LT2200加持了真理光学首创的衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术的使用，使用户无需选择分析模式，即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果；LT2200系列粒度仪还采用了真理光学独创的高速全息信号处理技术，测量速度最高可达每秒20000次，确保不漏检任何粒径和形状的颗粒； LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药，电池材料，地质，水文，化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。

LT3600是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，加持了多项创新和专利技术，无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.02微米至3600微米，测量速度最高可达20000次/秒，兼具极高的灵敏度和重现性，对所有类型的样品均可获得准确可靠的结果。 LT3600加持了以下多项创新和专利技术： ◆ 偏振滤波技术 ◆ 衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术 ◆ 斜置梯形测量窗口 ◆ 格栅式超大角检测技术 ◆ 粒度分析模式优化及自适应技术 ◆ 双驱动进样分散集成技术 LT3600光学测量系统的卓越性能还包括： ◆ 完全符合ISO13320衍射法测量技术标准 ◆ 独特的光路配置，超大连续的物理测量角度，无检测盲区 ◆ 改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾极高的分辨率和稳定性 ◆ 无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.02微米至3600微米 ◆ 采用全息信号同步处理技术，实时测量速度最高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息 ◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点 ◆ 采用偏振空间滤波技术，彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器 ◆ 高强度金属光学底座及激光能量跟踪和稳定技术，兼具极高的稳定性和抗干扰能力

QT128 128线超广角近距激光雷达

产品详细介绍 激光系列产品 >> 激光能量计/功率计 >> Vector S310激光功率计表头特点大尺寸液晶屏功率/能量测量模式统计模式高级EMI/RFI保护模式自动断路器RS-232接口IEEE 488接口模拟输出可选衰减修正液晶背景灯可选科学符号显示支持LabView 产品名称： Astral S系列激光功率计产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21113533716产品信息： 产品名称： VECTOR 系列焦热电激光功率计探头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 2111324616产品信息： 产品名称： Astral系列大孔径激光功率计探头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21113211116产品信息： 产品名称： Ultra系列超级激光功率计探头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 2111316116产品信息： 产品名称： Astral系列激光功率计光电二极管探头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21113141916产品信息： 产品名称： Astral S系列光电二极管激光功率计产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21110394916产品信息： 产品名称： VECTOR H410激光能量计/功率计表头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21110264716产品信息： 产品名称： Vector S310激光功率计表头产品类别： 激光系列产品 → 激光能量计/功率计产品编号： 21110143516产品信息：

产品详细介绍可喷印五行单行速度可达185米每分钟可选点阵 5X5 5X 7 9X 7 12X 9 16X 11  32X 24字符高度：可根据字体点阵在2-16MM之间选择喷印距离2-20MM之间显示屏：320X240液晶显示屏喷头：直径35MM  长度：260MM电气要求：200-240VAC 50/60HZ 120W 重量：未包净重：27KG

 随着激光技术的不断发展，超快超强激光可以在飞秒的时间尺度（1飞秒=10-15 秒）内作用于电子使电子产生约0.1纳米（1纳米=10-9米）量级的空间位移。利用超短超强激光脉冲，人们将可以实现分子尺度下的电子位置的超快及超高精度的位置控制。然而现有的探测技术，却无法实现对电子如此微小位移的精确测量。隧道扫描显微镜（STM）利用的电子量子隧穿信号能以0.1纳米的横向和0.01纳米的纵向分辨率对静止的原子进行成像，却无法对运动中的电子进行成像。光电子显微镜（PEEM）成像系统虽然可以测量运动电子的位置，但是其最好的分辨率仅能达到约3纳米，无法在0.1纳米的尺度进行位移测量。日前，该团队利用强场电离中的时间双缝干涉图样，提出对电子在激光脉冲下的微小位移进行了测量的新方案，该方案的分辨率可达0.01纳米。为了测量电子在超短脉冲作用下的位移，他们把导致电子位移的超短脉冲置于两束较长反向旋转的圆偏振光之间。两束反旋向的圆偏振光先后分别电离电子，构成时间上的电子波包双缝干涉，这在电子动量谱中产生涡旋结构。在没有中间的超短脉冲时，该涡旋结构角向是均匀分布的。当中间加入了一束任意的被测超短脉冲，它将作用于前一圆偏光电离的电子使之产生微小位移，这个微小位移使得电子波包获得一个额外相位，从而导致先后两个电子波包的干涉结构在角方向产生了非均匀性。他们提出通过测量这个非均匀的角向分布，可以准确地提取出电子在超短脉冲作用下产生的亚纳米量级的微小位移。他们的方案对激光的焦斑效应以及两束圆偏振光的相位抖动具有很好的抗干扰能力。该理论方案近期以“Proposal for measuring electron displacement induced by a short laser pulse”为题在线发表在《物理评论快报》上【Phys. Rev. Lett. 122, 053201, (2019)】，光学所的博士生肖相如为第一作者、彭良友教授为通讯作者。左图：新方案示意图；右图：测量方案给出的理论预测结果。 研究团队近期还与吉林大学丁大军教授领导的研究组紧密合作，理论提出并在实验上实现了对椭圆偏振强激光椭偏率的原位测量新方案。他们利用两束其它参数相同而旋向相反的椭偏光来电离惰性气体氙（Xe）原子，强场电离得到的电子阈上电离谱和单电离离子总产率谱敏感地依赖于两束光脉冲之间的延时。这些能谱和产率随延时的周期性调制，能够准确反映一个光学周期之中椭圆偏振光的电场强度的最小和最大值间的比值，因此可以用来准确提取每一束椭偏光的椭偏率。研究表明，这一椭偏率测量方案在很大的激光参数范围内普遍适用，这一工作在准确表征超快强激光场的性质方面迈出了重要一步，将对强场物理研究中精细操控原子分子内的超快过程起到重要推动作用。该项成果以“Accurate in situ Measurement of Ellipticity Based on Subcycle Ionization Dynamics” 为题，于2019年1月9日发表在《物理评论快报》上【Phys. Rev. Lett. 122, 013203 (2019)】，吉林大学原子与分子物理研究所的王春成副教授、博士研究生李孝开、北大博士生肖相如为论文共同第一作者，北京大学彭良友教授、吉林大学丁大军教授为该论文的通讯作者。 这些研究工作得到了国家自然科学基金委、科技部、人工微结构和介观物理国家重点实验室、北京量子信息科学研究院、极端光学协同创新中心等的重要支持。 两篇论文的原文链接：https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.122.053201https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.122.013203

1.项目简介：应用间接测温与计算机系统特性辩识为一体的智能实时测温方法，即依据间接测温信号与校正测试温度信号，对系统的动态教学模型进行分辨识和参数估计，并由辨得到的对象特性对气化层温度运行最可信估计的测温方法，实现间歇式固定层煤气发生炉(简称造气炉)气化层温度实时准确测量。 2.技术特点；该工业测温精度高，可靠性强，检测装置能长期安全运行，对造气炉内温度场分布、工艺运行不产生影响；为造气炉正常安全运行，节能降耗和实现造气工艺闭环自动控制提供了先决条件。

本技术成果为一个功能模块，可以嵌入到一块硬件板卡或者一个网络测量设备之中，形成一种网络测 量硬件产品；也可以集成到其它网络应用系统之中，扩展和改善网络应用系统的网络、路径、链路选择的 能力。

针对现在黑白网点测量仪用途局限性大的问题，研制出一台反射式黑白网点测量仪，它具有测量密度，网点百分比，反射率等数据，为印刷各道工序的产品质量控制提供可靠的数据依据及评定质量的标准。 反射式黑白网点测量仪包括环形光源，前端信号处理组件，微处理器，显示组件，环形光源包括光源驱动、环形光圈、测量光孔和上下两个偏振片；前端信号处理组件包括光探测器、单电源互阻放大器电路和低通滤波电路，光源驱动环形光源发出的全反射光经过下偏振片后变为偏振光，偏振光分为两束，一束直接在墨层表面反射，这束表面反射光通过上偏振片时被阻断，另一束通过上偏振片到光探测器接收，转化为电流，电流信号经单电源互阻放大器电路变为电压信号，然后经低通滤波电路处理送入微处理器进行数学运算，最后经显示组件输出结果。 所述环形光圈由数个白光LED灯组成，使用硅胶将其密封成环形光圈，所述测量光孔直径为3．5mm，白光LED灯保持和测量平面呈45。角。 所述光探测器选用硅光电池，光谱范围350 820nm、峰值波长550nm，将光探测器置于环形光源的光圈内，用硅胶密封。    反射式黑白网点测量仪将现今微处理器技术，光学设计技术与硬件电路相配合，扩大了测试功能。同时具有测量密度，网点百分比，反射率等数据，为印刷各道工序的产品质量控制提供可靠的数据依据及评定质量的标准。

本发明公开了一种基于光栅投影的牙颌模型测量装置，用于牙颌模型的非接触式测量，包括牙模定位模块、光路调整模块和视觉测量模块，其中，所述牙模定位模块用于装夹待测量的牙颌模型，并实现对牙颌模型的姿态调整；所述视觉测量模块设置在所述光路调整模块上，用于对牙颌模型进行扫描测量；所述光路调整模块用于对视觉测量模块的测量角度进行调整，在光路调整模块和牙模定位模块的作用下，确定出牙颌模型的测量姿态和角度，从而实施对牙颌模型的扫描测量。该测量装置可便捷地调节微型投影仪与工业相机的位置，实现光路的快速调整；可便捷可靠地