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一种基于忆阻器的通用编程模块及其操作方法
本发明公开了一种基于忆阻器的通用编程模块及其操作方法， 可编程模块包括阻变元件、电阻 R1、第一 N 型 MOS 管、第一 P 型 MOS 管、第二 N 型 MOS 管和第二 P 型 MOS 管；第一 N 型 MOS 管 的漏极和第一 P 型 MOS 管的漏极均连接至阻变元件的一端，第一 N 型 MOS 管的源极和第一 P 型 MOS 管的源极连接后与电阻 R1 的一端 连接，第一 N 型 MOS 管的栅极与第一 P 型 MOS
华中科技大学
2021-04-14
一种支持多种调制格式的光发射机及控制方法
本发明公开了一种支持多种调制格式的光发射机及控制方法， 发射机包括激光光源、双平行光调制器、波形选择模块、驱动放大模 块、偏压控制模块、主控制模块、光放大器，主控制模块与波形选择 模块、驱动放大模块、偏压控制模块连接并传递控制信息。波形选择 模块根据输入调制参数将待调制数据进行串并转换并产生时钟信号经 驱动放大后加载到光调制器，偏压控制模块根据指定的调制格式选择 适当的偏压工作点；调制后的光信号经光放大器放大后作为发
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2021-04-14
一种极高分辨率光谱测量装置及方法
本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法，光谱测量 装置包括 FP 干涉仪、SBS 滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块； FP 干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，FP 干涉仪的第二输入端连 接至控制模块的第一输出端；SBS 滤波器的第一输入端连接至 FP 干涉 仪的输出端，所述 SBS 滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输 出端，探测器的输入端连接至 SBS 滤波器的第一输出端，数据采集模 块的第一输入
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2021-04-14
基于本体模型的网络化控制系统入侵检测方法及系统
本发明公开了一种基于本体模型的网络化控制系统入侵检测方法及系统。该方法构建网络化控制系统本体模型，基于该模型进行入侵检测，并权衡决策后得到最终检测结果。系统包括主节点，多个从节点，和负责消息传递的工业通信网络；主节点负责完成自身的主机活动审计数据的收集、所有网络报文的收集、主节点对应的控制闭环流的检测、控制对象检测、整个系统所有节点主机活动审计数据的检测、网络活动检测以及检测结果的协调；各从节点负责完成该节点对
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2021-04-14
山体背景热场模型约束的地下热源昼间遥感探测定位方法
本发明公开了一种山体背景热场模型约束的地下热源昼间遥感·769·探测定位方法，属于遥感技术、自然地理和模式识别的交叉领域，意在于对山体背景进行热场仿真，得到山体背景的热场模型，以热场模型为约束，对原始遥感红外图像进行背景滤波，清晰的揭示地下目标所在的位置。本发明包括山体背景热场模型建立步骤、山体背景热场8 位到 16 位映射步骤、利用映射后的山体背景热场模型进行背景滤波步骤、地下目标空间约束均值聚类探测
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2021-04-14
一种燃料电池膜电极组件的层合装置及其方法
本发明公开了一种燃料电池膜电极组件的层合装置，包括：分别沿着不同输送路径输送两组复合膜层的第一和第二输送机构，对两组复合膜层执行层合处理的层合机构，对层合后膜层执行对齐检测的对齐检测机构，以及对齐调整单元；其中第一、第二输送机构分别用于输送对应模切有多个模切框的第一、第二复合膜层；对齐检测机构用于对层合后膜层采集其模切框图像；对齐调整单元根据对齐检测机构所获得的模切框图像，计算其间距值并相应调整第二输送机构的输送调节，从而实现两组复合膜层的对齐及层合。本发明还公开了相应的层合方法。通过本发明，可以使
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2021-04-14
一种用于非诊断用途的检测端粒酶活性的方法
本发明公开了一种检测端粒酶活性的方法，通过带正电基团的 聚集诱导发光化合物、端粒酶引物、dNTPs、RNA 酶抑制剂以及待测 样品在端粒酶扩增缓冲溶液中，23℃～37℃的温度下恒温孵育，使得 反应体系中端粒酶引物发生端粒酶延伸反应，再将反应体系于 80℃～ 100℃下灭活，使得延伸反应停止；由于 DNA 分子磷酸骨架带有负电 ·1078··1079· 荷，随着端粒酶引物序列的延长，每条链上能够结合的聚集诱导发光
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2021-04-14
一种适用于 SMD 可扩展智能仓储系统的控制方法
本发明公开了一种适用于 SMD 可扩展智能仓储系统的控制方 法，包括能实现多个 SMD 料盘同时存入、取出的功能；具有 RFID 读 写器及条码扫描双重管理识别系统，实现料盘的识别、扫描、信息录 入；全自动化管理、存取料，库存信息自动化收集，有效降低库存管 理的成本；提供存储量大、密闭性好、存储环境优良的存储空间；扩 展性较强，每单元由多个料盘架组成，每单元都具有扩展接口，以便 扩充仓库规模。通过本发明，能够高效率地实现 SMD 料盘的智能化存 储和管理，极大地节约人力、物力成本。
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2021-04-14
一种用于评估数控加工三轴刀具轨迹质量的工艺方法
本发明公开了一种用于评估数控加工三轴刀具轨迹质量的工艺 方法，其特征在于，包括：(a)获取由 n 个离散点依序共同组成的三轴 刀具轨迹，记录各个离散点在加工坐标系中的坐标值，将每个离散点 视为从坐标原点指向其所处位置的向量；(b)利用所获得的向量矩阵计 算三轴刀具轨迹的整体平滑度，并将其作为加工零件时的表面质量评 估指；(c)计算上述三轴刀具轨迹所对应的理想加工时间，并将其作为 加工效率的评估指标；(d)完成对三轴刀具轨迹质量的整体评估过程。 通过本发明，表明能够准确、高效和经济地评测三轴刀具轨迹加
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2021-04-14
一种基于白光干涉定位原理的比较仪及其检测方法
本发明公开了一种基于白光干涉定位原理的比较仪及其测量方法，该比较仪包括测量探针、测量物镜、干涉显微镜、垂直扫描工作台、滑块、CCD 成像单元、立柱、移动量检测单元以及水平工作台，其中垂直扫描工作台设置在立柱上，并由粗驱机构上下驱动；干涉显微镜和 CCD 成像单元固定在设置于垂直扫描工作台的滑块上，并由精驱机构上下驱动；移动量检测单元对滑块的移动量进行检测输出；测量探针可绕枢轴转动地设置在与干涉显微镜镜体竖直相连的支撑杆上，用于对被测对象相接触；测量物镜用于对光进行汇聚并形成干涉条纹。通过本发明，能够
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2021-04-14