1.测量R-T主机一台（主要完成温度的测量和电阻测量，以及为样品提供电流的恒流源） 2.测量X-T用主机一台（主要完成温度的测量和显示，磁化率的测量和显示） 3.测量实验台架一套（测量零电阻和磁化率共用） 4.测温传感器（PT100） 5.低温杜瓦（内径φ120×80）

产品概述：      VSM振动样品磁强计可测量磁性材料的基本磁性能(如磁化曲线，磁滞回线，退磁曲线，升温曲线、升/降温曲线、降温曲线、温度随时间的变化等)，得到相应的各种磁学参数(如饱和磁化强度，剩余磁化强度，矫顽力，磁能积，居里温度，磁导率(包括初始磁导率)等)，可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！  VSM振动样品磁强计材料磁性测量仪器 可原位测量磁性材料从液氮温区至室温或室温至500℃温区的磁性能随温度的变化曲线。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ VSM振动样品磁强计材料磁性测量仪器 技术指标： 1、测量磁矩范围(磁极间距30mm时)：1*10-3emu—300emu(灵敏度：5×10-5emu) 2、相对精度(量程30emu时)：优于±1% 3、重复性(量程30emu时)：优于±1% 4、稳定性(量程30emu时)：连续4小时工作优于1% 5、温度范围：室温到500摄氏度以及室温到液氮温区 6、磁场强度：0—±3.8T之间 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 磁矩测量单元： 磁矩量程分300emu、150emu、80emu、40emu、30emu、15emu、8emu、4emu、3emu、1.5emu、800memu、400memu、300memu、150memu、80memu、40memu、30memu和15memu(即0.015emu)共18档，灵敏度优于5×10-5emu;当磁矩量程为30emu 时，测量磁矩的相对精度和重复性均优于±1%，预热24小时，连续24小时工作的稳定性优于1%。 磁场量程3.8T—0—-3.8T连续测量，分辩率0.1mT，相对精度优于±1%。 振动源输出频率180Hz,频率稳定度优于10-5，输出功率大于50W。 低温装置： 样品室的温度变化范围：80-500K 可选，分辨率0.1K。 测量系统软件： *可直接设置系统参数，直观显示数据 *原始数据文件后缀为13D，直接存储于计算机之中，方便后续处理，可以使用Excel和Origin直接对数据进行处理； *测量的多种曲线和特性参数即可在微机屏幕上显示，软件可对数据进行任意选取，局部放大，平移，可对曲线进行平滑处理，也可在激光打印机上输出打印；还可由其它通用绘图软件上进行处理。 *可自动测量磁化曲线，磁滞回线，快速MH回线，升温曲线，降温曲线，升降温曲线，控温曲线，设定温度下的磁化曲线、磁滞回线、快速MH回线，及背底曲线；在已知退磁因子和样品密度的情况下，能将VSM的开路样品磁特性曲线自动转化为物质本身（即闭路样品）磁性测量曲线 *软件可同时算出国际单位制和高斯单位制下的曲线参数（饱和磁矩/饱和磁化强度/比饱和磁化强度，剩余磁矩/剩余磁化强度，矫顽力，内禀矫顽力，矩形系数，磁能积极大值，回线面积，居里温度）    

产品详细介绍THT-2型温湿度测量仪  计量器具名称：精密温湿度测量仪2.主要用途THT-2型温湿度测量仪 主要用于对环境温度和湿度的精密测量，该测量仪可用于、化工、冶金、生化及化学分析等研究部门、实验室及计量检定部门，为用户提供一个可靠的测量数据。3.主要技术指标温度测量范围（℃） 温度测量误差（℃） 温度示值分辨率（℃） 湿度测量范围（RH） 湿度测量误差（RH） 湿度示值分辨率（RH） -50～200 ±0.05～±0.1 0.001 10%～90% ±2% 0.1% 4. 主要特点精密温湿度测量仪能进行精密温度和湿度测量大屏幕显示功能每台仪器具有自身编号，固化于机器内部传感器探头在线插拔，自动识别使用大容量可充电锂离子电池，低功耗工作，仪器可连续工作120小时以上传感器具有3m长信号线，便于远距离测量和对大容积箱体的测量操作本仪器体积小、重量轻、操作简便，配备便携型工程塑料箱一个，方便携带

产品详细介绍OMS材料物理光学属性测量仪OMS2材料物理光学属性BRDF测量仪，用于测量光学材料表面BRDF光学属性以及材料体光学属性，测量出的数据经过OMS2数据处理软件的拟合，得出.BRDF格式的文件，这些文件都携带了材料的表面光学属性和体光学属性。这些数据文件可在OMS2支持软件中直接读取，在OMS2支持软件的协助下完成杂散光仿真分析处理。国内外用户有拜尔材料、洛克希德马丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工业上海航空电器有限公司等。设备组成OMS2材料BRDF光学属性高精测量系统由OMS2测量仪、数据处理工作站、OMS4数据处理软件。注：B2DF的解释双向反射分布函数（Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF）是研究物体表面粗糙度之光学性质。由于物体表面上有凹凸不平的微小表面，一束入射光线射到表面而产生反射现象，用BRDF 来表示这种反射（散射）现象。其中双向（Bidirectional）系指入射光与接受散射光的方向，因不同的入射光角度所产生的散射性质亦不相同。BRDF 主要应用在计算机仿真物体表面明亮度，与真实人眼所看物体之明亮度相符；另外可应用在背光模块之光学模拟，例如扩散膜之散射性质。测量波段OMS2测量系统可获得测量、提取材料在可见光以及近红外波段的光学属性，具体测量波段是400nm—670nm测量结果（1）材料表面光学属性BRDFa. 材料BRDF点阵数据在使用OMS2测量材料时，仪器中的光电倍增管（PMT）在2π空间内接受样品反射以及透射的光能量数据，因此测量后会得到离散型的点阵数据。b. 材料BRDF文件数据离散型数据直接被使用于软件仿真并不精确，所以所得的离散型数据必须经过数据处理才可使用，OMS2系统的工作站中带有由OPTIS研发出来的数据处理系统，经过OMS2数据处理软件的数据拟合、处理可得出精确的可直接使用.BRDF格式的文件结果中可以查看光的不同入射角度，以及不同波长时，光在材料表面反射、吸收的参数，并且还可查看反射的光型。（2）OMS2数据处理软件OMS2数据处理软件内含有OPTIS大量材料属性数据库，可对采集到的离散型数据进行处理拟合，生成.BSDF格式的材料面光学属性文件，以及.Material格式的材料体光学属性文件。生成的材料光学属性文件可在OMS2支持软件中使用。

产品详细介绍Eutech   PC700多参数水质测量仪 Eutech优特700系列仪表价格实惠，操作界面友好，测量准确，是日常测量的理想选择。可广泛用于实验室、生产车间、科研院校等场所。从2010年7月起已全面取代510系列产品。• 设计紧凑，大屏幕便于读数• 仪表可接pH，ORP，电导率 / TDS电极，多参数集于一身• 多至5点校准 • 电导池常数可选• 5档电导率量程，自动选择 • 替换电极操作方便• 可储存100条记录 • 含电极支架测量参数pH/ORP/电导率/TDS/温度pH测量范围    -2.00 - 16.00 pH分辨率      0.01 pH精度        ±0.01pH + 1LSD校准点      1-5点校准液类型  USA, NISTORP测量范围    ±2000 mV相对mV测量范围   ±2000 mV分辨率      0.1 mV (±199.9 mV内) / 1 mV (其它范围)精度        ±0.2 mV (±199.9 mV内) / ±2 mV (其它范围)电导率测量范围    0 μS/cm ~ 200.0 mS/cm分辨率      0.01 μS; 0.1 μS ; 1 μS ; 0.01 mS ; 0.1 mS 精度        全量程的±1% 校准点      自动（4点）；每个范围最多1点；手动（5点）；每个范围最多1点电导池常数  0.1, 1.0, 10.0 (可选)TDS测量范围    0 ~ 100 ppt （TDS 常数0.5 时）；0 ~ 200 ppt（TDS 常数1.0 时）分辨率      0.01 ppm; 0.1 ppm ; 1 ppm ; 0.01 ppt ; 0.1 ppt精度        全量程的±1% 校准点      1 - 5点TDS常数     0.40 ~ 1.00 (可调)温度测量范围（仪表）    0.0 ~ 100.0 ℃ / 32.0 ~ 212.0 ℉分辨率      0.1 ℃ / 0.1 ℉精度        ±0.5 ℃ / ±0.9 ℉系数        0.00 ~ 10.00 %标准化      15.0 ~ 30.0 ℃ (可调)补偿类型及范围    电极自带温度探头自动补偿或手动补偿 0.0~100℃/32.0~212.0℉, 0~80℃/ 32.0~176.0℉校准        0.1℃增量偏移；偏移范围：± 5 ℃ / 9 ℉

FCP磁场控制平台产品概述： FCP磁场控制平台是根据磁控原理设计的理想磁测量系统，磁场范围超过3T，利用TESTIK475高斯计稳定磁场控制，适合各系列电磁铁配置，连续可变的电磁气隙，实心的和光学入口极帽，线型双极，真实四象限电磁铁电源。 FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ TESTIK475型高斯计努力保持确切的磁场密度，用户输入的控制设定点，用G、T、Oe、A/m来表示。北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台，可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ FCP磁场控制平台标准配置： TESTIK475有1个计算机接口：RS-232串口:。这个接口可以设置所有仪器参数和测量值得读回。在磁场控制期间，接口的读数率是额定每秒30个读数。475的LabVIEW驱动是提供的（选配）。磁场控制平台不含应用软件。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 锦正科技以现代高科技产业和传统产业为核心业务，对内承接科研生产任务，对外以商务平台方式实现军民两用技术成果转换，形成了科学管理的现代化经营模式，专门从事物理、化学和材料等领域的科学仪器研发、销售各类型超低温测试设备（液氮 液氦）制冷机系统集成 ，定制 ，高低温真空磁场发生系统，Helmholtz线圈（全套解决方案），电磁铁（全系列支持定制），螺线管，电子枪（高稳定性双极性磁铁恒流电源1ppm），高低温磁场真空探针台，霍尔测试系统，电输运测量解决方案，磁光克尔效应测量系统等产品种类齐全，性能可靠，至今已有近10余年的历史，是国内（较早）生产探针台，电输运，电磁铁的厂家之一。    

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HX-II型婴幼儿卧式身长测量仪（婴儿量床）特点： 1、分度值：0.1cm 2、身长测量范围：0-90cm 3、侧板位移力：≤10n 4、侧板摆辐：≤0.5cm 5、外型尺寸：110×44.5×13cm 6、毛重：6kg 7、净重：4kh 相关产品： 婴幼儿卧式身长计-婴儿量床 本文中所有关于婴幼儿卧式身长测量仪-婴幼儿身长测量床http://www.xinman8.com/318.html的文字、参数、图片等如有产品更新换代、参数变动请联系我们的销售、技术工程师。

三维激光数字测量技术是一种集激光测距传感器、控制模块、三维数字建模等高新技术的新型空间测绘技术。其硬件主要包括：激光发射接收器（脉冲法），步进电机（垂直方向、水平方向），角度编码器，控制器，倾斜补偿器，手持式PDA，电源等组成；控制模块：仪器自检、调平、校准，参数设置，数据传输，数据处理，文件储存（数据格式转换），数据输出，误差分析等；数据处理：点云数据采集，点云特征描述与提取，点云数据拼接，图像切割，数据除噪，点云曲面重建、可视化等。 项目设计的产品是一种三维激光数字测量仪，是与岩体三维激光数字测量系统配套使用的全新的空间三维信息获取手段，可用于矿业工程、地铁工程、铁(公)路隧道工程、水利工程、地下储油库、人防工程、土木工程测量，能够为客户提供“硬件+数据+软件+解决方案”的全产业链服务。 三维激光数字测量技术是一种快速直接获取被测目标表面模型的技术，最终目的就是要建立被测目标的数字化的精确三维模型以服务于工程建设各个领域。由三维激光数字测量技术进行数据采集之后，获取的是目标表面高密度的点云数据，进而对被测目标表面的完整、清晰的表达。将采集到的点云数据进行优化，其实质就是如何将“点”变为“体”的过程。点云重建复原了被测目标的真实形状且对其表面模型进行数字化表达，对后继算法的实施、算法效率的优化、最终模型的生成以及信息的正确提取。 技术指标：测量距离：100m、150m、500m、1700m；采样频率：200Hz；测量误差：20mm；视角：360°×270°；测距方法：脉冲法；重量：6kg 大规模推广三维激光数字测量仪的应用领域及应用规模，建成国内领先的三维激光数字测量软硬件创新与研发基地，推动我国三维激光数字测量技术创新和产业发展。产品定位：打造具有自主知识产权，技术含量达到国际先进水平的产品。 产品市场定价在25~30万元。与国外同类产品比较，具有很高的价格优势。 该产品能够快速量测被测三维空间，建立三维空间模型，并计算三维空间体积、稳定性分析、数值计算等，为工程的稳定性和安全性分析提供技术保障。填补国内技术空白。

用于冷轧板材绝对厚度/相对厚度（可自由转换）测量的高灵敏度仪器。 该仪器的测量原理是采用双CCD传感器分别放置于被测钢板厚度上下两面的同一轴线上，沿平行于钢板面移动，采用和差补偿测量电路预处理和采集信号，并将该信号经89C52单片机后，进行一系列数据处理，然后传输给LJD-GP2410 ARM一体机存储并显示测量结果。仪器具有“人机对话”、“输入板带各种参数”、“自动采集数据”、“数据处理”、“存储测量结果”、“显示和传输各种数据”、“打印曲线”等智能化功能。能实现手持简易测量，同时又能在固定导轨测量。 主要性能指标：1. 仪器测量范围：宽度0～2000mm，厚度2～50mm；2. 仪器分辨率：1mm；示值误差：＜5mm。