产品详细介绍TST3826静态信号测试分析系统每台采集箱40/60测点，同一台计算机可控制32台采集箱同时工作，共1280/1920个测点，测点可以定制；采用不同的扩展方式，通讯距离可达1000m或5000m；所有测点0.5秒内全部完成采样。高速ARM处理器，配合自主研发的软硬件信号处理技术，提高了系统的稳定性，大大增强现场抗干扰能力。USB接口，即插即用，方便可靠。内置温度控制系统，进一步减少温度对测量结果的影响。适用于测量精度要求较高和现场复杂以及测点相对集中的场合，交直流供电。 （一）产品介绍 硬件特点 1.采用高速ARM处理器，配合独特的软硬件信号处理技术和硬件隔离技术，系统具有极强的现场抗干扰能力。 2.大容量的电子硬盘，可存储多达几十年的数据，配合功能强大的软件，用户可以很轻松的对数据进行管理。 3.接入方式有：全桥、半桥、1/4桥（公用补偿片）等方式。 4.每个测点可分别自动平衡。 5.测点切换采用进口高性能光继电器和机械继电器两种，方便用户选择。 6.内置Q-FAN温度控制系统，进一步减少温度对测量结果的影响。 软件特点： 1.采样方式多样：单次采样、定时采样、连续采样。 2.显示方式灵活：表格显示、时域曲线显示，可同时显示多个窗口，每个窗口可显示8个测点数据。X-Y记录仪方式绘制滞回曲线。 3.视图实时增加数据和减小数据量，方便用户实时观测，同时提供单双光标读数据功能，并实时计算最大值、最小值等统计值。                                  4.数据快速定位功能，对于长时间监测的工程，数据量很大，通过快速定位功能，可以很方便的找到需要的数据。 5.数据标记，用户可以对感兴趣的数据加上标记，这样可以在各块数据间进行灵活定位，节省操作时间。 6.导入导出平衡结果，方便用户继续测试。 7.应变花计算：提供两片直角、三片直角、扇形、等角、伞形等应变花计算。 （二）技术指标： 1.采样频率：所有测点0.5秒内完成采样 2.CPU：高速ARM处理器 3.最大采集箱间距离：1000m-5000m（可选） 4.显示/控制方式：计算机 5.扩展方式：串行（光纤）  6.测量范围：应变0~±19999με 7.系数设定范围：1.00~9.99 8.零点漂移：±4με/4小时；±1με/℃   9.测量点数:每台计算机可控制32台数据采集仪,每台数据采集仪可测40/60点;（测点可以定制） 10.应变片电阻值:50～10000Ω任意设定 11. 供桥电压:2V(DC) 12.最高分辨率:1με 13.系统不确定度:不大于0.5％±3με 14. 自动平衡范围:±15000με(应变计阻值的±1.5%) 15.长导线电阻修正范围:0.0～100Ω 16.电源：AC 220V (±10%）  50Hz (±2%)或DC 18-36V 17.使用环境: 适用于GB6587.1-86-Ⅱ组条件 18.功耗：约 18W 19. 外形尺寸: 545mm（长）×360mm（宽）×100mm（高）（60测点） 380mm（长）×360mm（宽）×100mm（高）（40测点）  

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（1）能够实现在复杂的管道内的行走和检测，且对管道表面要求较低，能够实现自适应运动模式。 （2）能够适应一定尺寸范围内的管道测量，同时可以在恶劣的管道情况下进行绕管道一圈稳定行走。 （3）在一定情况下可以完成水下的检测作业。 （4）能够实现在线准确测量管壁厚度、裂缝深度及范围及其他管壁质量缺陷，可以实现离线保存功能。 （5）能够解决目前管道等特殊环境下普通测厚方法无法进行厚度测量及管壁质量预测的问题； （6）采用永磁技术，能够实现无源测量，可避免因为电源失电而导致测量失误的问题。

本发明公开了一种基于开放磁路的磁致伸缩导波检测传感器，该检测传感器包括激励线圈、接收线圈和磁性装置，磁性装置包括多 个检测模块，并且这些检测模块周向均匀布置，以用于吸附到被检细 长构件的外侧;每个检测模块均包括外壳、永磁铁和导磁板;相邻两 外壳通过一调节装置连接;激励线圈和接收线圈靠近检测模块并同轴 套设于被检细长构件的外侧，激励线圈输入正弦交变电流，以在接收 线圈中产生感应电压，以使计算机接收到此感应电压的信号并判断被 检细长构件内是否存在缺陷。本传感器结构简单，具有体积小、重量 轻、安装方便的特

本发明涉及果蔬检测设备技术领域，公开了一种便携式果蔬内部腐烂变质检测装置及其检测方法，包括：箱体，在所述箱体的内部构造有容纳空间；设置在所述容纳空间中并用于照射待测果蔬的光照结构；设置在所述箱体的内部并能够沿所述箱体的纵向进行上下往复运动的果蔬支撑结构；设置在所述箱体的内部并位于所述果蔬支撑结构的下方的光谱传导器件，用于传导待测果蔬中的光谱信号；设置