德力E816扫频仪是主要针对电信运营商进行基站建设，网优等工作时的重要测试工具。具备4G/5G基站覆盖测试，频谱扫描和清频测试等功能。清频功能用于建站前的频带内非法信号的干扰清查；4G/5G 基站覆盖测试用于建站后的基站密度测试以及网优。为运营商的建站，网优以及基站日常维护提供重要保障。产品特点：●测试频段覆盖350MHz至6000MHz内的所有通信运营商频段；●采用低功耗和小型化设计，仅配置PAD或用户电脑就可以进行结果显示；●支持清频频谱测试，可同时进行8个频谱段的观察；●支持4G/5G基站解调覆盖测试，可同时进行最多32个频点同时测试，同频解调能力可达15dB，解调速度可达500ms/场，选配支持层三解码功能；●支持频谱与4G/5G基站解调覆盖测试同时进行；●具备TDD上下行分离频谱测试，排查上下行干扰；●采用外置电池配置，可使用车载适配器供电或电池供电，使用方便；集成多模GNSS支持GPS，Beidou等多制式，支持在密集城市和隧道环境使用。

MICROTEST 6632 阻抗分析仪 10Hz-50MHz ‒可选购PC连线软件 ‒内建直流偏置电压 ±12 V ‒开路 / 短路 / 负载校正功能 ‒输出阻抗 25Ω/100Ω 可切换 ‒稳定快速 < 3mS测试(最快挡位) ‒精准量测压电/超声器件之导纳圆绘图 ‒ 磁性材料/铁氧体/磁芯测量导磁系数μr ‒比较器功能/Handler接口/BIN分类功能 ‒自动电平控制 (ALC) 功能精准测量MLCC元件 ‒ 基本阻抗量测精度 ±0.08% ( 典型值 ±0.05%) ‒ 高分子材料/介质材料/电化学阻抗测量介电常数εr ‒ 电感I sat/ I rms电流分析(选购DC偏流源6243/6223) -信号源频率范围：DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30MHz/50MHz ‒电容/半导体材料/变容二级管量测DC偏压特性(C-V 曲线) ‒提供数字电桥模式、多步测试、图形扫图、等效电路模型分析 ‒电桥模式下最多可显示四组参数，电感值及 DCR 值可同时显示 ‒ 支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device通信接口   7   种不同的模型，结合不同类型的参数 ( 电阻、电感、电容 ) 目的是用三个或四个元素对阻抗与频率特性进行建模。仿真自己的等效电路参数的阻抗轨迹值 然后将其与实际测量轨迹进行比较和参考自谐振频率 (SRF) 汽车电源模块中越来越多采用多层 PCB 板绕组而成电感线圈的结构，因 PCB 蚀刻制程中寄 生于铜箔绕组上的寄生电容、阻值损耗，会降低整体的电感量造成共振频率 SRF 偏移，这些 PCB 不良品可能导致成品组装测试出现 NG 可利用 6632 测量   PCB 线圈板重要参数 L/Q/DCR/Rs/SRF 6632 内建公式直接算出材料介电数值 εr'、εr"。评估 PCB 空板或陶瓷板等 66302内建公式直接算各种环形磁芯或铁氧体磁芯及电磁屏蔽涂层材料的导磁系数 μr'、μr"   内置DC偏压12V 无需外挂电源，满足电容性测试电压特性如半导体材料、变容二极管、OLED调光测试 可利用 6632 阻抗分析仪等效电路模型分析，检视无线充电感应线圈，如同电容特性会有高阻抗 在高频阶段如同电感性会有高阻抗，最重要的分界点为共振频率，透过绘图分析功能检视寄电 容与串联等效电阻对整体阻抗特性的影响程度   导纳圆分析超声波阻抗更直观，透过扫图快速确认关键参数如:Fs/Fp/Qm/Kp (机电耦合系数 ) 对于天线在实际运用上搭载周边的线路时，针对发射端，天线一般连接在功率放大器 (PA) 另一接收端，天线会接上 LNA，对于天线最重的的特性即是阻抗的匹配，达到最大的功率输出 可利用 6632 阻抗分析仪等效电路模型分析，检视天线在低频阶段，如同电容特性会有高阻抗 在高频阶段如同电感性会有高阻抗，最重要的分界点为共振频率，透过绘图分析功能检视寄电 容与串联等效电阻对整体阻抗特性的影响程度       关注微信公众号，看产品视频  

差示扫描量热仪是一种测量参比端与样品端的热流差与温度参数关系的热分析仪器，主要应用于测量物质加热或冷却过程中的各种特征参数：玻璃化转变温度Tg、氧化诱导期OIT、熔融温度、结晶温度、比热容及热焓等。

成功研制出国内首台超快扫描隧道显微镜，实现飞秒级时间分辨和原子级空间分辨，并捕捉到金属氧化物表面单个极化子的非平衡动力学行为。扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope，STM）由于其隧穿电流具有高度的局域性，空间分辨率可以达到原子量级。然而受电流放大器带宽的局限，其时间分辨一般只能达到微秒量级（10-6 s），而很多微观动力学过程往往发生在皮秒（10-12 s）和飞秒（10-15 s）量级。为了提高STM的时间分辨率，其中一种比较可行的办法是将超快激光的泵浦-探测（pump-probe）技术和STM相结合，利用超快光与电子隧穿过程的耦合来实现“飞秒-埃”尺度的极限探测。尽管超快激光技术和STM相耦合的概念在上世纪90年代就被提出，但是相关研究进展非常缓慢，主要受限于一系列技术难点，例如：激光的热效应对STM隧道电流的干扰、激光诱导电流的低信噪比、超快激光脉冲在STM中的展宽、激光与隧穿电子间的耦合机制等。

产品详细介绍尼康SMZ645/SMZ800/SMZ1000显微镜底部光专用卤素灯，型号： JCR /M 6V20W-2尼康E100/E200显微镜灯泡PHILIPS飞利浦灯泡  7388 6V20W奥林巴斯Olympus的 BX40/41 BX 45 CH40 CK30 CK40 CX31 CX40/41 IX50 IX51等系列显微镜指定专用卤素灯泡，PHILIPS飞利浦灯泡沫 5761 6V30W G4更多详情请电话联系：025-85334943

又称为植物冠层分析仪。只要手持本仪器在植物冠层下穿行或行走，即可获取叶面积指数、丛生指数、间隙率、光合有效辐射、光合有效辐射分量等植物冠层的参数。是联合国粮农组织推荐的叶面积指数检测仪器，并用于对LAI2000的修正或取代。 TRAC-II叶面积指数检测仪是在加拿大皇家院士陈先生的叶面积指数检测理论与算法的基础上研发的。相对第一代TRAC，主要改进有：增加了手机现场处理功能，存储容量增大了256倍，采用了无线网络通信，提高了检测精度，减轻了传感器重量，升级并完善了处理软件到TRACWin 5.9.0版。 TRAC（Tracing Radiation and Architecture of Canopies即植物冠层分析仪的缩写）是检测叶面积指数及植被吸收光合有效辐射的光学仪器。TRAC通过间隙大小分布及间隙率来检测叶面积指数，可用于森林、植冠等叶面积指数的检测，从而为森林碳汇与林业碳汇、作物长势等的研究提供依据。TRAC-II由手机及智能传感器两部分构成，检测光合有效辐射，采用无线传感器网络交换数据，通过手机或计算机处理软件计算出结果。企业合作项目。