产品详细介绍RFID 物联网电子标签读写器 FR201 高频桌面图书馆管理自助借还读写器 应用 图书馆借还书管理系统 生产线产品检测登记系统 资产检索记录系统 文物管理系统 其它有较大的信息读取的场所 参数性能 产品介绍：适用于各种应用的通用型RFID读写器 主机界面：标准RS232/USB(可选)串行接口，带EDS保护(波特率高达115.2KBPS) 壳体材质：ABS加强塑料 工作温度：0℃～+60℃ 工作频率：13.56MHz 可读标签：ISO 15693 协议标签 射频等级：100mW～300mW ，可通过软件配制 最大读写距离：300mm（与标签以及周边环境相关） 特 性：内置EMI滤波器，电磁兼容性好。效率高，温升低，有过压，短路保护。 交流输入：AC 100-240V 50/60HZ。 直流输出：DC 9V 1.5A。

产品详细介绍JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统   系统介绍 公司在JX100系列产品基础上，嵌入了zigbee功能开发推出最新一代WSN（wireless Sensor Network）/ RFID (Radio Frequency Identification) 一体化开发、教学、实验、通讯、竞赛高级平台——JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统。 泰格瑞德JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统平台由传感器和RFID子系统组成，能够完整的完成最新一代WSN相关传感器和射频识别，微功耗网状无线网络,无线互联和将采集数据送往互联网的全过程多种教学实验，相关网络通讯技术开发，适合现场教学和参加各种竞赛；是学习开发最新WSN技术和RFID技术的一体化最佳平台。 泰格瑞德JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统平台在原有的JX100 RFID教学实验系统平台上加入了ZIGBEE无线通信功能，应用IEEE 802.15.4无线通讯标准，在RFID教学的基础上与无线传感技术、局域网技术结合；将zigbee部分的传输功能应用到实际实验操作，对小范围的物品、人员等进行定位，从而模拟室外物流运运输的实时定位等功能。 泰格瑞德JX200系列平台RFID教学实验系统是由UHF超高频部分和HF高频部分、LF 低频125K部分组成的，目前这个平台支持 125K ID、ISO14443、ISO/IEC 15693 (ISO18000-3)、 ISO18000-6C标准协议。这些部分都能任意组合，与zigbee物联网结合起来。不仅可以完成电子标签读写、信号检测、软件开发、对国标指令的剖析等基本功能，而且在JX100系列的基础上更加贴近实际操作应用；通过zigbee模块实现数据传输、实时定位等功能，使JX200的功能更加完善。 UHF超高频部分工作频率为915MHz,输出功率功率可以调整，在小功率和连接小增益天线的情况下，可以稳定可靠读取1米距离范围内的，兼容EPC GLOBAL 第二代（Gen2）标准和兼容ISO-18000-6标准的各种无源电子标签。 HF高频部分工作在13.56MHz频道，能够实现对符合ISO15693 (ISO18000-3)的标签进行读写，同时通过示波器能够提取、展现出教学实验系统中的射频信号，并且可以对国标指令一一进行解析让学生了解到国标指令的内容。 RFID教学实验系统是基础系统，我公司将提供相关软件的API和相关控制样板源代码以及详细的使用说明书，让用户能快速入门和使用最新的RFID技术。 LF 125K低频部分工作在125KHz频道，与目前ID门禁卡读卡器协议一致，完全支持EM、TK及其125K兼容ID卡片的操作。 JX200系列平台 ZIGBEE网络子系统包括最新ZIGBEE网络协议栈，多个ZIGBEE为功耗传感器网络节点，实现网状网络和物品、人员的实时监控功能演示，传感器网络数据收集功能和相关样板源代码等等。 产品特色: 1、硬件方面： 1、拥有15个强制指令和可选指令的执行，能提取、展现出WSN系统中整个的射频信号，包括：编码信号、载波信号、调制信号、调制载波信号、功率放大信号、电子标签返回的信号、FSK解调信号、ASK解调信号。就像一个透视镜，通过信号测量点连接到示波器上能够非常直观地看清楚RFID系统中的射频信号，使我们对RFID射频方面不再陌生。 　 2、本公司通过使用更底层的技术，采用分立器件，使发射器和接收器分立，并与该读写器的其他组成部分可拆装的连接，可以对发射器和接收器的发射、接收功率进行独立配置，使得我们公司的WSN RFID教学实验产品能够发出能量高、功率大的信号，标签返回信号检测性能更高，读写距离可以达到30cm以上，为现有高频读写器的三倍以上。 　 3、公司独立研发的编解码技术，也使本公司WSN RFID教学实验设备一次同时能读取的标签数量达到数百个，是普通读写器能读取标签数量的10倍甚至几十倍，在需求同时大量标签读取的应用方面，独占优势。 2、RFID国际标准指令方面 我们的WSN RFID实验产品，囊括了当今应用最为广泛的国际标准指令。把RFID际标准下的技术标准的ISO18000（ISO18000－3，ISO18000－6），ISO15693，ISO14443下面的相关指令拿出来一一进行了解析。把指令包，按照功能作用，一一拆开进行讲析。并且提供大量的实验通过平台，执行指令，直观的告诉使用者，指令里面不同地方的指令内容的作用。使用者可以直观、形象地感受RFID国际标准指令执行的情况，掌握这些指令的作用和使用方法。 这两项功能在目前全世界相近产品里面，只有我们的产品能提供。 3、RFID软件方面 我们WSN RFID教学实验产品，提供了全部的应用系统的源代码，包括图书馆管理系统和枪支管理系统。让使用者能非常迅速的掌握了应用系统开发的能力。通过实验，可以帮助使用者，不仅使用API接口函数实现RFID应用系统的设计开发，而且还培养使用者从更底层，通过直接命令更加直接的控制读写器，模拟实现实际系统的功能，模拟整个系统的开发流程，实现整个应用系统的功能。 平台规格 频率：125KHz/13.56MHz/900MHz/2.4GHz 传输协议：Zigbee（IEEE 802.15.4） 协议：ID/ISO/IEC 14443/ ISO/IEC 15693 /ISO/IEC18000-6 自动应答类型：ID（125K）/近场（13.56MHz）/远场（900MHz） 感应区域：10cm以内（125K、ISO 14443)/30cm( ISO 15693)/ 1m以内（900MHz） PC接口：RS232C 电源：9V DC / 12V DC

产品详细介绍JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统   系统介绍 公司在JX100系列产品基础上，嵌入了zigbee功能开发推出最新一代WSN（wireless Sensor Network）/ RFID (Radio Frequency Identification) 一体化开发、教学、实验、通讯、竞赛高级平台——JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统。 泰格瑞德JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统平台由传感器和RFID子系统组成，能够完整的完成最新一代WSN相关传感器和射频识别，微功耗网状无线网络,无线互联和将采集数据送往互联网的全过程多种教学实验，相关网络通讯技术开发，适合现场教学和参加各种竞赛；是学习开发最新WSN技术和RFID技术的一体化最佳平台。 泰格瑞德JX200系列 WSN/RFID物联网教学实验系统平台在原有的JX100 RFID教学实验系统平台上加入了ZIGBEE无线通信功能，应用IEEE 802.15.4无线通讯标准，在RFID教学的基础上与无线传感技术、局域网技术结合；将zigbee部分的传输功能应用到实际实验操作，对小范围的物品、人员等进行定位，从而模拟室外物流运运输的实时定位等功能。 泰格瑞德JX200系列平台RFID教学实验系统是由UHF超高频部分和HF高频部分、LF 低频125K部分组成的，目前这个平台支持 125K ID、ISO14443、ISO/IEC 15693 (ISO18000-3)、 ISO18000-6C标准协议。这些部分都能任意组合，与zigbee物联网结合起来。不仅可以完成电子标签读写、信号检测、软件开发、对国标指令的剖析等基本功能，而且在JX100系列的基础上更加贴近实际操作应用；通过zigbee模块实现数据传输、实时定位等功能，使JX200的功能更加完善。 UHF超高频部分工作频率为915MHz,输出功率功率可以调整，在小功率和连接小增益天线的情况下，可以稳定可靠读取1米距离范围内的，兼容EPC GLOBAL 第二代（Gen2）标准和兼容ISO-18000-6标准的各种无源电子标签。 HF高频部分工作在13.56MHz频道，能够实现对符合ISO15693 (ISO18000-3)的标签进行读写，同时通过示波器能够提取、展现出教学实验系统中的射频信号，并且可以对国标指令一一进行解析让学生了解到国标指令的内容。 RFID教学实验系统是基础系统，我公司将提供相关软件的API和相关控制样板源代码以及详细的使用说明书，让用户能快速入门和使用最新的RFID技术。 LF 125K低频部分工作在125KHz频道，与目前ID门禁卡读卡器协议一致，完全支持EM、TK及其125K兼容ID卡片的操作。 JX200系列平台 ZIGBEE网络子系统包括最新ZIGBEE网络协议栈，多个ZIGBEE为功耗传感器网络节点，实现网状网络和物品、人员的实时监控功能演示，传感器网络数据收集功能和相关样板源代码等等。 产品特色: 1、硬件方面： 1、拥有15个强制指令和可选指令的执行，能提取、展现出WSN系统中整个的射频信号，包括：编码信号、载波信号、调制信号、调制载波信号、功率放大信号、电子标签返回的信号、FSK解调信号、ASK解调信号。就像一个透视镜，通过信号测量点连接到示波器上能够非常直观地看清楚RFID系统中的射频信号，使我们对RFID射频方面不再陌生。 　 2、本公司通过使用更底层的技术，采用分立器件，使发射器和接收器分立，并与该读写器的其他组成部分可拆装的连接，可以对发射器和接收器的发射、接收功率进行独立配置，使得我们公司的WSN RFID教学实验产品能够发出能量高、功率大的信号，标签返回信号检测性能更高，读写距离可以达到30cm以上，为现有高频读写器的三倍以上。 　 3、公司独立研发的编解码技术，也使本公司WSN RFID教学实验设备一次同时能读取的标签数量达到数百个，是普通读写器能读取标签数量的10倍甚至几十倍，在需求同时大量标签读取的应用方面，独占优势。 2、RFID国际标准指令方面 我们的WSN RFID实验产品，囊括了当今应用最为广泛的国际标准指令。把RFID际标准下的技术标准的ISO18000（ISO18000－3，ISO18000－6），ISO15693，ISO14443下面的相关指令拿出来一一进行了解析。把指令包，按照功能作用，一一拆开进行讲析。并且提供大量的实验通过平台，执行指令，直观的告诉使用者，指令里面不同地方的指令内容的作用。使用者可以直观、形象地感受RFID国际标准指令执行的情况，掌握这些指令的作用和使用方法。 这两项功能在目前全世界相近产品里面，只有我们的产品能提供。 3、RFID软件方面 我们WSN RFID教学实验产品，提供了全部的应用系统的源代码，包括图书馆管理系统和枪支管理系统。让使用者能非常迅速的掌握了应用系统开发的能力。通过实验，可以帮助使用者，不仅使用API接口函数实现RFID应用系统的设计开发，而且还培养使用者从更底层，通过直接命令更加直接的控制读写器，模拟实现实际系统的功能，模拟整个系统的开发流程，实现整个应用系统的功能。 平台规格 频率：125KHz/13.56MHz/900MHz/2.4GHz 传输协议：Zigbee（IEEE 802.15.4） 协议：ID/ISO/IEC 14443/ ISO/IEC 15693 /ISO/IEC18000-6 自动应答类型：ID（125K）/近场（13.56MHz）/远场（900MHz） 感应区域：10cm以内（125K、ISO 14443)/30cm( ISO 15693)/ 1m以内（900MHz） PC接口：RS232C 电源：9V DC / 12V DC  

YK600智能物联秤搭载化学品智能管理系统平台，集成自动识别RFID的称量系统，通过大屏触控操作，显示管理单元的药剂详细信息（数量、位置），登陆后可选择取用、归还、报废 、查询记录等功能菜单，操作自动化记录取用人员及物品信息，且自动计算使用量及余量，支持自动台账记录，生产数据报表。便捷高效的数据共享互通，管理者实时查询监管，实现化学品的规范化、实时性的智能管理。可应用于化学品仓库和暂存间出入库、取用管理，也适用于终端实验室的化学品使用的精细化管理。

面向物联网、电子信息及计算机专业教学。包含硬件设备、软件平台和教学资源库的完整教学实验体系，可应用于相关课程的原理展示、动手实验及综合实训。

III-V族半导体合金体系热、动力学计算机辅助分析系统建立并完善了含Al-Ga-In-N-P-As-Sb-C-H等多元体系的III-V族合金化合物半导体热力学数据库，使之成为当前国际上数据资源相对丰富、可靠程度高的专业型数据库。在此基础上，应用该计算机辅助分析系统，可采用统一的成分空间表达方式，将覆盖四元半导体整个成分空间的光电性能（能量间隙或波长）、与相应衬底匹配的成分条件、以及各种温度下发生溶解间隙的成分范围，投影于一平面，构成III-V族半导体体系综合优化图，用以对金属有机物气相外延工艺进行辅助分析、确定满足优质半导体生长的成分空间、预测外延层半导体的成分等。同时，该系统还发展了非平衡过程分析研究方法：亚稳平衡处理、条件平衡处理和不可逆过程分析处理等，这些方法有助于III-V族半导体液相外延、气相外延和金属有机物气相外延工艺过程的热力学分析。 该项目面向光电子材料和器件的研制与生产 III-V族半导体合金体系热、动力学计算机辅助分析系统，目前主要是作为应用研究，服务于有关光电子材料和器件的研制与生产过程中工艺条件的辅助设计，以促进III-V族半导体液相外延、气相外延和金属有机物气相外延工艺逐步从经验设计迈向科学设计，在相关领域的高技术产业化方面起积极作用。 Al-Ga-In-N-P-As-Sb-C-H等多元体系的III-V族合金化合物半导体热力学数据库；瑞典皇家工学院Thermo-Calc相平衡热力学计算软件。

第三代半导体氮化镓和碳化硅因其禁带宽、稳定性好等优点，已广泛应用于电子和光电子等领域。各种氮化镓和碳化硅基器件是5G技术中的关键器件。将半导体晶片制成器件，其中的一个关键加工步骤是晶片表面的抛光。然而，氮化镓和碳化硅的化学性质极其惰性，半导体工业目前常用的化学机械抛光方法无法对其实现高效加工。对此，我们从原理上创新发展了一种光电化学机械抛光技术，不仅可快速加工各种化学惰性半导体晶片（如:加工氮化镓的材料去除速率可达1.2 μm/h，比目前的化学机械抛光的高约10倍），而且可加工出原子台阶结构的平滑表面。设备简单，技术具有完全的自主知识产权。

本项目利用一种新型结构独特的兼具准直和选频功能的混合菲涅尔透镜衍射光栅光学元件来实现一种小型集成化、窄线宽的半导体激光器。结合混合菲涅尔透镜衍射光栅光学元件外腔技术，使激光线宽小于50 kHz水平，实现微型化的厘米长度的窄线宽相干激光光源的批量制备。

超高迁移率层状Bi2O2Se半导体的电子结构及表面特性。首先使用改良的布里奇曼方法得到高质量的层状Bi2O2Se半导体单晶块材，其低温2 K下霍尔迁移率可高达~2.8*105 cm2/Vs（可与最好的石墨烯和量子阱中二维电子气迁移率相比），并观测到显著的舒布尼科夫-德哈斯量子振荡。随后，在超高真空条件下，研究组对所得Bi2O2Se单晶块材进行原位解理，并利用同步辐射光源角分辨光电子能谱（ARPES）获得了非电中性层状Bi2O2Se半导体完整的电子能带结构信息，测得了电子有效质量（~0.14 m0）、费米速度（~1.69*106 m/s，约光速的1/180）及禁带宽度（~0.8 eV）等关键物理参量。

浙江大学聚焦超洁净流控系统基础研究、技术攻关和产品研发，攻克了影响光刻分辨率、良品率与产率的1mk级温度测控、5ppt级金属离子测控、20μm级气泡测控、50nm级残留液膜测控等关键核心技术 一、项目分类 关键核心技术突破 二、技术分析 如何通过超洁净流控技术降低流控污染，减少曝光缺陷，提升曝光良率，是国产高端半导体制造装备研制面临的重大挑战，直接关乎整机产品的产线应用性能与市场竞争力。此外，作为各类半导体制造装备的共性核心零部件，超洁净流控部件市场被美国、日本等国垄断，使我国半导体制造装备产业面临核心零部件“卡脖子”风险。浙江大学流体动力与机电系统国家重点实验室启尔团队所承担的高端半导体制造装备核心分系统之一的超洁净流控系统，自2004年以来在国家863计划和国家02专项支持，聚焦超洁净流控系统基础研究、技术攻关和产品研发，攻克了影响光刻分辨率、良品率与产率的1mk级温度测控、5ppt级金属离子测控、20μm级气泡测控、50nm级残留液膜测控等关键核心技术，完成了超洁净流控系统九大组件的研制和集成测试，为半导体制造设备扫描速度与产能的提高提供基础理论与方法依据，同时自主研发的半导体机台核心超洁净流控零部件实现了产品化，突破了国外技术的封锁，为我国半导体制造的发展与自主创新提供了基础支撑。