产品详细介绍该仪器已获国家专利，专利号201120337217.3。产品介绍:         我公司自主研制的热分析仪系列产品主要面向工业用户、科研与教学，广泛应用于各类材料与化学领域的新品研发，工艺优化与质检质控等。主要测量与热量有关的物理和化学的变化，如物质的熔点熔化热、结晶点结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度等。卞舒芹15312021471技术参数:  1. 温度范围: 室温~1350℃   2. 量程范围: 0～±2000μV   3. DTA精度: ±0.1μV    4. 升温速率: 1～80℃/min   5. 温度分辨率: 0.1℃   6. 温度准确度: ±0.1℃   7. 温度重复性: ±0.1℃   8. 温度控制: 升温：程序控制  可根据需要进行参数的调整              降温：风冷  程序控制                 恒温：程序控制  恒温时间任意设定 9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 10.气氛控制: 内部程序自动切换 11.数据接口: 标准USB接口   配套数据线和操作软件 12.显示方式: 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示 13.参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 15.工作电源: AC 220V   50Hz

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产品详细介绍  3D CaMega光学三维扫描系统简介   一、技术原理  3D CaMega光学三维扫描系统是将光栅条纹投影到物体表面，由CCD将拍摄到的条纹图像输入到计算机中，然后根据条纹按照曲率变化的形状利用相位法和三角法等精确的计算出物体表面每一点的空间坐标（X、Y、Z），生成三维的可输出色彩信息（R、G、B）的彩色面点云数据，可广泛应用于动画、游戏多媒体制作、虚拟现实模型制作、三维互联网等数字化等领域。   二、3D CaMega光学三维扫描系统的用途： 将真实的人物, 衣服甚至是任何形状的物品转换成高质量的3D模型。协助动画，影视，游戏等虚拟场景中三维模型的快速建立，能与运动捕捉相结合，达到全数字高级仿真效果，显影视、游戏、动漫效果的写实性。模型数据可导出为主流软件支持的格式数据文件，以便在主流的三维软件中进行显示和进一步处理应用。   三、3D CaMega光学三维扫描系统的特点： 1. 测量速度快，照相式扫描，单次扫描时间小于0.2秒，能快速对人体及物体进行数字化； 2. 百万像素级数字转换器，单次采集数据130万点以上，充分采集物体表面细节信息； 3. 三维模型数据自动拼接，无需手工缝合，有数据的后期处理及格式转换功能，模型数据可导出为主流软件支持的格式数据文件，以便在主流的三维软件中进行显示和进一步处理应用； 4. 多机组合扫描，便利快捷，充分避免人体微动产生的模型误差； 5. 可以获得三维彩色点云数据，并输出R、G、B值； 6. 白光LED光源，超长寿命，可连续工作十万小时以上，； 7. 拍物模式和拍人模式自由切换，三维虚拟静态景物捕捉系统，对人体扫描安全，无害； 8. 12V低电压接入，使用更安全；

MICROTEST 6632 阻抗分析仪 10Hz-50MHz ‒可选购PC连线软件 ‒内建直流偏置电压 ±12 V ‒开路 / 短路 / 负载校正功能 ‒输出阻抗 25Ω/100Ω 可切换 ‒稳定快速 < 3mS测试(最快挡位) ‒精准量测压电/超声器件之导纳圆绘图 ‒ 磁性材料/铁氧体/磁芯测量导磁系数μr ‒比较器功能/Handler接口/BIN分类功能 ‒自动电平控制 (ALC) 功能精准测量MLCC元件 ‒ 基本阻抗量测精度 ±0.08% ( 典型值 ±0.05%) ‒ 高分子材料/介质材料/电化学阻抗测量介电常数εr ‒ 电感I sat/ I rms电流分析(选购DC偏流源6243/6223) -信号源频率范围：DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30MHz/50MHz ‒电容/半导体材料/变容二级管量测DC偏压特性(C-V 曲线) ‒提供数字电桥模式、多步测试、图形扫图、等效电路模型分析 ‒电桥模式下最多可显示四组参数，电感值及 DCR 值可同时显示 ‒ 支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device通信接口   7   种不同的模型，结合不同类型的参数 ( 电阻、电感、电容 ) 目的是用三个或四个元素对阻抗与频率特性进行建模。仿真自己的等效电路参数的阻抗轨迹值 然后将其与实际测量轨迹进行比较和参考自谐振频率 (SRF) 汽车电源模块中越来越多采用多层 PCB 板绕组而成电感线圈的结构，因 PCB 蚀刻制程中寄 生于铜箔绕组上的寄生电容、阻值损耗，会降低整体的电感量造成共振频率 SRF 偏移，这些 PCB 不良品可能导致成品组装测试出现 NG 可利用 6632 测量   PCB 线圈板重要参数 L/Q/DCR/Rs/SRF 6632 内建公式直接算出材料介电数值 εr'、εr"。评估 PCB 空板或陶瓷板等 66302内建公式直接算各种环形磁芯或铁氧体磁芯及电磁屏蔽涂层材料的导磁系数 μr'、μr"   内置DC偏压12V 无需外挂电源，满足电容性测试电压特性如半导体材料、变容二极管、OLED调光测试 可利用 6632 阻抗分析仪等效电路模型分析，检视无线充电感应线圈，如同电容特性会有高阻抗 在高频阶段如同电感性会有高阻抗，最重要的分界点为共振频率，透过绘图分析功能检视寄电 容与串联等效电阻对整体阻抗特性的影响程度   导纳圆分析超声波阻抗更直观，透过扫图快速确认关键参数如:Fs/Fp/Qm/Kp (机电耦合系数 ) 对于天线在实际运用上搭载周边的线路时，针对发射端，天线一般连接在功率放大器 (PA) 另一接收端，天线会接上 LNA，对于天线最重的的特性即是阻抗的匹配，达到最大的功率输出 可利用 6632 阻抗分析仪等效电路模型分析，检视天线在低频阶段，如同电容特性会有高阻抗 在高频阶段如同电感性会有高阻抗，最重要的分界点为共振频率，透过绘图分析功能检视寄电 容与串联等效电阻对整体阻抗特性的影响程度       关注微信公众号，看产品视频  

又称为植物冠层分析仪。只要手持本仪器在植物冠层下穿行或行走，即可获取叶面积指数、丛生指数、间隙率、光合有效辐射、光合有效辐射分量等植物冠层的参数。是联合国粮农组织推荐的叶面积指数检测仪器，并用于对LAI2000的修正或取代。 TRAC-II叶面积指数检测仪是在加拿大皇家院士陈先生的叶面积指数检测理论与算法的基础上研发的。相对第一代TRAC，主要改进有：增加了手机现场处理功能，存储容量增大了256倍，采用了无线网络通信，提高了检测精度，减轻了传感器重量，升级并完善了处理软件到TRACWin 5.9.0版。 TRAC（Tracing Radiation and Architecture of Canopies即植物冠层分析仪的缩写）是检测叶面积指数及植被吸收光合有效辐射的光学仪器。TRAC通过间隙大小分布及间隙率来检测叶面积指数，可用于森林、植冠等叶面积指数的检测，从而为森林碳汇与林业碳汇、作物长势等的研究提供依据。TRAC-II由手机及智能传感器两部分构成，检测光合有效辐射，采用无线传感器网络交换数据，通过手机或计算机处理软件计算出结果。企业合作项目。