杭州高谱成像技术有限公司成立于2019年7月，是一家专注光谱成像技术，致力于为用户提供光谱视觉产品和综合解决方案的高科技创新企业。 公司围绕自主研发的核心技术-高光谱成像技术，陆续开发了包括可见光至近红外高光谱相机、无人机载高光谱成像系统，以及便携式、实验室和显微高光谱成像仪等系列光机电一体化精密仪器，并形成了从高光谱核心部件设计装调，到成像仪整机研制以及高光谱数据处理软件和算法应用的完整技术链，解决客户在教育科研、智慧农业、生态环保、智能制造、工业检测等应用领域的深层次感知需求。 

产品详细介绍1. 全封闭式暗箱设计，可在明室观察、拍摄2. 130万像素低照度高分辨率CCD，信噪比≥70dB，具备软积分功能3. 日本大孔径6倍光学电动变焦镜头，∮52mm，变焦范围11.5~69mm，USB输出4. 专业紫外增强灯管，紫外光强度达到1000uw/cm25. 双面抛光西外玻璃厚度均匀，透射率高，观察时无灯管阴影、背景清晰6. 紫外透射面积：200mm×200mm，透射波长312nm7. 带254nm、365nm紫外及可见光反射装置8. 电动变焦镜头可通过软件控制光圈、对焦、图像放大或缩小等参数调整，操作方便，精度高9. 标配Hema GSG2000核酸/蛋白凝胶图像分析管理软件10. 图像分析和管理软件可提供多用户管理系统，方便进行实验结果的记录和管理，符合良好实验室标准11. 软件功能强大，界面简洁清晰，操作简便，全中文显示12. 高性价比，特别适合于科研实验室及教学实验室使用。

产品详细介绍项目：虚拟电子白板，IT网络设备，通信产品，通信服务，基站机房，指纹智能识别，防盗报警，电子产品开发，行业软件，企业和单位外包业务。                            其他相关产品：投影设备电教设备，网络教室方案，虚拟电子白板——电教设备，正版系统光盘，指纹采集器，指纹卡机，指纹门禁，指纹锁，  

产品详细介绍产品特点： ■湿度五档可设定，微电脑数码智能自动控制 ■低温自动除霜系统，水箱满自动停机 ■底部装有万向轮，移动自如，可连接外排水管 选型方法 1、根据温湿度要求，确定含水量>9g/kg，含水量<9g/kg选用转轮除湿机。 2、按面积高度，湿负荷选择。 3、空调风量、新空量。 4、多台对角均布放置，效果更佳。 型　号 DH-368D DH-588D 除湿量 36升/天 58升/天 电源/插头 220V～50Hz/三扁插10A 输入功率 730w 900w 环境温度 5～38℃ 循环风量 340 m3/h 520 m3/h 排水方式 水箱容量（6 / L）或软管连续排水φ13 压缩机保护 三 分 钟 延 时 适用面积（2.8m/层高） 30 ～50 40 ～ 80 体积（宽深高） 533×403×653mm 净　重 31 kg 33 kg 噪 音 33dB 35dB

本发明公开了一种基于红外成像的薄膜测厚仪，包括光源、准直透镜、分光棱镜、参考路散射玻璃、参考路红外滤光片、参考路反 射镜、测量路散射玻璃、测量路红外滤光片、测量路反射镜、半透半 反分光镜、成像透镜、CCD；测量时参考物经反射镜、分光镜和成像 透镜成像到 CCD 光敏面，被测物经反射镜和成像透镜也成像到 CCD 光敏面，CCD 将图像传送至计算机，经图像处理后根据图像的灰度值 求得被测物的厚度；如此形成双光路测量系统，避免了光源光强变化 的影响；使用散射光透射成像的测量体系，避免了传统红外测厚装置 中存在的干涉影响；设置具有多个局部标准厚度的参考物，该装置可 以获取参考物各个局部标准厚度，从而能够更加精确地测量薄膜厚度。 

西安科技大学自 20057 年开始对 主要研究矿井煤层自燃隐蔽火源红外成像探测技术。针对煤层自燃火源位置隐蔽，难以确定的难题，采用热红外探测技术与热传导反演理论相结合的方法，研究煤层自燃高温区域的位置和火源温度。成果于 2008 年经中国煤炭工业协会组织鉴定为国际先进水平，获中国煤炭工业协会三等奖。 该项目申请专利 2 项。该技术有效预防大面积采空区灾害事故，提高采空区密闭的安全可靠性。

NJTECH MF7型电容层析成像系统可用于石油管道输送的气/液流或油/水流，气力输送、流化床内物料分布的气/固流以及燃烧火焰等的可视化监测中。支持32电极的ECT系统，实测成像速度可达910帧/秒，处于国际先进水平。研发的电容层析成像仪被华东理工大学洁净煤研究所、东南大学能源与环境学院、东方电气集团等高校和企业应用于气力输送的过程监测中，可在线测量管道中两相流的流型、浓度分布、速度场和流量等参数。通过三维ECT技术对流化床气固流动过程进行实时全局成像，通过实验方法研究循环流化床的流动机理。

利用一氧化碳分子对针尖进行化学修饰，调控针尖的电荷分布，通过探测电四极矩针尖与强极性水分子之间的微弱高阶静电力，获得了弱键合的水分子团簇甚至亚稳结构的亚分子级分辨成像，并在原子尺度上确定了其氢键构型和氢原子的位置。

本发明公开了一种基于红外成像的薄膜测厚仪，包括光源、准直透镜、分光棱镜、参考路散射玻璃、参考路红外滤光片、参考路反射镜、测量路散射玻璃、测量路红外滤光片、测量路反射镜、半透半反分光镜、成像透镜、CCD；测量时参考物经反射镜、分光镜和成像透镜成像到 CCD 光敏面，被测物经反射镜和成像透镜也成像到 CCD光敏面，CCD 将图像传送至计算机，经图像处理后根据图像的灰度值求得被测物的厚度；如此形成双光路测量系统，避免了光源光强变化的影响；使用散射光透射成像的测量体系，避免了传统红外测厚装置中存在的干涉影响