对于HEMT功率器件来说,p-GaN栅极HEMT器件结构是目前被认为最有希望作为商业化应用的方案。不过,仍然有一些问题亟待解决,如增加阈值电压、降低栅极漏电流、提高栅极击穿电压等。于洪宇课题组2017级南科大-英属哥伦比亚大学联培博士生周广楠介绍,闸极漏电与闸极工作电压对应用于电源开关的氮化镓HEMT器件尤为重要,能够影响电源系统功率损耗与输出功率。解决此项问题对于p-GaN栅极HEMT器件的商业化应用有重要的意义。 项目阶段: