在分立器件测试厂监控系统成功实施的基础上,对长电 IC 测试分厂开发建立了监制系统。该系统在保留原有系统数据采集与设备工况的基础上加入了生产信息与品管信息收集功能。
产业化应用
扫码关注,查看更多科技成果