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MXY8301 LED/LD光谱分布测试仪
一、产品介绍
“MXY8301 LED/LD光谱分布测试仪”是一款能够探测与分析各种光源在可见谱区范围内分布的“CCD快速光谱仪”，它的探测器是线阵CCD多通道探测器，能够探测各种颜色LED发光管和其他发光体的光谱分布。
由以下几部分构成：由狭缝、分光光栅、凹面镜和线阵CCD光谱探测器等部件构成；
狭缝：仪器信号光输入口为可调缝宽的狭缝（缝宽可调）；
被测LED安装装置：用来安装被测LED等光源；
被测LD安装装置：用来安装被测LD光源；
衍射光栅：采用600lp/mm的衍射光栅对入射光进行分光；
凹面镜：将分出的发射光谱汇聚到线阵CCD像敏阵列上；
光谱探测器：用线阵CCD传感器为探测器，以便同步获得更多的光谱谱线；
数据采集：仪器采用12位A/D数据采集系统；以便获得更高的“强度”分辨率；
接口方式：采用0接口方式与计算机连接；
二、教学目的
1、能够同步快速探测可见光范围的多通道光谱，并对谱线进行分析；
2、进行“LED光谱分布的测量实验”，学习光谱探测原理与光谱分析方法；
3、进行“LED发光光谱半宽度的测量实验”认识LED发光光谱特性和测量方法；
4、利用设备提供的“SDK”软件开发包进行课程设计与毕业设计；
三、实验内容
1、测试各种颜色LED的光谱分布；
2、测试LD半导体激光器的光谱分布；
3、测试其他光的光谱分布；
天津梦祥原科技有限公司
2021-12-17
导热系数测试仪（瞬变平面热流法）
产品详细介绍KY-DRX-RW导热系数测试仪（瞬变平面热流法）
采用先进的瞬变平面热流法，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.015～100 w/m·k之间,适用样品类型：固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等多种材料。参照标准：GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89
主要技术参数：
1、 导热系数范围：0.005～10.0 w/m·k.(金属材料范围可达到0.1～100w/m·k)
2、 样品:直径:30mm或50mm,厚:0.01mm～2mm或0.1mm～45mm
3、 采用高精度18位A/D，高分辨率，1µv的数据采集卡，对试样数据进行采集分析。
4、 操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。
5、 精度≤±3%,重复性≤±1%
6、 热扩散率测量精度：5%
7、 比热测量精度：7%
8、 测量温度范围20～1000℃。亦可定制-200℃～600℃ 规格。
9、配有完整的测试系统及软件平台。
10、操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。
11、可配接不同的接头满足多种环境下的检测。
上海实博实业有限公司
2021-08-23
按键寿命测试仪，按键寿命试验机
产品详细介绍
销售按键寿命测试仪，按键寿命试验机
感谢您对硒铁“按键寿命测试仪，按键寿命试验机”的关注，您的关注是我们前行的动力！有关硒铁按键寿命测试仪，按键寿命试验机的更详细资料请致电硒铁仪器。
本按键寿命试验机可测手机、PDA、电话机、电脑键盘、电子字典之按键及锅仔片、麦拉片、微型开关等按钮、开关之耐久寿命试验。可同时工作、单独工作、测试数个产品（每个产品均可多点测试），按键可以选择不同荷重。
技术参数
1、规格：三工位（或订做五工位）；
2、速度测试范围：15-100次/分钟 速度可调试；
3、测试受台最大承受力10KG；
4、测试头荷重：50G、100G、200G（共三套砝码）；
5、受台上下行程120mm；
6、测试台置物有效尺寸：120 x 200mm
7、冲击运动方式：采用电机凸轮驱动，上下采用直线轴承运动、定位精准、无框动；
8、计数仪表采用可调7位数，0-999999次；
9、电压：220V
http://www.xitie17.com
http://www.szxitie.com
深圳硒铁试验仪器有限公司
2021-08-23
YZZ-10 直流电阻测试仪
产品详细介绍YZZ-10 直流电阻测试仪 仪器仪表 >> 电工及自动化仪表 >> 电阻测量仪
一．概述
本直流电阻测试仪采用单片机控制，大屏幕汉字液晶显示，具有打印输出功能（及232接口）。仪器八个档位均由软件校正，精度达万分之一。可自动换档。机器体积小、重量轻、耗电省、测试数据稳定可靠。是取代直流单、双臂电桥的高精度换代产品。是测量电力变压器等各种感性负载电阻及低压开关接触电阻、电线电缆或焊缝接口电阻的理想仪器。
二．工作原理
本仪器内有一个直流恒流源。在测量时，机器向被试品馈入恒流，该电流在被测体上产生相应的压降，这一电压值取回本机，经放大采样计算后得出电阻值。（R=U/I）
三．技术指标
1、使用条件：
环境温度： -15℃～40℃
相对温度： ≤85％RH
2、测量范围：1K档：1---999.9Ω; 1Ω档：0.1 ---999.9mΩ
3、测量精度：0.2%±5个字
4、分辨率： 1μΩ
5、恒流源： 1A/5ma（2A/10ma）
6、可交流 （AC220V）工作也可直流工作 功耗：≤15W(25W)
7、外形尺寸：330×300×160mm
8、重量： 3.8kg
2KΩ
陕西意联电子科技有限公司
2021-08-23
MICROTEST 7631耐压测试仪/AC/DC/绝缘阻抗
7631耐压测试仪
–True RMS 量测线路
–可设定爬升时间 (0.1s-10s)
–支持 Remote 远程控制信号
–7630 为 2 通道测试、7631 为 8 通道测试
–USB Host 可储存配置文件案及韧体的更新
–电弧侦测功能检测线圈是否有细微的放电现象
–提供 AC 耐压 5000V、DC 耐压 6000V、绝缘阻抗 12GΩ
– 7631 可外接 7508/7516(8/16) 信道扩充扫描盒，满足车用线或 PCB车用测试
‒高压输出安全开关，进行测试时需要将此端口进行短路机台才能输出测试电压
‒测试运行中若该端口发生开路现象，机台会立即停止测试(停止输出电压)
‒机台画面同步会显示INTER LOCK
‒抗电强度
确保电子材料足以抵抗瞬间高电压的测试
例如：检测制程造成的漏电距离和电气间隙不足的瑕疵产品
‒漏电流
预防产品发生故障或瑕疵所导致的危害，进行漏电流测试，如确保线材
绝缘层因制程破坏导致线材本身产生超出漏电流规范值的不良情况
‒绝缘电阻
在某些安全规范下，会先要求做决元电阻，再进行耐压测试，主要检测产
品的绝缘特性是否符合标准范围，测试结果以电阻值Ω表示
关注微信公众号，看产品视频
东莞中逸-益和MICROTEST
2022-06-29
变温霍尔效应测试仪 COC-BWHL
实验内容
1、了解 HALL 效应的基本原理；
2、测量 HALL 样品在恒定磁场条件下，霍尔工作电
流与霍尔电压的函数关系；
3、测量 HALL 样品在恒定霍尔工作电流条件下，霍
尔电压与外加磁场的关系；
4、测量变温情况下，温度与霍尔系数，载流子浓度
之间的关系；
5、通过实验得出在不同温度下样品的霍尔系数和载
流子浓度，计算禁带宽
成都华芯众合电子科技有限公司
2022-06-18
低精度ADC与混合预编码结合的毫米波传输方法及通信系统
本发明公开了低精度模数转换（ADC）与混合预编码结合的毫米波传输方法及通信系统，其中基站和用户在波束扫描阶段采用电子开关在低精度模数转换器和混合预编码模块间切换，在精确信道估计和数据传输阶段均采用混合预编码模块。具体步骤：1、波束扫描阶段基站选通混合预编码模块，将波束训练数据模拟预编码后进行波束扫描；2、用户选通低精度模数转换器模块，从接收数据中估计角度信息；3、用户选通混合预编码模块，将波束训练数据模拟预编码后进行波束扫描或向基站反馈角度信息；4、基站选通低精度模数转换器模块，从接收数据中获取角度信息；5、精确信道估计和数据传输阶段基站和用户选通混合预编码模块，进行精确信道估计和数据传输。
东南大学
2021-04-11
高性能光谱选择性吸波元件及太阳能热光伏系统
本发明公开了一种高性能光谱选择性吸波元件及太阳能热光伏系统，包括金属基底、低折射率介质第一薄膜、高折射率半导体纳米方块阵列、低折射率介质第二薄膜和低折射率介质第三薄膜；低折射率介质第一薄膜均匀覆盖在金属基底上，其上构建棋盘状周期排列的高折射率半导体纳米方块阵列，在高折射率半导体纳米方块阵列之间填充低折射率介质第二薄膜，在其顶部覆盖低折射率介质第三薄膜。本发明通过对金属表面介质薄膜的结构设计，获得良好的光谱选择性；通过选择不同的金属、半导体、介质材料，和（或）改变结构参数，实现灵活的截止波长调控及光谱选择性；本发明同样适用于耐高温的金属、半导体、介质材料，可在太阳能热光伏系统中得到广泛应用。
浙江大学
2021-04-11
提高油菜波里马胞质雄性不育系制种产量和纯度的方法
研发阶段/n本发明属于利用油菜细胞质雄性不育系生产杂交F1种子的技术领域，具体涉及到利用一类不稳定型波里马细胞质雄性不育系在冬油菜产区（长江流域）秋播生产杂交F1种子的杂交制种方法。该技术的目的在于克服已有技术的不足，提供一种制种方法简单但又能提高制种产量和杂种纯度的杂交制种方法。技术水平：专利技术（国家发明专利授权号：ZL01114273.1）应用前景：该技术的发明使得过去认为没有利用价值的不稳定型波里马细胞质雄性不育系应用于油菜杂交种的生产，并提高了油菜种质资源的有效利用；用不稳定型波里马细胞质
华中农业大学
2021-01-12
一种三角波激励磁场下的磁纳米温度测量方法
本发明公开了一种三角波激励磁场下的磁纳米温度测量方法，属于纳米测试技术领域。该方法具体为：（1）将磁纳米样品放置于待测对象处；（2）在磁纳米样品所在区域施加三角波激励磁场；（3）检测三角波激励磁场-时间曲线和磁纳米粒子样品的磁化强度-时间曲线；（4）依据三角波激励磁场曲线和磁化强度曲线得到磁纳米粒子磁化曲线即激励磁场-磁化强度曲线，对该曲线采样获得激励磁场 Hi 下磁纳米粒子样品的磁化强度 Mi；（5）以激励磁场 H
华中科技大学
2021-04-14