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 锦正茂低温控温仪TESK301低温温度仪 0.01K分辨率
TESK301型低温控温仪的前面板有高亮黄色数码管和红色指示灯显示,保*各个角度温度示数清晰可见。按键位置设置规范,按键图标清晰明了。同时TESK301具有三个输出功率范围,充分保*了各个控温区间控温的稳定性,减小温度过冲。安装有标准的RS232 接口,可以通过控制软件利用上位机控制,用户也可开发自己的应用软件。   您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 低温控温仪TESK301低温温度仪 0.01K分辨率      TESK301内置了一个标准恒流电源向电阻温度计供电,通过四线法测量温度传感器电压信号,经16位A/D转换,自校准,数字滤波,查分度表,修正计算后显示实测温度,经与设定温度比较后,实时PID运算给出控制信号,通过机内固态继电器周期控制加热电压来实现温度的控制。   您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 低温控温仪TESK301低温温度仪 0.01K分辨率     您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 作为北京高科技企业,锦正茂科技以现代高科技产业和传统产业为核心业务,对内承接科研生产任务,对外以商务平台方式实现军民两用技术成果转换,形成了科学管理的现代化经营模式,专门从事物理、化学和材料等领域的科学仪器研发、销售各类型超低温测试设备(液氮 液氦)制冷机系统集成 ,定制 ,高低温真空磁场发生系统,Helmholtz线圈(全套解决方案),电磁铁(全系列支持定制),螺线管,电子枪(高稳定性双极性磁铁恒流电源1ppm),高低温磁场真空探针台,霍尔测试系统,电输运测量解决方案,磁光克尔效应测量系统等产品种类齐全,性能可靠,至今已有近10余年的历史,是国内(较早)生产探针台,电输运,电磁铁的厂家之一。    
北京锦正茂科技有限公司 2022-08-26
东南大学分析测试中心原位X射线衍射仪采购项目公开招标公告
东南大学分析测试中心原位X射线衍射仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在江苏省南京市鼓楼区郑和中路118号D座16楼1612室(邮购)获取招标文件,并于2022年06月13日 14点00分(北京时间)前递交投标文件。
东南大学 2022-05-27
四川大学华西医院心电监护仪采购项目公开招标采购公告
四川大学华西医院心电监护仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://sale.scbid.net获取招标文件,并于2022年06月24日 10点30分(北京时间)前递交投标文件。
四川大学 2022-06-01
原位微型化快速水质监测仪与高密度水质监测网络
本项目研发一种基于国际先进的微环流分析技术的原位水质监测系统,体积小,成本低,试剂损耗量较小,维护周期长。基于此仪器进行高密度水质监测网络的搭建,并通过无线技术将水质监测网络的数据上传到服务器,通过算法对数据进行分析,完成快速、准确的污染溯源,为水域污染的进一步防、治提供一种实时、有效的手段。
清华大学 2021-04-11
西南大学气相色谱三重四极杆质谱联用仪竞争性磋商
西南大学气相色谱三重四极杆质谱联用仪竞争性磋商
西南大学 2022-06-23
西北农林科技大学高精度地物光谱仪采购项目竞争性磋商公告
西北农林科技大学高精度地物光谱仪采购项目竞争性磋商
西北农林科技大学 2022-06-15
大连理工大学少子寿命检测仪采购项目竞争性磋商
大连理工大学少子寿命检测仪采购项目竞争性磋商
大连理工大学 2022-06-13
曲面光学结构的多电荷耦合器件组 自适应成像仪及方法
南京工程学院 2021-04-13
聚集诱导发光( AIE )绿色荧光磁性指纹粉末 / 喷雾及智能指纹对比分析仪
传统荧光材料与磁性(多为黑色)指纹粉末结合后通常会导致荧光猝灭,而利用 AIE 材料聚集态下荧光亮度的高特性,与黑色磁粉复合后不但信号不受背景干扰,还能实现在日光和紫外光下的双重显色,获得高分辨的指纹多级结构信息。为了适应南方潮湿天气,本团队进一步开发了指纹喷现液,可在更复杂环境和背底下进行微弱指纹识别。该技术已在公安机关试用推广,成功协助侦破多起恶性案件。 同时,利用本团队自主开发的智能指纹对比分析仪,能够快速读取通过 AIE 双模输出的指纹信息,并与相关数据库人员进行对比, 进而展示现役人员的准确信息。该技术还可结合目前的云端技术与监控图像识别系统,快速确认疑似人员的移动路径,实现采集- 识别-监控-追捕无缝对接。 
华南理工大学 2023-05-08
一种旋转补偿器型椭偏仪的系统误差评估及消除方法
本发明公开了一种旋转补偿器型椭偏仪系统误差评估及消除方法该方法,包括首先建立待优化椭偏仪的系统模型,并求的待测样品穆勒矩阵解析表达式;然后通过对泰勒展开,获得 n 阶旋转补偿器型椭偏仪椭仪系统误差与元件误差之间的关系。最后改变旋转补偿器型椭偏仪起检器与检偏器方位角,经过四次测量,并求得四次测量结果的均值,这个均值就是已消除了椭偏仪系统误差的待测样品的穆勒矩阵。本发明方法可以获得旋转补偿器型椭偏仪由元件误差导致的系统误差的解析表达式,计算过程明确,系统误差的消除方法操作简单可行,可以适用于现有不同结构
华中科技大学 2021-04-14
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