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产品详细介绍1.计量器具名称：试验箱温湿度测量仪2.主要用途MTH-1型试验箱温湿度测量仪主要用于对各类烘箱、干燥箱、生化培养箱、气候试验箱等环境温湿度设备检定过程中的温湿度进行自动测量，该测量仪还可作为通用多路温湿度测量仪对气体环境温湿度进行精密测量，可对国防军工及民用领域的各类烘箱、干燥箱、生化培养箱、气候试验箱等环境温湿度设备检定提供可靠的技术保障。3.主要技术指标工作模式 温度测量范围（℃） 温度测量准确度（℃） 温度示值分辨率（℃） 湿度测量范围（RH） 湿度测量准确度（RH） 湿度示值分辨率（RH） 测量模式 -50～200 ±0.05 0.001 10%～90% ±2% 0.1% 试验箱检定模式 -50～200 ±0.1 0.1 10%～90% ±2% 0.1% 4. 主要特点主要特点                                                          l        试验箱温湿度测量仪检定模式完全参照JJF 1101—2003“环境实验设备温度、湿度校准规范”中操作过程l        提供两种工作模式：温湿度精密测量模式和试验箱温湿度检定模式l        每台仪器具有自身编号，固化于机器内部l        测量结束后，自动计算并显示检定过程的温湿度测量数据和数据处理结果：“中心均值”、“均匀度”、“波动度”l        传感器探头在线插拔，自动识别l        使用大容量可充电锂离子电池，低功耗工作，仪器可连续工作120小时以上l        传感器具有3m长信号线，便于远距离测量和对大容积箱体的测量操作l        本仪器体积小、重量轻、操作简便，配备便携型工程塑料箱一个，方便携带 公司相关产品酸度计检定装置电导率仪检定装置分光光度计检定装置酶标分析仪检定装置气相色谱仪检定装置气相色谱质谱联用仪检定装置液相色谱仪检定装置离子色谱仪检定装置原子吸收检定装置红外光谱仪检定装置粘度计检定装置（可自动检定）密度计检定装置（可自动检定）酒精计检定装置玻璃量器检定装置（可自动检定）烘箱/培养箱检定装置碳硫分析仪检定装置生化分析仪检定装置报警器探头检定装置旋光仪检定装置白度计检定装置阿贝折射仪检定装置离子计检定装置罗维鹏比色计检定装置电位滴定仪检定装置有机元素分析仪检定装置温度计自动检定系统检定装置

产品详细介绍 TJ89A-2011型色谱仪检定专用测量仪是依据JJG700-1999<<气相色谱仪>>检定规程要求设计的检定专用仪器，适合计量部门应用。该仪器配备RS485标准接口及随机专用的电脑操控程序，可以方便地实现自动或半自动测量，并自动记录，存挡测量数据。可检定柱箱控温稳定性、程序升温重复性、噪声、漂移、衰减器误差以及升温速率。该仪器实现了5 1/2 精度电压的稳定测量,是TJ89A升级换代的核心技术,与铂电阻温度计配套使用可测量温度。温度计的检定参数和仪器的校准值均可通过电脑操作输入、修改、长期贮存。仪器体积小，重量轻，便于携带，使用方便，是一种比较理想的检定专用仪器。 主要技术性能１.直流电压测量   测量范围：1μV－10 V   量程：±100.00 mV；±1.0000 V；±10.000V   最高分辨率：1 μV     测量精度：0.004% (读数)±0.006% (满度)   输入阻抗：＞100 ＭΩ  共模抑制比：＞110 dB ；串模抑制比：＞45 dB2、温度测量SPRT:用于配接标准铂电阻温度计PRT：用于配接精密铂电阻温度计或工业铂电阻温度计 

产品详细介绍概述CLY-45型磁场线性霍尔传感器采用：高档豪华金属机箱、名牌镀金接插件、硅霍薄型探头等优质元器件，通过优化设计，抛弃了传统的琴键开关，而选用轻触薄膜开关，设计更专业，品质更高、操作更方便。CLY-45型磁场线性霍尔传感器具有：结构合理、整机性能稳定、性价比高、操作方便、外型美观等特点，是实验室、生产线上磁性测量的首选仪器。CLY-45型磁场线性霍尔传感器是一种高精度的磁性测量仪器，仪器带模拟端口输出，具有峰值测量、量程宽等特点，可作为二次仪表使用。CLY-45型磁场线性霍尔传感器主要用于测量磁场强度，如磁体表面磁场、永磁电机磁场、电磁铁产生的磁场、喇叭漏磁场等，以及一些特殊测量磁场的场合，如电磁铁磁场、磁体表面场的最大值等。CLY-45型磁场线性霍尔传感器能测0—2T范围内的直流（恒磁）及低频交变磁场的磁场强度。CLY-45 输出线性电压值的线性霍尔传感器的测量磁场大小在±1T, 线性电压（正比于磁场）输出。可测量磁场-2T---2T，线性电压输出，精度1%。测量磁场时带有正负指示方向，输出为带有信号为正负信号，表示磁场的正反向，供电电源AC220V,50Hz，三位半数字LED 显示。量程两档： -200 ～ 200mT,-2 ～ 2T ，线性电压输出-5-5V，最大分辨率0.1mV ，测量DC 磁场。分辨率高、性能稳定、可靠美观。 是测量磁场，测量磁体表面磁场、永磁电机磁瓦 、电磁铁磁场等的理想仪器。 订制配套霍尔传感器尺寸30CM及可夹持部分尺寸15CM，订制非磁性可调节探头支架。技术指标：型号CLY-45型磁场线性霍尔传感器供电电源AC 220V，50Hz显示方式三位半数字显示读数单位mT，T量程0～200mT，0～2T最大分辨率0.1mTDC-AC-FLUX测AC/DC磁场测量范围0～2T精度（直流）1%AC响应频率200HzAC测量值平均值特点采用豪华机箱，薄膜按键、性能稳定，设计更合理，测量精度高，操作简便。用途测量磁场，如脉冲磁场、测量磁体表面磁场、永磁电机磁瓦 、电磁铁磁场、喇叭漏磁、充磁机磁场等，适用场合广泛。

南京大学现代工学院徐飞教授、郝玉峰教授、陈烨副研究员、陆延青教授团队和物理学院詹鹏教授，联合中国科技大学石孟竹博士、陈仙辉院士团队、厦门大学陈锦辉副教授和日本国家材料科学研究所Kenji Watanabe博士和Takashi Taniguchi博士团队，将三个由二维材料组成的透明光电功能单元串行集成，成功地在人头发丝般粗细的光纤的端面制作出了一个大小约为人类头发横截面的 1/100，厚度为100 nm级的光偏振传感器，能够实现快速、准确、高效地检测光的多种偏振态。

针对金属矿山应力测量和声波探测中存在的关键技术问题开展研发，主要技术内容如下：（1）在工程实际中应用了岩石声发射测量地应力波形识别新技术；（2）研发出光弹性应力监测图像识别技术及数据分析方法及设备；（3）研发出岩体结构稳定性的声波探测技术。为我国金属矿山普遍存在的采矿回收率低、地压控制难度大等相关技术难题的解决，提供了有力的技术手段。该成果获江西省科技进步二等奖 1 项，已在国内 4 家矿山企业应用，实现产值 5.45 亿元。 

面结构光三维测量技术是近几年飞速发展的光学三维测量技术，是基于条纹投影的物体三维面形重建技术。它利用物体面形对标准正弦条纹图的相位调制并对图像进行相位解调实现物体三维检测。该系统包括高质量面结构光投影模块、低失真图像采集模块及快速的数据处理算法。该测量系统中，标定准确的相位与空间三维坐标的关系是该三维测量技术至关重要的步骤。由于面结构光三维测量技术具有速度快、非接触、精度高等优点逐步受到人们的重视，它被认为是目前最有前途、最有发展潜力的三维测量技术。 一、主要功能和应用领域 该面结构光三维测量系统结合特定的标定技术，确定各个系统参数，建立相位与空间三维坐标的数学关系，改善系统的精确度及灵和性。该测量系统适用于工业制造、产品检测、模具设计、逆向工程、生物医学、文物保护、机器视觉等领域，具有广阔的应用前景。 二、特色及先进性 1、系统结构任意摆放 该任意摆放面结构光三维测量系统的组成部件在空间位置相对任意，易于在实地测量中使用。它在几何结构、光路等方面没有严格的平行性、垂直性要求，仅需要图像采集系统的视场被投影系统的视场所覆盖。 2、标定技术经济实惠且使用灵活 系统标定的过程中，仅需一种打印的棋盘格作为标定板，相比于制作困难且成本高昂3D标准件，该技术成本低，具有极高的实用性。同时，标定板的位置可以随机、任意放于测量视场中的任何一个空间位置，相比于现行的标定技术，具有极大的灵活性。 3、高分辨率 基于任意摆放面结构光三维测量系统，避免现行测量方法中因系统设置不准而造成的测量误差；考虑镜头引起的畸变现象，对每个像素点标定，降低畸变对测量结果的不良影响；采用最小二乘拟合算法，对多组数据拟合，保证相位与空间三维坐标关系的准确性。 4、测量系统技术指标 物体面形三维测量对测量仪器的分辨率、稳定性有较高要求，且部分算法复杂，所设计的系统采用联机方式。系统主要技术指标：测量范围：200mm×300mm×200mm，且连续可调；横向分辨率：可达0.06mm(主要受相机分辨率的限制，本系统采用AVT-GT1660C相机)；纵向分辨率：可达0.02mm 四、能为产业解决的关键问题和实施后可取得的效果 1、基于任意摆放面结构光三维测量系统，解决传统系统设置难度大、对测量环境稳定要求高的困难。 2、标定技术可适用于任何面结构光三维测量系统，解决了现行标定技术使用范围较窄的问题。 3、该测量系统和标定技术具有高分辨率且经济实用，极大提高面结构光三维测量技术测量精度，拓展了面结构光三维测量技术的应用领域。

本发明公开了一种非接触式金属互连线电迁移测量方法，具体为：使用平行光照射标定用金属互联线，同时采用四探针检测标定用金属互联线的电阻；建立四探针检测到的标定用金属互联线的电阻与标定用金属互联线的表面反射光强的对应关系；使用平行光照射待测金属互联线；实时检测待测金属互联线表面反射光的强度；依据建立的电阻与反射光强的对应关系获取待测金属互联线在某反射光强下对应的电阻值。本发明还提供了测量装置，主要包括四探针、平行光光源、光学显微镜和计算机。本发明不接触试样的情况下对试样上的较大范围金属互连线电迁移同时进行实时检测，与普通的四探针检测方法相比，检测范围更大，时间更快、成本更低。

该面结构光三维测量系统结合特定的标定技术，确定各个系统参数，建立相位与空间三维坐标的数学关系，改善系统的精确度及灵和性。该测量系统适用于工业制造、产品检测、模具设计、逆向工程、生物医学、文物保护、机器视觉等领域，具有广阔的应用前景。