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一种激光束现场标定方法及装置
本发明提供了一种激光束现场标定方法，具体为:调平标定板， 所述标定板具有三个通孔，两两通孔之间连线垂直;使用激光位移传感器发射激光束至标定板并成像;在机床 Y 轴方向驱使激光位移传感 器移动一段距离，再发射激光束至标定板并成像;在机床 Z 轴方向驱 使激光位移传感器移动一段距离，再发射激光束至标定板并成像;依 据三张成像上三通孔位置关系计算激光束与机床主轴的偏角。本发明 还提供实现上述方法的装置，包括标定板、调平装置、CCD 相机和处 理器。本发明通
华中科技大学
2021-04-14
一种多声道系统效果增强方法及系统
一种多声道系统效果增强方法及系统，包括扬声器阵列呈正多面体结构摆放时，获取正多面体顶点处扬 声器的坐标，构建新的扬声器摆放点，获取新的扬声器摆放点的位置信息，计算所有扬声器的初始分配信号，将新扬声器摆放点处的扬声器信号分配给正多面体顶点处扬声器，通过求和的方法获取正多面体顶点处各个扬声器的最终分配信号，删除新的扬声器摆放点处的扬声器。本发明技术方案可增加空间信息的分解成份，更充分保持原点处、左、右耳处声音的物理性质，有利于多声道系统重建效果的增强。
武汉大学
2021-04-14
一种流场实时精确测量系统及方法
本发明提供一种流场实时精确测量系统及方法。系统，包括示 踪粒子发生器、图像处理子系统和 PIV 测量子系统，示踪粒子发生器设置在待测流场上游，图像处理子系统采集流场中示踪粒子图像，传 递给 PIV 测量子系统。方法，根据前一次测量，计算空间分辨率调整 信息和时间分辨率调整信息，调整查询窗口参数和图像采集速度，在 后一次测量时，根据调整后的图像采集速度采集流场粒子图像，对该 幅图像和上幅图像，采用调整后的查询窗口参数，通过粒子图像测速 方法获得当前全流场速度矢量。本发明提供的流场实时精确测量系统 及方
华中科技大学
2021-04-14
一种薄膜在线激光测厚系统及方法
本发明属于非接触式在线测厚领域，并具体公开了一种薄膜在 线激光测厚系统及方法，包括大理石框架和设于大理石框架内部的 C 形架，大理石框架内顶部及底部设置有钢片和导轨；C 形架具有上梁 和下梁，上、下梁之间放置待测薄膜，上梁上下端部设置第一、第二 激光位移传感器，第一、第二激光位移传感器分别用于测量各自发射 点到钢片及待测薄膜上表面的距离，下梁上下端部设置第三激光位移 传感器和滑块，第三激光位移传感器用于测量待测薄膜下
华中科技大学
2021-04-14
一种光伏发电并网控制方法及系统
本发明公开了一种光伏发电并网控制方法及系统。该方法一方 面利用光伏电池电压，电流信息，根据电压变化率，电流变化率以及 电导变化率将扰动法和增量电导法结合进行最大功率点跟踪(MPPT) 控制，在温度以及光照辐射强度变化时，实现对最大功率点的及时跟 踪，提高光伏电池的输出效率；另一方面采用多重控制策略，将并网 点的频率、功率以及电压作为控制量，能在光伏电池并网以及电网运 行状态发生变化时进行实时动态响应，从而实现对光伏发电并网运行 的控制。
华中科技大学
2021-04-14
一种导轨平行度测量方法及装置
本发明公开了一种导轨平行度测量方法，具体为：将左、右侧 导轨的其中一侧作为基准导轨，另一侧作为被测导轨；同时采样左侧、 右侧导轨的高度信息；采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟 合得到一条基线；在基准导轨上依据基线生成两组包容线，从两组包 容线的间距选择最小者，其对应的上、下包容线作为评定平行度的基 准包容线；生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下·110·包容线，上、下包容线间的纵向间距即为平行度。本发明还提供实现 上述方法的装置。本发明实现了机床导轨平
华中科技大学
2021-04-14
一种光标定位、光标控制方法及装置
本发明提供了一种光标定位、光标控制方法及装置。该方法包括：S1：将显示器等分为预设数量的子区域，各个子区域以不同的频率进行闪烁；S2：接收脑电采集处理设备发送的脑电信号，所述脑电信号为所述脑电采集处理设备对用户注视所述显示器时的脑电信号进行采集后获得的；S3：对所述脑电信号进行处理分析，根据处理分析结果从所述各个子区域中确定第一子区域为所述用户的注视
中国农业大学
2021-04-14
一种工业蓝牙网络系统及组网方法
本发明公开了一种工业蓝牙网络系统及组网方法，其中一个蓝牙网络系统包括一个主站和多个从站，每个从站拥有一个网络密钥装置，用于存储加密的蓝牙安全组网过滤参数。组网前，蓝牙主站根据微微网 ID 设置搜索过滤参数，确保只有符合要求的从站才能被搜索到；蓝牙从站将微微网 ID 设置为自身的设备类型，并根据主站的蓝牙地址设置连接过滤参数，确保能被自己隶属的主站搜索到并只允许该主站与自己建立连接。组网中，蓝牙主从站根据设置的组网过滤
华中科技大学
2021-04-14
一种芯片位置和倾角检测装置及方法
本发明公开了一种芯片位置和倾角检测装置，包括光源组件、光路传输组件、摄像组件以及自准直仪，其中光源组件由分别对应于芯片和基板的第一、第二光源构成；光路传输组件由第一、第二和第三半透半反棱镜以及第一、第二反射镜共同构成，由此在同一光路系统中实现对芯片和基板位置的检测；摄像组件由具备不同视野的第一和第二摄像单元构成，其中第一摄像单元用于采集芯片或基板的大视野图像，根据 MARK 点实现初步定位，第二摄像单元用于采集其具体位置图像；自准直仪用于获取代表芯片水平倾角信息的法线倾斜量。本发明还公开了相应的检测
华中科技大学
2021-04-14
一种光刻机自动调焦方法及装置
本发明公开了一种光刻机自动调焦方法及装置，其方法是将平行光束经第一狭缝投射至硅片表面，再经振动反射镜扫描后通过第二狭缝，由光电探测器接收光强信号，然后通过提取光强信号中二倍于扫描频率的频域成分得到硅片的粗调量，通过提取光强信号中一倍于扫描频率的频域成分得到硅片的精调量，最后由驱动装置调整硅片至焦点位置。调焦装置主要由两个狭缝、一个振动反射镜、光电传感器、驱动台和若干光学镜片组成，信号处理过程由计算机编程完成。该方法与装置相较于以往对比光斑强度进行调焦的方式，具有结构简单、响应迅速、精度高(优于 0.
华中科技大学
2021-04-14