为了更加直观地探究纳米世界，大量研究者致力于发展高时间-空间分辨能力的微纳探测技术，由龚旗煌院士负责的“飞秒-纳米时空分辨光学实验系统” 国家重大科研仪器研制项目正是围绕这一目标开展工作。近日，该重大仪器项目在基于超快光电子显微镜技术实现表面等离激元的多维度探测方面取得重要进展，相关成果于2018年11月19日发表在《自然通讯》 杂志（Manipulation of the dephasing time by strong coupling between localized and propagating surface plasmon modes, https://doi.org/10.1038/s41467-018-07356-x）。 基于金属纳米粒子的局域表面等离激元因其高局域强度，小局域尺度，高灵敏度等特点，被大量应用在不同领域。但是，几个飞秒的超短模式寿命(dephasing time)大大限制了其应用的广泛性和实用性。该工作设计的多层结构实现了局域表面等离激元和传播表面等离激元的强耦合(图1(a))。动态数值模拟结果也清晰地证明在强耦合下局域表面等离激元模式和传播表面等离激元模式之间的能量交换。近场方面，光电子显微镜对表面等离激元模式进行直接成像，大大突破了原有的远场探测技术的限制。并且结合不同激发光源，实现不同维度的探测。结合波长可调的激光光源，光电子显微镜在频域记录下表面等离激元模式随波长变化的强度演化过程(图1(b))。结合超快泵浦探测技术，光电子显微镜在时域记录下表面等离激元模式随时间变化的演化趋势。该工作更加深入并直观地探测强耦合体系中的能量转换过程，并通过强耦合中失谐量的改变实现模式寿命的操控，相较于未耦合的局域表面等离模式，强耦合的模式寿命由6飞秒(10-15秒)提高到10飞秒。这一研究成果对进一步发展基于表面等离激元的人工光合成、生物传感等应用具有重要的指导价值。图1、（a）光电子显微镜和多层结构示意图，（b）远场和近场探测曲线、不同波长激光激发下光电子显微镜记录的局域表面等离激元模式分布图。 此研究是由北京大学和日本北海道大学共同合作完成，北京大学物理学院博士生杨京寰和重大仪器项目的国际合作者、北海道大学助理教授孙泉为该文章的共同第一作者，北京大学龚旗煌院士和北海道大学Misawa教授为共同通讯作者。除了自然科学基金委的国家重大科研仪器研制项目，该工作还得到了科技部、北京大学人工微结构和介观物理国家重点实验室、极端光学协同创新中心、“2011计划”量子物质科学协同创新中心、日本文部科学省及学术振兴会、北海道大学纳米技术平台等单位的支持。目前国家重大科研仪器研制项目“飞秒-纳米时空分辨光学实验系统”的研制正在有序推进中，已经取得了一批包括此工作在内的阶段性成果。该实验系统的核心仪器是附带低能电子显微功能的光电子显微镜(PEEM), 其激发光的波长覆盖范围从极紫外到近红外(图2)。下一步该实验系统有望在二维材料、光电材料与器件、表面介观物理等研究领域大显身手、发挥积极作用。图2、北京大学研究团队的飞秒纳米时空分辨系统

该实验系统能够同时实现几个飞秒的超高时间分辨率和四纳米的超高空间分辨率，成为介观光学与微纳光子学研究的强大实验测量手段。

产品详细介绍产品简介：　　 NMI20核磁共振造影剂驰豫率分析成像测试仪是一款经典的小核磁，专为核磁共振造影剂研究应用设计开发而成，该设备配套有造影剂专用弛豫时间测试软件,磁共振成像软件，可以直接测试得到不同浓度造影剂样品的T1、T2弛豫时间，R1、R2弛豫速率以及造影剂样品的弛豫效率r，并可完成T1加权成像，,T2加权成像和质子密度加权成像。弛豫时间测试过程非常简单，样品无需特别配置，软件实现中英文双语选择界面，操作简便，易学易用。技术指标：1、磁体类型：永磁体；2、磁场强度：0.5±0.08T，仪器主频率：21.3MHz；3、探头线圈直径：15mm；应用解决方案：1、Gd类，Fe类，Mn类等核磁共振造影剂T1、T2弛豫时间测试，弛豫效率r测试；2、不同浓度造影剂样品成像，T1,T2加权成像，直观评价造影效果；3、细胞液弛豫测试与成像　　.....应用案例一：四氧化三铁，T2磁共振靶向造影剂弛豫率测试，磁共振成像测试应用案例二：Gd+ 类T1 磁共振造影剂测试实例，T1弛豫时间测试，T1加权成像应用案例三：不同浓度磁共振造影剂对比成像注：仪器外观如有变动，以产品技术资料为准。

项目简介： 南开大学微电子专业以集成电路设计为主要发展目标，现有一批 集成电路设计的师资力量，具有现成的教学体系，能够在数模混合集 成电路、射频集成电路、SoC 系统集成设计等方面提供技术服务。 具有 10 余批次集成电路流片的经验，具有集成电路设计与实践 的软硬件条件，支持设立集成电路设计实验基地，支持集成电路设计 的小微企业的创立和发展，提供技术培训、设计实验和合作开发等。 

本发明属于图像处理技术领域，具体涉及一种锡膏印刷机相机的标定方法，该方法包括以下步骤，(1)结合锡膏印刷机实际生产情况， 在锡膏印刷机上建立 4 个坐标系;(2)建立锡膏印刷机坐标系系统坐标 转化关系;(3)采集图像，对坐标系系统关键参数标定;(4)图像坐标系 到世界坐标系的坐标转化误差分析;(5)建立 UVW 平台的旋转模型; (6)根据计算得到的 UVW 平台的移动量移动 UVW 平台，检查对位精 度，以验

本发明公开了一种可计算的三维彩色印刷方法，用于在三维物体表面上生成用户指定的彩色纹理图案。该方法通过对传统水转印刷过程中PVA膜的运动和形变进行建模和模拟计算，得到PVA膜上每个像素与物体表面点之间的映射函数，进而利用该映射函数计算出打印在PVA膜上的纹理图案。本发明进一步包含了一套机械装置和一个三维视觉系统实现精确可控的水转印刷，将用户指定的纹理图案精确印刷到物体表面。本发明还包括一种多次水转印刷方法，将复杂物体表面分成多个部分，每个部分单独着色，最终完成整个物体表面的着色。

中试阶段/n高导电高分子点胶是一种具有电磁屏蔽功能、使用时可在施工部位就地成型的一类电磁密封材料。在成型前呈膏状，成型时通过在需要电磁密封部位挤压成所需要的形状，在常温下自动固化，形成弹性体衬垫。具有高电性能而达到电磁屏蔽的目的。该材料最大的优点是可将这种半流体状材料，按照客户指定的尺寸和形状要求，直接点涂到电子装置部件，在室温下成型成衬垫，消除了使用传统衬垫时裁切成型及装配工序，从而大大节省装配时间和制造成本，产品无污染。主要用于电子产品。技术指标：体积电阻率＜0.08Ω?cm；绍A硬度：45-7

已有样品/nCMOS 研究团队创新性地在high-k/InGaAs 界面插入极薄外延InP 层， 将high-k/InGaAs 的界面缺陷有效推移至high-k/InP 之间。通过采用多硫化氨[(NH4)2Sx]对InP 进行表面钝化处理并结合低温原子层高k 介质沉积技术，有效抑制了在介质沉积以及金属化后退火过程中的表面氧化和磷原子脱附效应，成功将high-k/InP 界面的最低缺陷密度降低至2 × 1011 cm-2eV-1 ， 有效克服了

产品详细介绍特点：·读数表内嵌有数据采集器，可存储数据并轻松下载；·可田间及河流速测；·防溅设计；·操作简单。技术规格：1.测量范围：0.00 ~ 199.9 mS/cm2.测量精度：± 2%3.存储容量：1080个数据（648个当连接GPS时）4.供电：4节AAA电池5.电量：约可工作30个小时6.电导率电极：2220FS电导率电极长度20厘米，2225FSP T型手柄电导率电极长度60厘米

产品详细介绍含油轴承密度测试仪，含油率检测仪，QL－300P粉末冶金含油轴承密度测试仪，可正确疾速测定粉末冶金压铸件、含油轴承等产品的密度、含油率。针对浸过油的粉末冶金产品，如：齿轮、粉末冶金构造零件、铁基÷铜基含油轴承、锌铝合金压铸件等，只要3步操作，2秒即可直读产品的【密度、含油率】。　 含油轴承密度测试仪，含油率检测仪实用于：各大粉末冶金产品制作厂、电功工具消费厂、含油轴承、汽车配件五金厂、压铸件厂、不锈钢材厂、粉末冶金资料厂等。 含油轴承密度测试仪，含油率检测仪的技巧参数：密度测量精度： 0。001g÷cm3，千分之一精度，另有万分之一精度的机型可选购含油率解析： 0。01％比重测试规模： 大于1或小于1均可测试最大称重： 600g（另有：120g、300g的机型可选购）可测产品类型： 各类粉末冶金生胚件、烧结成品、压铸件、含油轴承等，及铁粉、铝粉等粉末产品可测参数： 密度、比重、含油率、粉末真密度设　　定： 温度弥补设定、溶液弥补设定、饱和媒介液密度的设定（可设定油的密度）打印接口： 规范RS－232接口，不便将屡次测量后果打印输入消费地： 台湾