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一种用于超分辨定位成像系统的样品池
本发明公开了一种用于超分辨定位成像系统的样品池,包括底座、压板、盖玻片、载玻片、第一螺栓、第二螺栓、进穿板接头与出穿板接头,载玻片安装于压板上,盖玻片安装于底座上,压板腔体外表面与底座腔体内表面间隙配合,并通过第一螺栓连接压板与底座,第二螺栓安装于压板上,通过调节第一螺栓与第二螺栓实现样品空间厚度的改变,进穿板接头与出穿板接头均安装于压板上,实现样品空间与外界环境的连通,通过向进穿板接头注入新的液态生化试剂,从
华中科技大学 2021-04-14
一种三维像素超分辨显微成像方法
一种三维像素超分辨显微成像方法,其特征在于,沿与图像采 集装置传感器平面水平方向 x、竖直方向 y 和显微镜的 z 轴方向各均成 非直角空间偏转角的空间矢量扫描样品,以能够使每两张相邻的图像 切片之间沿着 x,y,z 方向均有亚像素位移的步长进行扫描,通过图像采 集装置采集得到原始三维图像序列 A,将原始图像序列 A 根据无损采 样原则分割成多组三维图像序列 Bi,对 Bi 进行超分辨处理,生成三维 高分辨图像 E,
华中科技大学 2021-04-14
SOC720SW短波红外成像光谱仪900~1700nm
产品详细介绍  SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。  SOC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13  √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是最高质量数据。 使用简单和实时处理  SOC720SW是一个完整的系统,开箱之后即可使用。  系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。  数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。  可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理,克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。  MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分,使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。  配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统,SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。  SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。技术参数:光谱范围: 900-1700 nm光谱分辨率: 6.25 nm光谱通道: 128光谱失真: <1.5 microns  (smile)数字光圈: F/2.4TFOV/IFOV (35MM): 10°/0.015625°分辨率(像素): 640x640 (nominal)LINE RATE: 30 Spatial Lines/SecondCUBE RATE: 20 Seconds/Cube数字分辨率: 14-bit三脚架: 3/8”-16计算机接口: Cameral-Link扫描: 内置供电: AC/12DV重量: 30 lbs.尺寸: 7”x14”x22”  应用领域: 机械视觉  电子学和塑胶  晶片检查  农业品质  化学过程控制农业领域  精准农业  土地分类  水份胁迫  作物健康 温度记录  火点监测  玻璃检测  金属纯度军事  ISR  边境安全  导弹跟踪医学领域  血糖分析  X线断层摄影术
北京安洲科技有限公司 2021-08-23
一种面向超光谱数据库的小波去噪算法
本发明公开了一种面向超光谱数据库的小波去噪算法,属于超光谱数据的处理方法,用于对带有噪 声的超光谱曲线进行降噪。本发明顺序包括小波降噪参数选择、小波降噪。本发明在小波降噪参数学习 过程中充分考虑了超光谱数据库中各种物质超光谱曲线的特性,快速的选择适合超光谱数据库绝大多数 光谱曲线的小波降噪参数,然后使用选择得到的参数对测量到的超光谱曲线进行降噪。该方法能快速的 针对各种不同应用场景的超光谱数据库选择与之适应小波降噪参数,提高了降噪的效果,提高光谱匹配 的准确率。
武汉大学 2021-04-13
基于超像素样本扩充的空谱全卷积高光谱图像分类方法
本成果提出的基于超像素样本扩充的空谱全卷积高光谱图像分类方法有效的利用高光谱图像的超像素分割结果指导伪样本扩充增加了训练集样本数量,解决了高光谱图像有标记样本的稀缺问题,同时空谱的全卷积分类网络也充分利用了多尺度的空间特征和光谱特征实现了较高的分类精度。 成果非涉密,专利申请已经提交。 实验采用反射光学系统成像光谱仪(ROSIS)传感器获取意大利北部帕维亚大学(Pavia  University)的高光谱图像数据。该数据集由 103 个光谱带组成,共 610×340 像素,光谱覆盖范围从 430nm 到 860nm,空间分辨率为 1.3m。该数据集一共含有 9 个类别的 42776个有标记样本,选取每类 30 个有标记样本作为训练集,其余作为测试集。 由下表可以看出,在每类选取 30 个样本的情况下,本 模 型 的 OA,AA,Kappa系 数 比 DFFN 模 型 高 出20.8%,17.4% 和 26.5%;比CNN 高 出 23.1%,18.8% 和29.2%。并且下表证明了使用了伪标签样本扩充的空谱全卷积网络的本方法在小样本情况下每个类的分类准确性均优于 DFFN 和 CNN,达到了较好的分类效果。 表 1 PaviaU 数据集上对比实验结果
西安电子科技大学 2023-03-03
高精度图像对焦伺服控制器及显微成像系统
        技术成熟度:技术突破         领域存在着景深影响效率的突出问题,本产品以高性能异构处理器为核心运算单元,以嵌入式手段通过视觉流与控制流的严格对位,高性能实时完成视频控制信息的结算,并直接输出电机驱动信号控制相关执行机构完成闭环控制。         本产品主要面向高性能伺服闭环控制的视频应用领域,能够显著提升显微工业自动化领域的视频对焦及对位处理的效率及精度,亦可实现宏观领域的视觉嵌入化控制闭环应用。         意向开展成果转化的前提条件:中试放大及产业化工艺开发资金支持
东北师范大学 2025-05-16
一种基于超构透镜阵列的大视场集成显微成像装置
发明(设计)人:李涛, 徐贝贝, 祝世宁。本发明涉及一种基于超构透镜阵列的大视场集成显微成像装置。该装置包括:光源、超构透镜阵列、线偏振片和图像传感器;所述线偏振片固定于所述光源的后方,且所述线偏振片位于所述光源的出射光路上;所述超构透镜阵列固定于所述线偏振片的后方,且所述超构透镜阵列位于所述线偏振片的出射光路上;待成像物体位于所述线偏振片和所述超构透镜阵列之间;所述图像传感器位于所述超构透镜阵列的后方;所述超构透镜阵列中包括周期性排布的多个超构透镜。本发明可以实现在不牺牲分辨率不增加工作距离的条件下,扩大成像视场。
南京大学 2021-04-10
凝胶成像价格,凝胶成像技术,凝胶成像参数
产品详细介绍 凝胶成像价格,凝胶成像技术,凝胶成像参数 凝胶成像即:对DNA或RNA胶 进行切胶、拍照、观察、分析的实验室类仪器,凝胶成像系统可以应用于分子量计算、密度扫描、密度定量、PCR定量等生物工程常规研究。 1、引领国际潮流的人性化设计!工程塑料模具成型,安全、美观、轻便; 2、防紫外弹出式观察窗,无需电脑,观察原始实验结果,方便、快捷; 3、左右侧双开门的一体化割胶装置,配合观察窗使用,舒适、安全; 4、专业软件系统支持的全电脑控制+触摸控制面板双控制体系,控制电源开关、光源控制、光圈、聚焦等观察和拍摄工作,实现污染现场和电脑操作现场隔离,防止交叉污染,确保操作者安全; 5、抽屉式样品载物台,方便取放样品; 6、紫外自动防护装置:拉出载物台取放样品,系统自动关闭紫外光源,防止实验者被高强   度紫外光照射。特殊情况亦可暂时解除防护功能,方便箱体外部的切胶操作。 7、紫外灯管10分钟定时关闭功能,有效延长紫外灯管和紫外玻璃的使用寿命。 主要参数:
上海领成生物科技有限公司 2021-08-23
一种基于时空联合调制和MZI光波导阵列的成像光谱仪
本实用新型公开了一种基于时空联合调制和MZI光波导阵列的成像光谱仪。采用无狭缝成像系统,包括前置镜以及一层干涉光谱仪芯片或者多层干涉光谱仪芯片相层叠而成的三维芯片,每层干涉光谱仪芯片包括主要由模斑转换器阵列、MZI阵列和探测器阵列依次连接而成的光波导结构,MZI阵列由具有不同干涉臂差的MZI平行排列而成,每个MZI的输入端口在成像像面上接收平行于推扫图像区域上同一排或列的像元信号。本实用新型既简化了光路的复杂程度,又极大减轻了成像光谱仪的重量和体积,具有高集成度和高稳定性,并大大提升了系统的入射光通量,使得成像光谱仪小型化、轻型化。
浙江大学 2021-04-13
一种基于稀疏的微小缺陷高频超声显微成像超分辨的方法
本发明属于稀疏超分辨检测领域,并公开了一种基于稀疏的微 小缺陷高频超声显微成像超分辨的方法。该方法包括如下步骤:执行 过采样高频超声显微 C-扫成像;根据过采样时的采样步长与超声探头 分辨率,计算出探头点扩散函数 k;由点扩散函数根据进行稀疏超分 辨计算,获得最终高分辨图像。本发明方法实现了高频显微成像对现 微小缺陷进行超分辨显微成像,增强图像信噪比和分辨率,提高微小缺陷检测的准确性,同时对于微观缺陷的检测有着重要的意义,有效 地推动微器件可靠性的发展。
华中科技大学 2021-04-14
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