产品详细介绍  AAF-1000系统可对显微镜Z轴进行高分辨率控制、高精度重复定位，自动搜寻图像焦平面。主机采用日本进口直流步进伺服电机，通过图像信号的反馈，自动搜寻清晰的焦平面，实现自动聚焦。配合外部键盘控制，在转换不同倍率的物镜或者更换样品后，您只需轻点按键，清晰画面即可呈现。图像可通过监视器屏幕或者投影机大屏幕实时显现。适用于会议演示、教育教学、医学科研、自动化操作及特殊环境用途。   简易的安装设计，可以快速的与任何复式光学显微镜进行衔接，形成一个整体。安装Z轴控制器，不需要对显微镜进行任何破坏和改造，拆卸时亦无须专业工具，没有复杂的连线，瞬间恢复显微镜原貌。是真正意义上的即插即用。无论您的显微镜是正置的还是倒置的光学系统，安装都同样简便，不需要改变安装方向和位置，因为内置的步进电机及控制系统是一个智能的反馈系统，可以自动辨别运行方向。   AAF-1000系统可以安装在各种显微镜上使用，所搭载的CCD摄像系统具有标准的镜筒接口，无论是单目显微镜、示教显微镜、双目显微镜还是三目显微镜，都可以立即配合起来使用。通过AV接口与监视器或者投影机相连，传送实时的画面。

实验原理 AFM是SPM家族中应用领域最为广泛的表面观察与研究工具之一。其工作原理基于原子之间的相互作用力。当一根十分尖锐的微探针在纵向充分逼近样品表面至数纳米甚至更小间距时，微探针尖端的原子和样品表面的原子之间将产生相互作用的原子力。原子力的大小与间距之间存在一定的曲线关系。在间距较大的起始阶段，原子力表现为引力，随着间距的进一步减小，由于价电子云的相互重叠和两个原子核的电荷间的相互作用，原子力又转而表现为排斥力。这种排斥力随着间距的缩短而急剧增大。AFM正是利用原子力与间距之间的这些关系，通过检测原子间的作用力而获得样品表面的微观形貌的。   仪器概述 AFM采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器──微探针。微悬臂一端固定，另一端置有一与微悬臂平面垂直的金字塔状微针尖。当针尖与样品之间的距离逼近到一定程度时，两者间将产生相互作用的原子力，其中切向力（摩擦力）Ft使微悬臂扭曲，法向（纵向）力Fn将推动微悬臂偏转。我们所关心的主要是纵向力Fn，它与针尖──样品间距成一定的对应关系，即与样品表面的起伏具有对应关系。微悬臂的偏转量十分微小，无法进行直接检测，采用光学方法将偏转量放大，可推知微悬臂偏转量（即原子力）的大小，最终获得样品表面的微观形貌。   仪器特点 特有的卧式探头 卧式AFM探头设计，使原子力作用方向与重力方向垂直而互不干扰；降低了探头的整体重心；克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动；具有独特的卧式可视化光路。探头及仪器性能更加稳定和优越。   稳定的三轴压电扫描器 采用互相正交的三轴压电陶瓷扫描控制器，X、Y、Z三轴压电陶瓷之间互不耦合，可保证扫描图像不因耦合而失真；扫描器具有更好的扫描线性和独立性、更高的强度和刚度，兼具更强的扫描驱动力，能同时适用于较小与较大、较轻与较重样品的扫描成像。   优化的检测与控制系统 采用优化的微纳米扫描与反馈控制电路系统，配以多路高精度A/D&D/A控制接口，可获得更高的扫描分辨率、更好的重复性和更佳的图像质量。   完善的软件界面与功能 功能强大、界面友好，可适用于Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系统。一般操作者均可轻松而熟练地掌握，只需点击鼠标，即可完成从图像扫描到图像处理及数据信息计算的全部操作。可用鼠标任意选择局部扫描区域，实现图像平移、定位和缩放；可设定扫描次数并自动控制扫描停止；具有实现X、Y方向的面扫描和线扫描的功能；可获得样品表面的纳米级三维形貌结构和截面线；高质量的彩色/黑白平面图像显示与三维立体图像显示；具有图像的二维和三维纳米标尺标注功能及粒径测量功能；具备纳米级表面微观粗糙度的统计及计算功能；可精确测定样品表面的微纳米级台阶高度和深度；完善的图像处理功能，包括裁剪、粘贴、旋转、对比调节、亮度调节、颜色调整、背景色调整、图像平滑、滤波等。   简单便捷的仪器操作 AFM的操作十分简单和便捷，一般操作人员即可完成，无需专人操作和维护。安装探针、安装样品、粗调和微调进样、图像扫描、图像存储等操作，均可在1分钟内完成。特别适用于科学研究、教学实验及产品检测。   高稳定性与抗干扰能力 AFM既可在良好的实验条件下完美工作，也可在有一般实验室、普通桌面、有轻微振动、有环境干扰、有光照等条件下正常运作，快速扫描观察各种微纳米样品，获得理想的图像和微纳米结构信息。具备更好的稳定性和抗震性，更强的抗（光、电、磁等）干扰能力，更快的扫描速度（最快1幅图像/1~6秒，作为对比，进口仪器的扫描速率一般为1幅图像/10~20分钟甚至更慢）。   高适用性广泛应用领域 可同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。对被测材料样品无特殊要求，免去繁琐的样品制备过程，可直接扫描获得微纳米结构信息。   实验内容与典型实验数据 部分扫描测试样品的AFM图像   部件列表 描述 数量 原子力显微镜探头 1 控制机箱 1 直流高压电源 1 A/D&D/A控制接口卡 1 AFM微探针 15组60 tips USB光学显微镜 1 一体机, 含AFM扫描控制软件 1 样品 5 剪刀、镊子、启子、放大镜等工具 1

一种面向异构内存系统建立检查点的装置，属于计算机系统结 构的系统容错技术，解决现有面向异构内存的基于存储的检查点技术 开销过大、存在大量无用写的问题。本发明包括异构内存管理模块、 地址映射模块、派生页管理模块、检查点调度模块，异构内存管理模 块管理异构内存中数据在 DRAM 和 NVM 间的移动；地址映射模块提 供一种细粒度、低开销的地址映射策略，当写请求试图修改检查点数 据时，地址映射模块将写请求映射到其它硬件地址

XM-YZT腰椎间盘突出症检查训练仿真电子标准化病人模型   XM-YZT腰椎间盘突出症检查训练仿真电子标准化病人模型其内脏、皮肤以及模拟人各关节活动具有仿真性，病变部位准确，可供学员反复进行腰椎间盘突出症检查及诊断训练。 功能特点： ■ 四肢可自由活动，机体组织损伤部位有运动障碍。 ■ 病变部位有压痛点。 ■ 有感觉异常。 ■ 有神经反向。 ■ 肌力下降。

XM-CK810综合穿刺术与叩诊检查训练模型 （全功能诊疗穿刺术模拟病人）   XM-CK810综合穿刺术与叩诊检查训练模型（全功能诊疗穿刺术模拟病人）取仰卧位，肩枕过伸头转向左侧，质地柔软、触感真实、外观形象逼真、解剖位置准确：锁骨、锁骨肩峰端、锁骨胸骨端、胸锁乳突肌锁骨头、胸锁乳突肌胸骨头、肋骨、肋间隙、胸骨上窝、锁骨中线、腋前线、腋中线、腋后线、髂前上棘、髂嵴、脐、腹股沟韧带，可明显感知。   一、功能特点： ■ XM-CK810综合穿刺术模拟人采用高分子材料制成，肤质仿真度高。 ■ 可触及颈动脉搏动，可进行颈内静脉穿刺术、锁骨下静脉穿刺术、颈外静脉穿刺术训练。 ■ 可取半卧位（模拟重症患者）进行胸腔穿刺术、气胸抽气术训练。 ■ 可进行肝脓肿穿刺术训练，可寻到肝区压痛点，有屏息训练语言提示，可随屏息节奏穿刺。 ■ 可进行心内注射术、心包穿刺术训练。 ■ 可进行腹腔穿刺术训练，可取左、右侧卧位，行腹部移动性浊音叩诊训练。 ■ 可进行髂骨骨髓穿刺术训练。 ■ 可触及股动脉搏动，进行股动脉穿刺术、股静脉穿刺术训练。 ■ 可进行术前无菌术操作训练。 ■ 电子监测：进行胸穿和肝穿时，穿刺针要求沿下位肋骨的上缘垂直刺入，如穿刺错误有语言提示。   二、标准配置： ■ 综合穿刺术与叩诊检查训练模拟人：1具 ■ 穿刺操作台：1张 ■ 电源适配器：1个 ■ 穿刺针：2根 ■ 说明书：1册 ■ 保修卡合格证：1张

为解决肠易激综合征治疗中存在的副作用大、增加肠道负担的问题，本发明提供了一种基于中药的治疗脾虚型肠易激综合征的使用隔药灸脐疗法进行治疗的中药组合物。本发明的有益效果：有效治疗肠易激综合征，且用药都为中药，无毒副作用；具有显效快、疗效确切、无痛苦的优点。

原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。