采购品目:A02100405 X射线光电子能谱分析
预计采购时间:2022-12
一、X射线源技术指标: 1.X射线源类型:微聚焦单色化Al Kα X射线源 2.束斑大小:10-400μm连续可调,5μm步长。最小聚焦获得束斑≤10 µm; (常规测试时,采集全谱使用大通能(80-100eV),此时能量分辨率较差,采集高分辨窄扫谱使用小通能(30-50eV),此时可获得能量分辨率较好,50eV通能对应的Ag3d5/2能量分辨率约为1.0eV) 二、 荷电中和技术指标: 1.带有同源双束中和枪,同时具备电子和离子中和能力,且电子及离子来源于同一中和源,可实现精准电荷中和,非过饱和中和; (仅有单电子中和可导致过中和现象。此时C1s谱图距离污染碳284.8eV的偏移量可达2~3eV;采用电子束+离子束中和可避免过饱和中和现象,校准时C1s能量位移<0.5eV) 2.中和系统不依赖于磁透镜,对UPS、磁性样品测试仍可进行荷电中和; PET能量分辨率:≤ 0.82eV(对C1s C-C峰的半高宽,干净的PET标样)。 三、样品台系统技术指标:1.多轴样品台:X、Y、Z 方向移动,围绕Z轴旋转,由计算机全自动控制; 2.样品台尺寸大于60 mm×60 mm,满足一次性至少放置80个样品要求;最大测试样品厚度不小于20 mm,主要用于一些厚度大的样品(需提供相关证明材料); 3.样品台可装载粉末和纤维样品;
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