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产品详细介绍身高测试仪、体重测试仪、肺活量测试仪、握力测试仪、坐位前屈测试仪、一分钟仰卧起坐测试仪、台阶实验测试仪、50米跑测试仪、立定跳远测试仪、反应时测试仪、闭眼单脚测试仪、俯卧撑测试仪、纵跳计测试仪、背力计测试仪

产品详细介绍螺栓张力测试仪MZ重量：10公斤   适用最大螺栓张力5.7吨（M32  A490螺栓）也可适用以下螺栓：1/2",3/4",7/8" ,1" ,1-1/8" ,1-1/4" 及M12, M14, M16, M18, M20, M22, M24, M27, M30.要精确测量短结构螺栓张力，两个特点要求使用该型号的螺栓张力测试仪:  钢结构更薄，张力螺栓更短.  设计用于更短的螺丝长度。 MZ型拥有标准的M型和MS型的所有其它功能及特点。不管校准大扭力扳手还是测试高张力螺栓，误差都不超过1%。用MZ可准确模拟螺栓连接状况，接着将拧紧步骤用于实际拧紧，就可保证稳定的将高张力螺栓拧紧到螺栓应有的张力。 MZ型螺栓张力校准仪可用于:验证高张力螺栓可满足的最小螺栓张力。冲击扳手的校准。校准冲击扳手。保证张力控制螺栓在正确的张力。避免返工和复查。保证张力的恒定。W型最大扭力：2800NmT型最大扭力： 1300Nm

导热系数测试仪按测试方法分为：防护热平板法、平板热流计法、热流法、热线法、瞬态平面热源法、探针法等，按测试温度分有-40℃低温、室温、高温（最高1600℃）等规格，针对不同材料、不同温度检测要求选购。

《技术与设计》台灯功能设计的照度测试，可连续自由设置光照度的报警上下限，与台灯的控制接口相连，可自动控制台灯的亮度；光通量：0～6000LUX 坡度： -90~90°温度： 0～110℃；配合多功能控制器使用，功能可进一步拓展。

采用精密形变、压力传感器，能与多功能控制器配合使用，显示压力强度负荷曲；与电脑连接可显示“压力―形变”曲线，通过拟合公式可得出压力与形变间的关系；能精确测试构件材料的最大承重强度；能测试试验结构的变形；最大形变量：6000μm，最大承重力：300N；可完成下列试验：相同材质、不同形状（方形、圆形、L形、工字形）等及不同材质的构件强度试验。

左和平教授等所著《中国陶瓷产业国际竞争力研究》一书通过探索陶瓷产业国际竞争力的形成机理，发现陶瓷产业国际竞争力的培育路径和影响因素；通过在全球视角下分析中国陶瓷产业的生产与贸易现状，分析中国陶瓷产业的发展态势和趋势；通过中国陶瓷产业国际竞争力与区域竞争力的测度，明确中国陶瓷产业国际竞争力的国际地位、区域分布和发展态势；寻找提升中国陶瓷产业国际竞争力的有效途径和具体的战略措施，促进中国陶瓷产业国际竞争力的提高。本书获得第五届江西省高等学校科技成果奖一等奖。

原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。

项目简介 原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。a 传统的商业CAFM 针尖图  b 覆盖有石墨烯层的CAFM 针尖应用范围原子力显微镜(AFM) 在许多基础研究领域中得到广泛使用，是超微观察工具，特别是对于不具有导电性的生物样品和有机材料等，AFM 同样可以提供较高分辨率的表面形貌图像。同时，AFM 还具有操纵和改造原子、分子世界的手段。原子力显微镜为了避免加宽效应，一般通过电子束加工针尖使其曲率半径达到几个纳米，来提高图像的分辨率和准确度。但仍然存在着一些局限性，例如：针尖性质的变化很大，获得高分辨率的图像变得很难。另外，针尖扫描时的磨损对分辨率也有影响。AFM 能获得原子分辨率，主要是因为在其针尖的表面存在着原子级的突起，构成了与样品的实际接触。但是这些突起的尺寸形状和化学组成是未知的，而且在实验中经常发生改变，因此获得可信赖的针尖是成像过程中获得高分辨率的关键。不同的针尖适用于AFM 不同的应用领域。导电原子力显微镜（CAFM）采用固体金属作AFM 的针尖，对材料进行纳米尺度的电学表征依然存在着同样的困扰。 项目阶段北京大学工学院研究团队利用单层石墨烯包覆CAFM 金属针尖，发现石墨烯包覆的针尖保留了包覆前针尖的形状，并且包覆的针尖能承受非常高的电流和摩擦力。新型针尖具有稳定、耐磨、寿命长、图像失真度低等优点，很好的解决了现有AFM 针尖中存在的问题，提高了AFM 的仪器性能。知识产权该项研究已经申请了欧洲专利，纳米技术设备领域的诸多公司表现出了对该项研究成果的强烈兴趣。合作方式 技术转让、合作开发、技术入股。