成果简介
对于大电流注入下的高功率 LED 而言, 光衰是 LED 普遍存在的问题。 主要原因有载流子在多量子阱(MQW) 上的溢出(overflow); LED 芯片的晶体内部的缺陷导致的非辐射复合; 在大注入条件下, 载流子分布的不均匀; 以及 LED 结构设计合理性等原因; 这些因素在 LED 材料生长过程中(采用 MOCVD 技术) 就已经决定。 而大功率 LED 在实际应用过程中另外一个瓶颈就是芯片的热输运处理问
题。 在大注入条件下, 过高的 pn 结结温, 导致
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