幅无载波牛顿环干涉条纹分析技术
本成果提出了针对单幅无载波牛顿环干涉条纹的分析技术,可对球面元件进行干涉测量,获取球面曲率半径和顶点位置,也可以用于测量介质折射率和光源波长。
一、项目分类
关键核心技术突破
二、技术分析
成果提出了针对单幅无载波牛顿环干涉条纹的分析技术,可对球面元件进行干涉测量,获取球面曲率半径和顶点位置,也可以用于测量介质折射率和光源波长。相关技术于2013年提出,利用现代信号/数据处理方法,从一个新的角度解释了牛顿环现象的本质,直接可以通过单幅牛顿环条纹图即可提取出被测球面曲率半径、顶点位置(牛顿环环心)。相关技术在国内外均为首创,经过8年的开发和改进,在科研和教学领域各开发了一个原理样机,具有很好的精度和很低的耗时的特点。相较其它技术而言,技术手段非常简洁,无需昂贵的光学硬件(移相器、载波调制),具有更高的抗干扰和抗噪声能力,在低分辨成像和局部条纹中仍然可以获得高精度测量结果(其它同类方法失效)。可以推广到任何球面干涉测量领域,测量对象可以是任何球面元器件(眼镜、光纤连接器、天文望远镜等),也可以用于折射率和波长测量领域,是一个应用面很广的基础技术。
北京理工大学
2022-08-17