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一种红外目标投影模型指导的飞机感兴趣区测谱方法
本发明公开了一种红外目标投影模型指导的飞机感兴趣区测谱方法，包括：(1)建立投影姿态数据库；(2)对实测飞机目标红外图像进行测谱，包括：(2.1)实测获得飞机目标红外图像；(2.2)获得目标各感兴趣区域轮廓；(2.3)将投影姿态数据库与实测的目标各感兴趣区域轮廓进行比对，确定飞机的姿态以及在此种姿态下的各感兴趣区域的对应几何关系；(2.4)根据整体轮廓与各个感兴趣区域之间的相互关系，确定各感兴趣区域的具体坐标；(2.
华中科技大学
2021-04-14
低功耗型红外二氧化碳传感器COZIR- ambient
产品详细介绍 低功耗型红外二氧化碳传感器COZIR- ambient 功耗仅3.5mW，带温度补偿，湿度补偿，以及感知白天黑夜的环境状态。预热时间仅10S，内置PCB板的封装。有量程0-2000ppm, 0-5000ppm, 0-1%供选择。性能：1)功耗 3.5mW2)峰值电流 33mA3)平均电流小于1.1mA4)电源 3.3～5V5)T90 ＜3分钟6)标准型号温度范围 0°C to 50°C（可扩展-25°C to 55°C）7)湿度适用范围 0 to 95% RH8)存储温度-30°C to +70°C9)尺寸 43mm x 15mm可选项：温湿度传感器，以及其他数字输出
深圳市新世联科技有限公司
2021-08-23
联体泵马达技术（技术）
成果简介：联体泵马达技术是履带车辆液压无级转向及液压复合无级转向的核心技术。联体泵马达的基本原理与分体泵马达相同，在结构上与分体比较具有结构紧凑、可靠性高、外形简单、使用安装方便等特点。联体泵马达对外接口只有输入输出轴和进出油口，易于整体拆装，维护保养方便。世界各国发展的新型和改进型军用履带车辆的传动装置上，几乎全部采用了联体泵马达转向机构。在民用工程车辆上也逐渐开始采用，可实现履带车辆无级转向功能。 项目来源：自行开发 技术领域：先进制造 应用范围：轴向柱
北京理工大学
2021-04-14
快速工装准备技术（技术）
成果简介：成组夹具结构设计技术：基于产品零件族设计可重构、重用的通用成组夹具（多功能通用基础件、可调/可换定位、夹紧元件等），其柔性可以服务于零件族中的全部零件，提高了夹具的利用率，降低成本、缩短夹具准备周期。 计算机辅助工装设计：在复杂工装模块化结构设计的基础上，建立工装的功能模型、结构模型和分析计算模型，并以模块装配特征为基础实现计算机辅助工装设计。 计算机辅助工装管理：建立基于网络的工装信息库，实现对工装库存信息的统计分析、检索查询维护和使用情况管理；并可实现与
北京理工大学
2021-04-14
技术需求：光纤传感技术
光纤传感技术分布式光纤辐照检测技术，对核爆炸中核辐射剂量进行检测，光纤光缆可对探测区辐照剂量进行连续监测；石油勘探、石油输送过程中分布式光纤声波检测技术，光纤可实现对不同位置外声场的变化实时监测。
山东太平洋光纤光缆有限公司
2021-06-16
技术需求：脱白技术
企业未来会针对大型环保设备“脱白”技术进行相关的技术攻关，“脱白”目的是为了降低烟气中含有的水蒸汽，水蒸汽中含有较多的溶解性盐、SO3、凝胶粉尘、微尘等（都是雾霾的主要成分) 如果烟气由烟囱直接排出，进入温度较低的环境空气中，由于环境空气的饱和湿度比较低，在烟气温度降低过程中，烟气中的水蒸汽会凝结形成湿烟羽。造成对大气的不仅是视觉的而且是实质上污染。白色烟雾对光进行折射，造成一定的视觉污染与光污染
山东蓝博环保设备有限公司
2021-08-24
技术需求：窑炉熔化技术
窑炉熔化技术玻璃纤维等复合材料技术自动化技术
山东九鼎新材料有限公司
2021-08-24
《技术合同认定登记管理办法》全文发布！自3月1日起施行
加快培育全国一体化技术市场，健全技术市场制度体系，规范技术合同认定登记管理
工业和信息化部
2026-02-11
黄铜矿类正单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法
一种黄铜矿类正单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法，步骤包括：(1) 根据黄铜矿类正单轴晶体解理面{101}和{112}，利用带有吴氏网标尺的晶体标准极图和 X射线衍射仪θ-2θ连续扫描确定晶体的C轴方向；(2)将已确定C轴方向的晶体置于切 割机上，根据光学元件所需的相位匹配角θm朝近C轴方向转动样品台Δθ后进行切割， 获得光学元件初样，Δθ＝θ(101)-θm；(3)将光学元件初样置于X射线衍射仪样品台 上，测定光学元件初样切割面的回摆谱，获得衍射峰位值θ′及Δθ′，Δθ′＝|θ′- θ′(101)|；(4)光学元件的精加工，对光学元件初样切割面进行修正，直至Δθ′＝Δθ。
四川大学
2021-04-11
黄铜矿类负单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法
一种黄铜矿类负单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法，步骤包括：(1) 根据黄铜矿类负单轴晶体解理面{112}和{101}，利用带有吴氏网标尺的晶体标准极图和 X射线衍射仪θ-2θ连续扫描确定晶体的C轴方向；(2)将已确定C轴方向的晶体置于切 割机上，根据光学元件所需的相位匹配角θm朝远C轴方向转动样品台Δθ后进行切割， 获得光学元件初样，Δθ＝θm-θ(112)；(3)将光学元件初样置于X射线衍射仪样品台上， 测定光学元件初样切割面的回摆谱，获得衍射峰位值θ′及Δθ′，Δθ′＝|θ′- θ′(112)|；(4)光学元件的精加工，对光学元件初样切割面进行修正，直至Δθ′＝Δθ。
四川大学
2021-04-11