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一种工件位置追踪定位方法及定位系统
本发明公开了一种工件位置追踪定位方法，包括如下步骤：1) 在车间划分出多个监测区域，在各监测区域处分别设置摄像头；2)将 各摄像头采集到的视频图像分别传送给计算机，并进行运动物体识别； 3)根据各超高频 RFID 读写器的读取距离，在各监测区域内再分别选定 一个与超高频 RFID 读写器的读写距离相应的扫描区域；4)确定工件的 位置信息及所处的加工状态，并将所得到的上述信息上传至 MES 生产 管理系统。本发明能够提
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2021-04-14
一种对象文件系统的预取方法
本发明公开了一种对象文件系统的预取方法，包括：对对象文 件系统的数据结构和变量进行初始化，判断服务器是否接收来自客户 端的读对象请求，如果是则解析读对象请求，并根据读对象请求确定 当前对象及其 Oid，判断读对象请求是否命中缓存，如果没有则判断 是否存在计时值大于或等于时间阈值 T_MAX，如果不存在，则根据当 前对象的 Oid 查询预取属性表，以获取当前对象的预取属性，并根据 预取属性执行读磁盘和预取操作，根据全局
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2021-04-14
火电企业燃料采购决策支持系统的设计方法
本发明公开了一种火电企业燃料采购决策支持系统的设计方法。包括如下步骤：根据火电企业的实际运行情况和在售燃料的情况选取供煤单位的评价指标，用于对潜在的供煤单位进行评价；利用 AHP 算法计算各个评价指标的权重；利用历史数据计算得到每个潜在的供煤单位的各评价指标值，结合火电企业的锅炉参数，得到每个潜在的供煤单位的各评价指标的得分；对每个潜在的供煤单位的每个评价指标，计算其权重与得分的乘积作为该评价指标的权重得分，利用优劣解距离法计算得到各潜在的供煤单位的评分；根据各潜在的供煤单位的采购限制和评分以及火电
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2021-04-14
一种超细丝磨具定位系统及方法
本发明提出一种超细丝磨具定位系统和方法，用于在磨削超细丝之前，将磨具自动移动到与超细丝 接触，以便精确地控制磨具加工进给量。本发明涉及超细丝与磨具的接触检测和磨具移动控制，即:磨 具在超细丝上方处于缓慢来回运动状态，以较小的移动量下降逐渐靠近超细丝;磨具每下降一步，采用 图像处理的方式检测超细丝是否振动，当超细丝处于振动时，便可判断二者已经接触，磨具完成定位。 本发明是自动检测，接触检测过程由上位
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2021-04-14
城市交通监控视频全局编码方法及系统
本发明公开了一种城市交通监控视频全局编码方法及系统，包括步骤：步骤 1，将原始监控视频分割成 车辆视频和去除车辆的视频；步骤 2，采用可选差分编码方式对去除车辆的视频进行编码；步骤 3，提取车 辆视频中全局运动车辆的全局特征参数集；步骤 4，基于全局特征参数对车辆视频进行全局编码。本发明在 去除场景冗余的基础上进一步去除了监控视频中的全局冗余，有效提高了城市交通监控视频编码压缩效率。
武汉大学
2021-04-14
椭偏仪测量系统的随机误差评估方法
本发明公开了一种评估椭偏仪测量系统的随机误差的方法。该方法首先建立椭偏仪测量系统的系统模型和系统传递函数，然后通过分析椭偏仪测量系统的随机噪声的来源及特点，建立适用于具体配置类型椭偏仪测量系统的随机噪声模型，最后根据传递函数和随机噪声模型，推导随机噪声的传递模型，从而计算评估系统的随机误差。评估仪器随机误差的一般方法是进行多次测量，然后根据多次测量结果的分布情况评估测量系统的随机误差，本发明方法通过建立随机噪声模型和计算随机噪声传递特性，可以在一次测量中评估椭偏仪测量系统的随机误差。适用于现有多种配
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2021-04-14
旋转器件型光谱椭偏仪系统参数校准方法
本发明公开了一种用于旋转器件型光谱椭偏仪系统参数的校准方法，该方法可以在一次测量中获取旋转器件型光谱椭偏仪中全光谱范围的系统参数，其方法是将任意厚度的标准样件作为待测样件，使用待校准光谱椭偏仪进行测量，对测量获得的光强谐波信号进行傅里叶分析，通过傅里叶系数序列计算获取第一个波长点的系统参数，以其作为初值，采用非线性回归算法，通过理论光谱拟合测量光谱，获得第一个波长点的系统参数。并依次以校准获得的第 i 个波长点的系统参数作为初值，拟合获得第 i+1 个波长点的系统参数，进而获得全光谱范围的系统参数。
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2021-04-14
一种电机驱动控制系统及其控制方法
本发明公开了一种电机驱动控制系统，该系统包括直流-直流变 换器控制部以及逆变器控制部，逆变器控制部包括顺序相连的速度控 制器、电流控制器以及逆变器 PWM，逆变器控制部还包括开关频率计 算模块，开关频率计算模块计算出开关频率信息传输于逆变器 PWM， 逆变器 PWM 输出 PWM 信号用于控制逆变器，直流-直流变换器部包 括顺序相连的直流电压计算模块及直流电压控制器。按照本发明实现 的电机驱动控制系统，低速下开关损耗为传统系统的 1/4，而系统的其 他功率损耗基本维持不变，相加之后，系统总损耗能减小
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2021-04-14
测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤 S21 采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22 根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测得的高度距离获得芯片与第一基准平面的第一倾角，并根据测量平面角度的方法并结合第二高度传感器测得的高度距离获得基板与第二基准平面的第二倾角；S23 将第二倾角、第一倾角和角度误差做向量减法运算获得芯片与基板之间的相对倾角。本发明利用高度传感器测量多点高度测量倾角，进而利用倾角标定
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2021-04-14
一种污水处理装置、系统及方法
本发明公开了一种污水处理装置、系统及方法。所述装置包括反应柱、曝气器、给水器和出水器；所述反应柱竖直设置，其下方设有给水器，底部设有曝气器，其上方设有出水器，所述反应柱内按照 水流方向从下到上方向，依次包括活性污泥净水区，生物膜净水区和清水区；所述活性污泥净水区和生物膜净水区之间设有透水隔泥的承托层。所述系统包括多个所述污水处理装置串联。所述方法包括以下步骤：(1)启动阶段：将活性污泥注入所述污水处理系统中各污水处理装置的反应柱活性污泥区，进行闷曝；(2)连续运行阶段：按照如下原则调整
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2021-04-14