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技术需求:LED全光谱植物补光技术
LED全光谱植物补光技术;LED植物补光智能控制系统;室外大功率LED植物补光技术
山东光因照明科技有限公司 2021-06-15
便携式多光谱光照处理仪
“NMT界乔布斯”许越先生推荐创新平台 中关村NMT产业联盟推介成员单位创新产品 “全球抗疫,人人有责” 推出背景: 光是一个十分复杂而重要的生态因子,包括光谱、光强、光质等。光因子的变化对生物有着深刻的影响。 科学试验证明,不同波长的光对植物生长有不同的影响。可见光中的蓝紫光与青光对植物生长及幼芽的形成有很大作用,这类光能抑制植物的伸长而使其形成矮而粗的形态;同时蓝紫光也是支配细胞分化最重要的光线;蓝紫光还能影响植物的向光性。紫外线使植物体内某些生长激素的形成受到抑制,从而也就抑制了茎的伸长;紫外线也能引起向光性的敏感,并和可见光中的蓝紫和青光一样,促进花青素的形成。可见光中的红光和不可见光中的红外线,都能促进种子或者孢子的萌发和茎的伸长。红光还可以促进二氧化碳的分解和叶绿素的形成。 光谱对植物的影响科学家们还远远没有研究透彻,还需要更深入的实验去探究。   应对挑战: 缺少光实时处理中的数据,普遍的光处理都是作为预处理进行的实验 不同色光变化的频率对植物的影响实验较难实现   解决方法: 非损伤微测技术能够实时监测活体样品的动态分离子流速的变化,解决了活体样品实时检测的问题 便携式多光谱光照处理仪能够提供不同颜色光变化频率在活体生理上的应用 产品介绍 名称:便携式多光谱光照处理仪 型号:PFL-100 品牌:旭月 产地:中国 简介: 应对挑战: 缺少光实时处理中的数据,普遍的光处理都是作为预处理进行的实验 不同色光变化的频率对植物的影响实验较难实现 解决方法: 非损伤微测技术能够实时监测活体样品的动态分离子流速的变化,解决了活体样品实时检测的问题 便携式多光谱光照处理仪能够提供不同颜色光变化频率在活体生理上的应用   功能特点 1.基本功能: 提供红、绿、蓝、紫4种单色光和白光共5种颜色的光照 五种光照按固定频率固定顺序循环变化 2.性能参数: 工作电压:9V1A 提供光照种类:5种 光照变化周期:60s 光照变化顺序:红、绿、蓝、白、紫 各颜色光波长范围: 红光:615-650(nm) 绿光:495-530(nm) 蓝光:450-480(nm) 紫光:370-410(nm) 白光:450-465(nm)
旭月(北京)科技有限公司 2021-08-23
等离子体发射光谱仪
产品详细介绍北京华科天成科技有限公司是国内光谱类分析仪器的专业制造厂家,公司是集研发、生产、销售、技术服务为一体的高科技企业。拥有雄厚的技术力量,精良的检测手段,先进的生产工艺,完善的质保体系。由我公司研发制造的PRIDE100型及HK-9600型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES/ICP-OES),具有高精密度,高灵敏度,稳定性高等优势。采取全自动控制。已被国内多家质量技术监督局及高等院校实验室采购作为检测仪器。PRIDE100型及HK-9600型ICP光谱仪,被广泛应用于稀土分析、贵金属分析、环境保护、水质检测、新材料检测、有色金属、钕铁硼合金等行业。深受用户的好评。为了更好的满足客户需求,我公司陆续研发了HK-7500型光电全谱直读光谱仪,以及HK-3000SFG型原子吸收分光光度计等系列产品,均引进国内外先进技术。以精良的制造工艺,完善的售后服务为客户提供优质的实验室检测仪器。    我公司始终坚持“工于精,诚于心,迅于行”的企业理念,以技术为先导,以创新为核心,为企业用户和各科研单位提供优质的产品和服务。
北京华科天成科技有限公司 2021-08-23
等离子体发射光谱仪
产品详细介绍北京华科天成科技有限公司是国内光谱类分析仪器的专业制造厂家,公司是集研发、生产、销售、技术服务为一体的高科技企业。拥有雄厚的技术力量,精良的检测手段,先进的生产工艺,完善的质保体系。由我公司研发制造的PRIDE100型及HK-9600型电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES/ICP-OES),具有高精密度,高灵敏度,稳定性高等优势。采取全自动控制。已被国内多家质量技术监督局及高等院校实验室采购作为检测仪器。PRIDE100型及HK-9600型ICP光谱仪,被广泛应用于稀土分析、贵金属分析、环境保护、水质检测、新材料检测、有色金属、钕铁硼合金等行业。深受用户的好评。为了更好的满足客户需求,我公司陆续研发了HK-7500型光电全谱直读光谱仪,以及HK-3000SFG型原子吸收分光光度计等系列产品,均引进国内外先进技术。以精良的制造工艺,完善的售后服务为客户提供优质的实验室检测仪器。    我公司始终坚持“工于精,诚于心,迅于行”的企业理念,以技术为先导,以创新为核心,为企业用户和各科研单位提供优质的产品和服务。
北京华科天成科技有限公司 2021-08-23
光电直读光谱仪SFGP-750型
产品详细介绍光电直读光谱仪SFGP-750型光电直读光谱仪SFGP-750型概述  SFGP-750型光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成分的快速定量分析仪器。本仪器广泛应用于冶金、机械及其他工业部门,进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验,是控制产品质量的有效手段之一。 光电直读光谱仪主要技术参数  检测基体(多基体):Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多种金属及其合金样品分析  分析通道(多通道):45个通道。  分析波段(宽范围):160nm~650nm  检测时间(短时间):根据样品的不同类型,一般小于30秒。  光学室(精恒温):38℃±0.2℃  电源:保护接地的单相电源。电压:220VAC,频率:50Hz ,使用功率:1.8KVA环境条件:工作温度:10-30℃,存放温度:0-45℃,湿度:≤85%仪器分析的标准偏差应满足GB/T 4336-2002《碳素钢和中低合金钢的光电光谱分析方法》国标第6项对相对偏差规定值。 光电直读光谱仪关键特点描述: 1、750mm焦距光栅设计,帕型-龙格装置,高真空,高分辨率、高灵敏度。 2、电子系统采用国际标准机笼,高集成化电路设计,故障率低。 3、激发光源频率在150/600Hz之间可调节,分析不同的样品,选择不同的激发参数,达到最佳的分析效果。 4、激发光源固态辅助电极,解决干拢问题,提高激发光源的稳定性,免调节。 5、激发样品过程中,无需对激发台进行水冷却,可连续分析样品也能达到较好的数据。 6、多元素自动描迹,可快速分析出每个元素相对于基体元素的偏差。 7、通道负高压分8档计算机自动调整,从而大大地提高通道的利用率和分析谱线的最佳线性范围在分析不同材质中的采用,减少了通道的采用数量,降低了成本。 8、光学部分整体恒温措施,保证了仪器的正常运行,从而降低了对环境的要求。 9、采用高精度直线电机进行入缝扫描,速度快,精确度高。 10、真空室整体铝合金制造,一次成型。 11、光谱室防震设计,诸如光栅、狭缝等重要光学元件采用动态安装,获得相当高的光学稳定度。 12、光谱室内置疲劳灯提高了光电倍增管的稳定性,消除了光电倍增管的死时间,提高信噪比,延长使用寿命。 13、多国语言的光谱软件系统。适应不同国家的要求。 14、计算机软件建有数据库系统,方便了测量数据的查询与打印,也可通过网络远程传输数据,方便快捷。
南京第四分析仪器有限公司 2021-08-23
HY-60系列-便携式高光谱
功能特性 HY-60系列是一种适用于野外作业、具备自动摆扫/自动推扫功能的光谱成像系统。 支持可见近红外(400-1000nm)或近红外(900-1700nm)高光谱相机; 内置推扫型号可实现自动对焦, 自动完成推扫成像,扫描范围>60°; 外摆扫型号可实现360度全景扫描,配合大仰角调节模块,覆盖超大扫描范围;支持ROI区域框选自动扫描; 积分时间和帧频可调,扫描速度自动匹配; 便携式三脚架,快速架设,易于携带;  应用领域 农业林业:病虫害监测,旱情预估,树种识别,草原长势 生态环境:水体监测,大气环境监测,土壤营养测定 考古文物:遗址确定,壁画,国画,材质鉴别,颜料分辨 地质勘探:探油,探矿,矿物填图 
杭州高谱成像技术有限公司 2022-03-16
HY-80系列-实验室高光谱
功能特性  高质量成像光谱数据 适用于实验室环境,具备良好光源条件,辐射校正准确度高,并集成调焦功能的推扫式高光谱成像系统; 检测范围不低于220mm×300mm×100mm(样品高度)  全谱段光源 光源通常为碘钨灯,谱段范围为200-2500nm,可具有不同的形式:带反射片的灯管、线性聚焦光源、穹顶光源等。  专利高光谱数据时空校正 时间反射率及空间反射率双重校准,数据精度高。   应用领域 真伪鉴定:文物鉴定、艺术品鉴定等; 物质研究:烟草、药品、食品、矿石等; 刑侦文检:文件修改涂抹、笔迹鉴定等。 
杭州高谱成像技术有限公司 2022-03-16
光栅平场光谱仪-1(可配CCD)
产品详细介绍主要技术指标 1.光路程式: 不对称Czerney--Turner装架,平面闪耀光栅(1200g/mm)多色仪 2.准直物镜和成像物镜的焦距:200mm 3.光谱范围:200—700nm 4.进口狭缝宽度:0.15—2.5mm,分档可调换 5.成像光谱平面配接CCD的接口尺寸:φ=50mm 6.工作方式:单波段、二波段或多波段 注:  可根据用户对光谱带宽的要求和所选的CCD而设计制作  E-mail: zhu123@suda.edu.cn  电话:13862069677 技术负责人:朱先生
苏州大学信息光学工程研究所 2021-08-23
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法,可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先,通过仿真分析的手段,选出最 优测量配置与最优等效介质模型;其次,将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量,包括:在最优测量配置下,对实际纳米结构进行光 学散射测量,获得测量光谱;运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法,对测量光谱进行分析,获得提取参数的数值;通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射,获得待测 参数的数值。 
华中科技大学 2021-04-11
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法,可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参数进行非接触、非破坏的测量。首先,通过仿真分析的手段,选出最优测量配置与最优等效介质模型;其次,将上述仿真结果运用于实际纳米结构的测量,包括:在最优测量配置下,对实际纳米结构进行光学散射测量,获得测量光谱;运用基于最优等效介质模型的参数提取算法,对测量光谱进行分析,获得提取参数的数值;通过提取参数与待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射,获得待测参数的数值。
华中科技大学 2021-04-14
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