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一种高择优取向细晶超高纯铝靶材的制备方法
本发明涉及金属材料加工技术领域,具体涉及一种高择优取向细晶超高纯铝靶材的制备方法。包括以下步骤:将超高纯铝板材于50℃~300℃下热轧,道次压下量控制在40%~50%;将热轧后的超高纯铝板材在100~300℃温度下保温0~1小时;然后进行冷轧,道次压下量控制在40%~50%,通过对板材进行道次间空冷、水冷以及冰水冷却控制板材轧制过程的温升,抑制板材的
东南大学 2021-04-14
应用于超高频的大功率高隔离度天线收发开关
本实用新型公开了一种应用于超高频的大功率高隔离度天线收发开关,包括用于选择不同信号通路 的模拟开关组,用于模拟开关组控制逻辑产生的控制逻辑发生器以及用于提供能量的供电电源,模拟开 关组与天线、发射机、接收机相连,控制逻辑发生器的输入与控制信号相连,输出与模拟开关组相连, 供电电源分别与控制逻辑发生器、模拟开关组相连。本实用新型所述的天线收发开关,通过外部提供的 控制逻辑,控制天线与发射机相连还是接收机相连,实现雷达发射与接收天线共用。通过测试,
武汉大学 2021-04-14
一种超高速有轨机车的轨道在线实时清洗系统与清洗方法
本发明涉及一种超高速有轨机车的轨道在线实时清洗系统与清洗方法,其针对多种速度、多种类型、多种车型的机车轨道,使用激光进行在线实时智能清洗。 该发明采用自动化的控制模块,旨在解决超高速机车运行的安全性问题。该系统包括:稳像超高速识别模块、智能吹扫以及激光清洗模块、稳像超高速检测模块、二次智能吹扫以及激光清洗模块、中控高速计算机模块、激光调节模块、低噪声高速空气压缩机模块。该清洗方法完成高速机车前端远距离异物的识别,智能吹扫以及激光清洗模块进行清洗,稳像超高速检测模块对清洗结果进行智能判断,二次智能吹扫以及激光清洗模块进行二次清洗等工序。
湖北工业大学 2021-01-12
极光尔沃珠宝级超高精度3D打印机E-3
深圳市极光尔沃科技股份有限公司 2021-08-23
基于近红外光谱的入孵前种蛋受精情况检测方法及装置
本发明提供一种基于近红外光谱的入孵前种蛋受精情况检测方法及装置,方法包括:获取对种蛋采用预设方式进行近红外光扫描形成的多个近红外光谱;所述预设方式为:对种蛋的至少两个不同预设位置中的每个预设位置进行至少一次扫描;获取所述多个近红外光谱中每个光谱中各个预设波段处的吸光度,并根据所述每个光谱中各个预设波段处的吸光度,计算各个预设波段处吸光度的平均值;根据各个预设波段处吸光度的平均值和各个预设波段处吸光度的预设权重系数,利用预设种蛋受精情况预测模型计算所述种蛋是否受精的预测值;根据所述预测值,确定所述种蛋是否受精。本发明可在不破坏种蛋完整性的情况下且在入孵前准确判定受精蛋未受精蛋的类型。
中国农业大学 2021-04-11
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学 2022-06-06
一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方法
本发明公开了一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方 法,首先使用 PPI 算法计算高光谱图像中所有像元的 PPI 值,根据像 元的 PPI 值确定初始候选端元集,并对初始候选端元按 PPI 值由大到 小进行排序;然后依次剔除初始候选端元集中独立性最弱的候选端元, 同时获得随端元个数递减的候选端元集的重构精度曲线和端元独立性 曲线,通过寻找这两条曲线变化的显著性位置确定端元个数的取值范 围;最后利用 SGA 算法获取不同端元个数下的二次选择候选端元集, 根据这些候选端元集所构成的重构精度曲线,确定最终的端元个数, 同时获得最终的端元提取结果。本发明不需要事先给定端元的个数, 有利于端元提取的自动化处理,同时提取的端元准确性高。 
华中科技大学 2021-04-11
一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法
本发明公开了一种利用多光谱图像分类进行典型地物参考图制备的方法,从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标,并制备出包含所述地标的参考图,以用于目标的间接定位识别,该方法具体包括:从多光谱图像中选择感兴趣类,提取其光谱-空间纹理特征,根据提取的光谱-空间纹理特征对多光谱图像进行分类;在分类基础上,提取完整的感兴趣类,并依据地标选取准则选择用作地标的感兴趣类;根据地标材质类型,利用红外辐射公式计算出地标在大气参数条件下的红外
华中科技大学 2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法,通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率,以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和,获取光谱 分析仪的校正分辨率;并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率, 获取光信噪比,提高其测量精度;本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题;本发明提 供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正,也适用于所有基于光 谱分析的光信
华中科技大学 2021-04-14
一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法
本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法,方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面,检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收,通过对测量光谱进行谐波分析,计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息,并通过非线性回归,库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数,特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源,透镜组,起偏器和伺服电机驱动的补偿器),待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器,检偏器,透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件,以及纳米制造中各种纳米结构的在线
华中科技大学 2021-04-14
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