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一种角锥棱镜坐标测量误差的补偿装置
本发明提供一种角锥棱镜坐标测量误差的补偿装置,解决精密测量和全站仪激光大角度入射时棱镜坐标测量精度较低的问题,用于棱镜-全站仪坐标测量系统。该补偿装置包括棱镜(1)、滤光镜(2)、镜头(3)和光敏位置传感器(4),所述棱镜棱角处切有与棱镜入射面平行的小口,所述光敏位置传感器(4)的光敏面位于镜头(3)的焦平面上且与镜头(3)轴线垂直,所述光敏面的中心在镜头轴线上。本发明能较好地消除折射效应对棱镜棱角坐标测量的影响,具有精度高、安装和操作简单等优点,可用于盾构测量、道路施工、地形测量等控制点测量领域。
华中科技大学 2021-04-14
机械式气动换向阀过渡机能自动测量技术
Ø  成果简介:机械式气动换向阀的过渡机能表征了在换向过程中各通口连通和切断的情况。是换向阀的一项重要指标。通过使用高性能的步进电机推动阀芯移动实现阀的换向,换向过程中利用两个高精度的压力传感器实时检测两个通孔的压力,同时,采用高分辨率的光栅尺记录下各个通口压力突变点时的阀芯位移, 将两个位移数值相减即得到机械式气动换向阀的过渡机能。Ø  项目来源:横向项目     技术领域
北京理工大学 2021-04-14
多模式三维测量显微镜技术及仪器
随着微纳加工技术的发展,微纳尺度空间三维测量技术需求越来越大。目前, 高端微纳结构三维测量仪器主要是国外进口设备,国内在核心技术和工程化方面 尚不足。在系统研究干涉显微测量技术和结构光共焦测量技术的基础上,提出了 干涉共焦显微镜方案,并得到专利授权,进行了仿真验证,光机结构设计和加工, 核心算法研究,软件编写,原型样机测试和改进等工作。提出一种基于可编程照 明的显微镜测量模式(申请专利)克服样品多反射率的影响;提出了一种基于选 择采样的相位求取算法,克服相移误差影响;在核心器件设计上,任务开展了低
上海理工大学 2021-01-12
激光光谱同步测量溶液液膜浓度与厚度
在各种工业过程中,液滴撞击到固体表面形成液膜的现象广泛存在,如选择性催化还原(SCR)系统中汽车尾气排放管上尿素溶液液膜的形成等。对液膜进行定量分析不仅能更好的了解液膜形成和蒸发这个极其复杂的物理过程的本质,也对优化所涉及的各种工业过程具有非常重要的意义。在许多情况下,溶液液膜厚度以及液膜内部的成分浓度是密切相关的,对其机理等的研究中这些参数相互耦合,给模型建立和求解带来困难。传统的测量方法只能实现对单个参数(厚度或浓度)的测量,无法同时测量。本项目基于比尔-朗伯定律建立溶液液膜多参数反演模型。基于不同浓度的溶液在红外区域高精度的吸收光谱,通过对溶液吸收系数与浓度的关系进行优化分析组合两个波数位置,实现对溶液厚度及浓度高精度、高灵敏度的测量。
上海理工大学 2021-04-13
一种用于微波波导测量系统的数字检流计
本实用新型公开了一种用于微波波导测量系统的数字检流计,包括信号调理电路、A/D 采样及显示 电路和电源电路。信号调理电路包括依次相连的 I/V 转换电路、放大电路以及有源滤波电路。A/D 采样 及显示电路包括依次相连的微处理器、驱动电路和数码管显示电路。电源电路分别与信号调理电路、A/D 采样及显示电路相连。该数字检流计,具有调零和增益调节功能,测量精度较高,结果稳定,不易被外 界环境干扰,在微波技术实验中,用它来替代光点检流计,应用于微波波导测量系统中,实现对对传输 线上电压的测量,方便了教学的开展和实验室的维护,能够更好地满足实验要求。
武汉大学 2021-04-13
一种同时测量株高和叶夹角的装置
本实用新型提供一种同时测量株高和叶夹角的装置,包括伸缩式高度测量尺,用于测量株高;第一折叠固定杆,与所述伸缩式高度测量尺的底端前侧面铰接;第二折叠固定杆,与所述伸缩式高度测量尺的底端左侧面铰接;第三折叠固定杆,与所述伸缩式高度测量尺的底端右侧面铰接;所述第一折叠固定杆、所述第二折叠固定杆和所述第三折叠固定杆用于提供支撑;所述第二折叠固定杆与所述伸缩式高度测量尺铰接连接形成的夹角,用于测量叶夹角。本实用新型通过伸缩式高度测量尺对株高进行测量,再通过伸缩式高度测量尺和第二折叠固定杆对叶夹角进行测量;这样对株高和叶夹角的测量就无需采用不同装置完成,本实用新型具有便于携带和轻便特点。
青岛农业大学 2021-04-13
磁光克尔效应测量系统手动非接触式样品测试
磁光克尔效应测量系统手动非接触式样品测试 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!  磁光克尔效应装置是一种基于磁光效应原理设计的超高灵敏度磁强计,是研究磁性薄膜、磁性微结构的理想测量工具。旋转磁光克尔效应(RotMOKE)是在磁光克尔效应测量基础上的一种类似于转矩测量各向异性的实验方法,可以定量的得到样品的磁各向异性的值。但由于电磁铁磁场大小的限制,只适合于测量磁各向异性的易轴在膜面内而且矫顽场不太大的磁性薄膜材料。结合源表可以进行样品的磁输运性能测量。RotMOKE具有以下特点:测量精度高、测量时间短;非接触式测量,是一种无损测量;测量范围为一个点,可以测量同一样品不同部位的磁化情况;可以产生平滑、稳定的受控磁场,并且磁场平滑过零。   您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 磁光克尔效应测量系统手动非接触式样品测试 磁光克尔效应测量系统广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、GMR/TMR等磁学领域。 锦正科技以现代高科技产业和传统产业为核心业务,对内承接科研生产任务,对外以商务平台方式实现军民两用技术成果转换,形成了科学管理的现代化经营模式,专门从事物理、化学和材料等领域的科学仪器研发、销售各类型超低温测试设备(液氮 液氦)制冷机系统集成 ,定制 ,高低温真空磁场发生系统,Helmholtz线圈(全套解决方案),电磁铁(全系列支持定制),螺线管,电子枪(高稳定性双极性磁铁恒流电源1ppm),高低温磁场真空探针台,霍尔测试系统,电输运测量解决方案,磁光克尔效应测量系统等产品种类齐全,性能可靠,至今已有近10余年的历史,是国内(较早)生产探针台,电输运,电磁铁的厂家之一。    
北京锦正茂科技有限公司 2022-02-24
霍尔效应测试仪 半导体材料测量实验仪器
北京锦正茂科技有限公司 2022-01-25
Cernox 温度传感器低温测量碳陶瓷温度计
北京锦正茂科技有限公司 2022-02-18
锦正茂磁场控制平台磁控原理磁测量系统
概述: FCP磁场控制平台是根据磁控原理设计的理想磁测量系统,磁场范围超过3T,利用TESTIK475高斯计稳定磁场控制,适合各系列电磁铁配置,连续可变的电磁气隙,实心的和光学入口极帽,线型双极,真实四象限电磁铁电源。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 锦正茂磁场控制平台磁控原理磁测量系统 FCP磁场控制平台控制特征: TESTIK475型高斯计努力保持确切的磁场密度,用户输入的控制设定点,用G、T、Oe、A/m来表示。北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台,可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 锦正茂磁场控制平台磁控原理磁测量系统 ※ 磁场控制平台包括锦正茂公司的电磁铁、双极电源、具有控制能力的DSP技术的高斯计、霍尔探头及支架等。 锦正茂提供的磁场控制平台具有不同的配制用来满足在磁场强度、磁场均匀性、样品尺寸、自定义测量要求等基础之上的用户要求。可以独立的形成用户所需要的不同磁场强度的可变磁场。广泛用于磁光测量系统、VSM测量系统、在线退火、霍尔效应、磁化率测量、自旋磁共振、B-H曲线测量和精准的传感器校准等领域。 475高斯计从高斯计霍尔探头得到反馈来计算并调整控制(模拟)输出。为了更大程度实现控制的稳定性,475型高斯计每33毫秒更新模拟输出。结果是一个内置的PI 控制器提供了峰值-到-峰值的0.5 G*的磁场稳定性。 ※ 当设定点速率激活的时候,仪器会开始从当前磁场读数加速而不是当前设定点,基于对P和I的设定。另外,475高斯计能设定速率来控制设定点,从当前磁场读数到一个新的值,使用一个磁场中平滑线性变换而不是瞬态特性的PI控制。 ※ 开环磁场控制也可能用手动输出来使用475模拟输出,这意味着忽视了反馈并且模拟输出停留在手动用户调整。这个方法使磁体电源操作处于恒定电流模式。 ※ 475也包含了用户可设定的控制斜率限制和模拟输出电压限制。这些软件限制保证了磁体电源如果磁场控制系统遭到不合适的调整或开始摆动而不会损坏。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! FCP磁场控制平台标准配置: TESTIK475有1个计算机接口:RS-232串口:。这个接口可以设置所有仪器参数和测量值得读回。在磁场控制期间,接口的读数率是额定每秒30个读数。475的LabVIEW驱动是提供的(选配)。磁场控制平台不含应用软件。    
北京锦正茂科技有限公司 2022-04-07
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