本仪器系统由可换向永磁磁铁、CVM－200霍尔效应仪、连接电缆、SV－12变温恒温器、控温仪、和装在恒温器内冷指上的霍耳探头、标准样品组成。为本仪器系统专门研制的CVM－200霍尔效应仪将恒流源，四位半微伏表及霍耳测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CVM－200表还可单独做恒流源、微伏表使用。四、霍尔效应系统主要技术指标    此处只列出系统的主要技术指标。    ▲ 磁    场：  大于3500高斯    ▲ 样品电流：2纳安~200毫安    ▲ 测量电压：2微伏~19.999毫伏    ▲ 控温精度：可达±0.2℃/30分钟（与实验技巧有关）    ▲ 最小分辨率：0.01℃/K    ▲ 变温范围：80K--320K    ▲ 恒温器液氮容量：200毫升    ▲ 静态液氮保持时间：4~-6小时（与预抽真空有关）     说明：本系统各部件均有独立的使用说明和详细的技术指标，请参阅。