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IC 测试设备监控系统

2021-04-13 00:00:00
云上高博会 https://heec.cahe.edu.cn
关键词： IC测试设备
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所属领域:
新一代信息技术
项目成果/简介:

在分立器件测试厂监控系统成功实施的基础上，对长电 IC 测试分厂开发建立了监制系

统。该系统在保留原有系统数据采集与设备工况的基础上加入了生产信息与品管信息收集功

项目阶段:
产业化应用
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