一种非金属杂质检测方法
本发明公开了一种非金属杂质检测方法,包括以下步骤:1)将 平板电容器与直流电源连接,使平板电容器的两电极板之间形成稳定 电场;将平板电容器与信号处理装置连接,以在信号处理装置中显示 平板电容器的电容值的信号波形;2)使被测导磁件从平板电容器的两 电极板之间通过;3)观察信号处理装置中获得的平板电容器的电容值 的信号波形是否存在突变区域,以判断被测导磁件上是否存在非金属 杂质。本发明通用性强,信号处理装置集成信号读取和输出功能,用 于检测杂质的装置具有体积小、重量轻、通用性强、造价低等优点, 能极好地
华中科技大学
2021-04-14