产品详细介绍产品简介：　　核磁共振交联密度成像分析仪主要用于聚合物交联密度测试以及核磁共振成像研究。交联密度的测试原理主要是根据聚合物中碳氢链质子的分子动力学，利用交联结构的磁共振响应来有效地评价聚合物(如橡胶、塑料等)的交联密度，分析聚合物在研发与生产过程中的结构演变，据此进行硫化参数的优化、橡胶制品的质量验证、老化过程分析研究、疲劳寿命预测、橡胶及其它弹性体中水分和溶剂含量测定等。采用此种方法评价橡胶的交联结构，技术上快速便捷(30秒～5分钟)、测试过程对样品无任何损害、重现性好、信息量大，而且可以将化学交联和物理交联区分出来。核磁共振交联密度仪提供了一种全新的交联测试手段，与传统的测试结果有很好的相关性，优势明显。技术指标：1、磁体类型：永磁体；2、磁场强度：0.5±0.08T，仪器主频率：21.3MHz；3、探头线圈直径：10mm；4、样品控温范围：30-130℃； 应用解决方案：1、测量任何种类交联的聚合体(尤其是橡胶，橡胶产品)的交联信息；2、聚合体生产的质量控制和质量保证；3、使用过的聚合体材料老化过程的品质鉴定；4、基于橡胶的硫化，处理和生产条件优化的研究；5、固体，半硬的聚合体，凝胶体，乳状液和液体的分子活动性研究；6、固体基质中水分和水含量的成像和测定(例如：环氧树脂和半导体器材)；7、环氧树脂和橡胶的硫化过程中硫化状态、粘度和过程的探测；8、样品中水或溶液粘合性和活动性的研究；9、聚合物中增塑剂或橡胶含量的测定；10、共混物或共聚物中橡胶含量测定；11、共聚物相对含量测定；12、橡胶胶乳中的固体含量测定；13、临界水及水合作用的研究；14、流变学的的研究，如粘性、密度、及材料的稳定性；应用案例一：橡胶疲劳、老化测试：应用案例二：磁共振测试方法与传统溶胀法测试对比注：仪器外观如有变动，以最新款为准。

产品详细介绍　　SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围为900nm～1700nm。　　SOC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13  √cm-Hz/W)，使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的是最高质量数据。 使用简单和实时处理　　SOC720SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用。　　系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。　　数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。　　可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。　　MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。　　配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。　　SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换。技术参数：光谱范围： 900-1700 nm光谱分辨率： 6.25 nm光谱通道： 128光谱失真： <1.5 microns  (smile)数字光圈： F/2.4TFOV/IFOV (35MM)： 10°/0.015625°分辨率(像素)： 640x640 (nominal)LINE RATE： 30 Spatial Lines/SecondCUBE RATE： 20 Seconds/Cube数字分辨率： 14-bit三脚架： 3/8”-16计算机接口： Cameral-Link扫描： 内置供电： AC/12DV重量： 30 lbs.尺寸： 7”x14”x22”  应用领域： 机械视觉　　电子学和塑胶　　晶片检查　　农业品质　　化学过程控制农业领域　　精准农业　　土地分类　　水份胁迫　　作物健康 温度记录　　火点监测　　玻璃检测　　金属纯度军事　　ISR　　边境安全　　导弹跟踪医学领域　　血糖分析　　X线断层摄影术

一种基于掺杂量子点波长转换的紫外探测系统及方法，所述紫外探测系统结构包括封装外壳和依次设置的透镜、带有通光孔的斩波器、小端面涂覆光滑透明掺杂量子点薄膜的光锥、可见光CCD、与所述可见光CCD信号连接的图像处理单元，其中，所述斩波器、所述光锥、所述可见光CCD以及所述图像处理单元设置于所述封装外壳中；所述可见光CCD与所述光锥的大端面紧密耦合。本发明提供的基于掺杂量子点波长转换的紫外探测系统及方法，通过掺杂量子点实现紫外光信号的光谱转换，进而实现紫外图像探测，相比较现有技术，具有系统结构简单、性能稳定、成本较低的特点。

本发明公开了一种高流变软土强夯置换时填料的运移轨迹探测实验装置，主要由模型试验箱、夯击加载系统、外部观测系统、金属探测系统和位移分析系统五个部分组成。其中，金属探测系统内嵌于模型箱装置两侧挡板中，并通过挡板外壁开口槽与外接位移分析系统相连接，用于在整个实验过程中对颗粒运移轨迹的信号探测。夯击加载系统通过支架固定于模型箱正上部，通过刻度可人工精确定位强夯下夯锤纵横向位置，同时手动调节落距，从而模拟实现自由落锤等复杂动作。本装置制造简单、测量结果准确可靠，通过电磁信号追踪，可以获取在强夯冲击荷载作用下高流变软土填料的运移轨迹，制造简单、测量结果准确可靠。

本发明公开了一种盲人行道探测装置，通过传感器每隔一定时间抽样得到载具的角度，对相邻时间抽样的角度进行微分，得到这段时间内的载具角度变化量，然后将角度差负反馈与角度变化量、上一循环的补偿量求和得出这次的调整量，在控制步进电机调整之前判断载具角度变化量的值，并自适应地改变抽样速率；还判断这次的调整量过小时作为补偿量参与下一次的循环。本发明能够使用步进电机实时地调整探测器使其保持需要的探测方向，探测结果更精确；还可以自适应的改变调节的速率，使得探测器的调整幅度尽可能地缩小，达到更加稳定的探测方向，抗干扰能力强；并能防止步进电机因为调整量太小，脉冲数过少而造成的电机丢步现象，达到精确控制的效果。

本实用新型涉及功率和电流测量技术领域，具体涉及一种基于电离层探测仪的功率和电流检测系统， 一种基于电离层探测仪的功率和电流检测系统，包括单片机、射频信号，还包括与单片机相连的功率检 测模块、电流检测模块和显示模块；所述功率检测模块包括 π 型衰减网络电路、阻抗匹配电路、功率检 测电路、低通滤波电路 I；所述电流检测模块包括电流检测电路、低通滤波电路 II 和分流电阻器 R9。该 检测系统结构简单、可靠，操作方便，可以适用于多种场合的功率和电流检测和监控，方便观察，能让 用户了解设备当前工作状态。

本发明公开了一种真空下多探针摩擦磨损测试及原位形貌探测系统，包括主体和外部手动驱动装置；所述主体包括腔体上盖、安装在腔体上盖上面用于密封的光窗顶盖和安装腔体上盖内部的多探针组件；其能在高真空下实现对具有不同功能的SPM针尖切换，使摩擦学测试及原位形貌探测在高真空环境下可相继完成，且原位定位精度较高。由于更换针尖时无须打开腔体，确保了实验样品不受外界因素干扰，使实验所得结果更为真实可信；不仅如此，也节省了实验前期设备调整校准时间，提高实验效率。

本发明公开了一种通过检测山地环境中山脊位置并进行能量校正来提高对山地环境中带状地下目标的探测、识别、定位方法。该方法属于模式识别、遥感技术、地形分析的交叉领域。带状地下目标的·758·热场与山体的热场不同能产生能量异常，而山脊的热岛效应也会造成山体能量异常，但该异常本质上与带状地下目标的能量异常模式不同，所以本发明意在通过消除地形中的山脊所产生的热体效应对带状地下目标表现出的微弱能量异常模式的影响，达到

本发明公开了一种基于二次谐波显微术探测单根弯曲半导体纳米线中晶格畸变的高灵敏度方法。在显微系统下，利用探针推动单根纳米线一端使之弯曲，从而产生不同程度的晶格畸变。同时，将一束激光聚焦至单根纳米线上一点 A，并连续改变泵浦光偏振方向和纳米线长轴之间的夹角(偏振角θ)，测定二次谐波强度随偏振角θ的变化关系。在保持泵浦光聚焦位置在 A 点不变的情况下，随弯曲曲率逐渐增大，偏振角θ＝90°和θ＝0°时的二次谐波强度之比显著减小。本发明提供了一种新型测定半导体纳米线晶格畸变的全光方法，相对于传统透射电镜法，其

本发明公开了一种利用双时相探测定位山体中地下建筑的背景滤波方法。包括红外图像滤波预处理、对红外图像取其像素灰度值的低位进行地下建筑的粗检测和“剥洋葱”算法寻优精确检测三步骤，通过获取白天和晚上的双时相红外图，将晚上红外图作为背景场，首先对白天红外图进行双边滤波处理去除噪声，再进行聚类分析，检测出疑似目标区域，对疑似目标区域利用基于邻近像素的截位算法处理粗略检测出地下建筑区域，将粗检测的地下建筑面积作为寻优准则，