一、产品介绍        光电成像基础与应用实训平台包括CCD和CMOS两大方面，这两方面原理与应用是《光电技术》和《图像传感器应用技术》课程重要章节，也是教学的难点章节，因此，monxyuan开发了光电成像基础与应用实训平台。该平台采用搭建式、开放式设计，直观展现了线阵CCD、面阵CCD和CMOS的工作原理，并且设置了工程实际检测的实验，是学生理解和认识CCD和CMOS工作原理与实际应用的最理想的教学实验系统。 二、教学目的 1、了解并掌握线/面阵CCD和CMOS的原理； 2、了解线/面阵CCD和CMOS的软件使用方法； 3、了解并掌握面阵CCD和CMOS信号处理方法； 4、了解并掌握运用面阵CCD和CMOS进行尺寸测量和图像处理的方法； 5、了解并掌握学生掌握线阵CCD的几种典型的应用； 三、实验内容 1、面阵CCD 原理与驱动实验； 2、面阵CCD 数据采集与计算机接口实验； 3、面阵CCD 边缘与轮廓检测； 4、面阵CCD物体尺寸测量实验； 5、面阵CCD 图像的点运算； 6、面阵CCD 图像的几何变换； 7、面阵CCD 图像采集与参数设置； 8、面阵CCD 投影与差影图像分析； 9、面阵CCD 图像的滤波与增强； 10、面阵CCD 形态学处理； 11、面阵CCD 旋转与缩放； 12、面阵CCD 颜色识别与变换； 13、面阵CCD图像采集程序设计；  14、线阵CCD 工作原理与驱动波形观测； 15、线阵CCD 模拟输出信号的调整； 16、通过采集卡对线阵CCD的模拟输出信号进行A/D转换和数据采集； 17、通过软件浮动阈值对CCD的输出信号进行二值化处理； 18、利用线阵CCD 对物体尺寸进行非接触的实时测量； 19、利用线阵CCD 对物体的角度进行测量； 20、利用线阵CCD 测量物体的振动； 21、利用线阵CCD识别一维条形码； 22、利用线阵CCD扫描物体的二维图像； 23、利用外置相机进行实物尺寸测量 24、用硬件提取边缘信号的二值化 25、CMOS原理与驱动实验； 26、CMOS数据采集实验； 27、CMOS图像采集程序设计 28、CMOS用于边缘与轮廓检测实验； 29、CMOS用于物体的尺寸测量实验； 30、CMOS用于图像采集与参数设置实验； 31、CMOS用于投影与差影图像分析实验； 32、CMOS用于图像的滤波与增强实验； 33、CMOS用于颜色识别与变换实验； 34、扩展性实验     （1）通过提供的CPLD程序，学生可以了解CPLD对外围器件的控制；     （2）有能力的学生还可以自己编程来产生方波；     （3）通过提供的SDK和DEMO程序，编写程序来采集扩展相机的数字信号；     （4）利用扩展相机并编写软件进行其他如尺寸测量等实验等； 四、配套文件资料 1、实验指导书1本； 2、实验软件1套； 3、实验录像光盘1套；    客户自行配置电脑及示波器    

智能制造综合实训平台是一款多功能实训设备。由工业机器人控制系统、数控机床控制系统、可编程控制器（PLC）、触摸屏（HMI）、场景系统、MES系统等组成，通过真实工业机器人控制器、数控系统、PLC及电路控制虚拟场景中的设备。本设备还配备自定义I/O 接线仿真功能模块，用户可自定义删除和连接I/O端口的接线设置，从而可以按自定义的I/O接线进行PLC程序编辑，拥有自主搭建场景功能。   智能制造综合实训平台面向智能制造专业群可开展《工业机器人操作与编程》、《数控车床操作与编程》、《数控铣床和加工中心操作与编程》、《数控系统参数调试》、《PLC编程与应用》、《触摸屏组态控制》、《智能制造综合调试》等课程的教学、考核，以及各类智能制造、工业机器人应用，智造单元改造、数控机床维修改造技术等大赛赛前训练。

NI PXI集成电路实验室验证测试平台可以灵活的完成各类集成电路器件和芯片的实验室验证工作，NI PXI平台在集成电路实验室验证测试应用中处于领导地位，平台部署在包括Intel、ADI、TI在内的诸多全球顶尖集成电路公司的测试实验室中完整各种实验室测试验证应用。

计算机控制系统的抗干扰是计算机软、硬件设计中必须考虑的重要问题，而程序计数器 PC 的抗干扰俗称 “ 程序跑飞 ” 问题，又是设计中需主要解决的问题之一。现有解决 “ 程序跑飞 ” 的常用方法包括设置 “Watchdog” 监视器、设置程序指针陷阱或使用复位指令等。通过对计算机控制系统抗干扰的研究，在 “ 程序跑飞 ” 的故障中，程序计数器 PC 的内容变化有一定规律的。我们以 PC 被干扰后其内容分布在程序存储器空间的区域不同，将干扰分为三种： Me 区干扰； Mo 区干扰； Mf 区干扰。该专利提供一种计算机中央处理器的抗干扰方法，其硬件设计简单、使用操作简便，能够简易能快速发现程序在空白程序存储区 Me 和空闲程序存储区 Mf 的干扰问题。

III-V族半导体合金体系热、动力学计算机辅助分析系统建立并完善了含Al-Ga-In-N-P-As-Sb-C-H等多元体系的III-V族合金化合物半导体热力学数据库，使之成为当前国际上数据资源相对丰富、可靠程度高的专业型数据库。在此基础上，应用该计算机辅助分析系统，可采用统一的成分空间表达方式，将覆盖四元半导体整个成分空间的光电性能（能量间隙或波长）、与相应衬底匹配的成分条件、以及各种温度下发生溶解间隙的成分范围，投影于一平面，构成III-V族半导体体系综合优化图，用以对金属有机物气相外延工艺进行辅助分析、确定满足优质半导体生长的成分空间、预测外延层半导体的成分等。同时，该系统还发展了非平衡过程分析研究方法：亚稳平衡处理、条件平衡处理和不可逆过程分析处理等，这些方法有助于III-V族半导体液相外延、气相外延和金属有机物气相外延工艺过程的热力学分析。 该项目面向光电子材料和器件的研制与生产 III-V族半导体合金体系热、动力学计算机辅助分析系统，目前主要是作为应用研究，服务于有关光电子材料和器件的研制与生产过程中工艺条件的辅助设计，以促进III-V族半导体液相外延、气相外延和金属有机物气相外延工艺逐步从经验设计迈向科学设计，在相关领域的高技术产业化方面起积极作用。 Al-Ga-In-N-P-As-Sb-C-H等多元体系的III-V族合金化合物半导体热力学数据库；瑞典皇家工学院Thermo-Calc相平衡热力学计算软件。

本发明提供故障模拟器及计算机联锁CAN总线通信故障测试方法，故障模拟器过通信机与计算机联锁主机相连，包括：环回数据模拟器接收通信机发的来自于计算机联锁主机的驱动数据包，测试通信机输出链路正确性，根据通过检验的驱动数据包生成环回数据包并进行故障注入生成各种类型的错误环回帧并发给通信机，测试各错误场景下通信机与计算机联锁主机处理方式是否正确；采集数据模拟器仿真继电器驱采单元接收到驱动数据包的处理，判断驱动数据包有效性及测试通信机输出链路正确性，将采集数据包通过环回数据模拟器及通信机发给计算机联锁主机，测试联锁主机收到错误采集数据时处理是否正确。可实现计算机联锁CAN总线通信多种故障测试，测试结果准确。

本发明公开了一种深部巷道软弱煤岩松动圈厚度的计算方法及应用该方法的测量装置，该算法包括以下步骤：(1)定义测点的初始位置距巷道表面的距离为r，测点的位移为u，所述测点在深部巷道软弱煤岩钻孔中并位于松动圈范围内，构建如下u随r变化的表达式：其中，u0、k1和k2为系数；(2)测量两个以上测点的u随r变化的过程，计算得出k1和k2的值；(3)将得出的k1和k2的值带入如下公式，计算得出深部巷道软弱煤岩松动圈厚度L的值：L＝?k2ln(20k2/k1)。本发明计算方法简单、合理，容易实施，而且计算准确度高

本发明公开了一种云计算服务器集群网络保障方法，包括：虚 拟机资源分配管理模块对管理员提供的服务器集群网络拓扑、服务器 集群计算和存储资源进行初始化，请求调度管理模块接收租户提交的 创建服务请求，根据虚拟机资源分配管理模块中的服务器集群网络拓 扑以及服务器集群计算和存储资源进行服务请求放置分析，以确定创 建服务请求对应的虚拟机所要放置的服务器，虚拟机资源分配管理模 块根据请求调度管理模块中虚拟机放置的分析结果在虚拟机集

本项目提出一种基于数据总线工作模式可切换的超导量子计算机芯片结构设计(发表于国际一流期刊PRB，2005)，相比于美国Google公司、IBM公司、加拿大D-Wave公司的超导量子计算机芯片而言，具有更强的纠错和避错品质，更易于实现大规模阵列集成。 一、项目分类 重大科学前沿创新 二、成果简介 提出一种基于数据总线工作模式可切换的超导量子计算机芯片结构设计(发表于国际一流期刊PRB，2005)，相比于美国Google公司、IBM公司、加拿大D-Wave公司的超导量子计算机芯片而言，具有更强的纠错和避错品质，更易于实现大规模阵列集成。技术上已经实现了全国产设备工艺线上，芯片电路单元核心器件-约瑟夫森结和共面波导超导谐振器的自行设计制造，在极低温环境下完成了单元器件性能的标定和检验。

本发明公开了一种云计算环境下面向并行应用的动态时间片调 度方法及系统；其中，动态时间片调度方法包括：自旋锁延迟采样； 建立虚拟机与虚拟机监视器之间的通信通道，传递自旋锁延迟采样值； 自旋锁延迟统计，获取虚拟机自旋锁延迟的平均值；动态时间片调度； 动态时间片调度系统包括自旋锁延迟采样模块、通信模块、自旋锁延 迟统计模块和动态时间片调度模块；本发明提供的动态时间片调度方 法，基于虚拟机的自旋锁延迟，动态的调整虚拟机的调度