AlGaN/GaN HMET射频器件有一原生的电子信道,为一常开器件,不利于射频功率放大器电路设计与安全性。如果器件能够实现常关特性,则射频功率放大器电路可因此简化。然而,目前常见实现器件常关特性工艺需要对半导体层进行刻蚀,而刻蚀工艺会对器件引入缺陷,降低器件特性,因此市面上的常关型AlGaN/GaN HMET射频器件非常少见。 项目阶段: 试用 会员登录可查看 合作方式、专利情况及联系方式 登 录 注 册 扫码关注,查看更多科技成果