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SONY EVI-D70P
产品详细介绍
EVI-D70/EVI-D70P是索尼在业界领先的平移/倾斜/缩放摄像机产品系列中的成员，由于拥有一个18倍光学变焦镜头，这些摄像机产品使得用户可以极高的清晰度对微小或远距离物体加以放大。最重要的是，在索尼的通用EVI摄像机中是首次实现。EVI-D70P还配备有各种便捷的功能，如自动ICR功能、报警功能和RS-232C/422串行控制，这使得它们对于远距离学习、礼拜场所、法庭、事件现场、音乐厅等远程拍摄应用来说是一种理想的选择。
【产品特点】
·216x缩放比率(18x光学，12x数字)
·宽范围，高速度平移/倾斜
·平移角度：-170°至+170°(最大平移速度：100°/秒)
·倾斜角度：-30°至+90°(最大倾斜速度：90°/秒)
·带有Exview HAD CCD的超级图像质量
·最小照明：1Lx
·水平分辨率：460电视线(EVI-D70P);470电视线(EVI-D70)
·天花板可安装或桌面安装
·RS-232C或RS-422串行控制(VISCATM命令)
·自动ICR功能
·报警功能
·自动关闭/夜晚关闭功能
·菊花链能力(最多七台摄像机)
·六位置预设置
·多功能IR遥控器(r)单元
上海天道启科电子有限公司
2021-08-23
SONY EVI-D90P
产品详细介绍
·28倍光学变焦镜头
·宽动态技术
·1/4英寸EXview HAD CCD成像器
·具有电子翻转功能，可适用桌面安装和天花板吊顶安装
·机身分黑色和白色两种，具有智能、时尚的设计
上海天道启科电子有限公司
2021-08-23
自3月1日起施行
加快培育全国一体化技术市场，健全技术市场制度体系，规范技术合同认定登记管理
工业和信息化部
2026-02-11
改良CRY3的方法、改良CRY3、质粒及其应用
本发明提供了一种增强CRY3(CRYSTALLINE PROTEIN 3)对玉米根虫的杀虫能力的方法,所述方法为:对CRY3的N端第1～50位氨基酸序列进行结构改良,所述结构改良为删除和/或插入至少一个多肽片段,所述多肽片段长度为1～50个氨基酸,所述CRY3为CRY3A或CRY3B。本发明的有益效果主要体现在:提供了一种增强CRY3(CRYSTALLINE PROTEIN 3)对玉米根虫的杀虫能力的方法,利用这种方法获得的改良CRY3蛋白的转基因抗虫玉米,对玉米根虫有较好的杀虫能力。
浙江大学
2021-04-11
加氢法制备3,3，—二氯联苯胺（简称DCB）
DCB是一种重要的有机颜料中间体，由加氢反应和转位二步反应制得。邻硝基氯苯、H2与Pd/C催化剂进行加氢生产2,2，—二氯氢化偶氮苯和水；2,2，—二氯氢化偶氮苯与硫酸、盐酸转位生成相应的3,3，—二氯联苯胺盐酸盐。主要工艺条件：加氢还原采用0.8%Pd/C催化剂，反应温度<100℃，反应时间10h，反应压力<1.0MPa。转位反应使用稀硫酸，反应温度<50℃，反应时间约5h；使用30%的盐酸，转位温度<95℃，时间约5h。加氢与转位的总收率为70%。Pd/C催
大连理工大学
2021-04-14
科创资讯热点聚焦｜3月11日-3月17日
高等教育科技创新政策、热点新闻导读
云上高博会
2024-03-18
XILINX 3S250E SPARTAN-3E FPGA实验箱
XILINX 3S250E SPARTAN-3E FPGA教学实验箱以XILINX SPARTAN-3E FPGA为主处理器，配以存储器、ADC/DAC、RS232/RS422/IC/SPI/PS2等串行通信总线、LCD/LED/数码管/VGA接口等显示设备以及音频/蜂鸣器/日历/温度/红外等电路。同时，设备配备了EMOD扩展接口，增加了实验的多样性与创新性。
上海皮赛电子有限公司
2021-02-01
XILINX 3S500E SPARTAN-3E FPGA学习板
上海皮赛电子有限公司生成XILINX 3S500E SPARTAN-3E FPGA学习板。
上海皮赛电子有限公司
2021-02-01
一种反射式铝纳米棒阵列及利用其实现彩色全息的方法
一种反射式铝纳米棒阵列，每个铝纳米棒与其对应的氟化镁层、铝反射层和介质基底层构成单元结 构；所述单元结构包括对红光、绿光、蓝光具有窄带响应的单元结构，记为单元结构 R、单元结构 G 和 单元结构 B；所述三种单元结构在单元结构长度方向上依次交替排列。利用其实现彩色全息的方法为： 确定响应的主波长；寻找单元结构的边长、氟化镁层厚度、纳米棒的宽度、高度和长度；计算排列周期 尺寸、单元数和朝向角；三种单元结构交替排布，进行彩色全息。其优点为：工艺简单
武汉大学
2021-04-14
一种基于投影残差的分类方法
本发明公开了一种基于投影残差的分类方法，包括如下步骤：步骤一、改变测试样本中每个物体k的图像集合Ik，使图像集合Ik成为互相正交的、低维的特征图像空间FIk；步骤二、提取每个互相正交的、低维特征图像空间FIk的主成分Vk，j；步骤三、计算待测试图像x的映射到每个特征图像空间FIk的投影残差；步骤四、判断在某个物体的特征图像空间的投影残差最小，待测试图像x即为该投影残差最小的物体的图像。
电子科技大学
2021-04-10