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中秋国庆双节活动:特价盐雾试验箱
产品详细介绍盐雾试验箱是电工电器,航空,汽车,化工,等领域必备的测试设备,用于测试电子等材料.买盐雾试验箱就到北京雅士林,设备保修1年,竭诚服务010-68176855 雅士林品牌盐雾腐蚀试验箱技术资料请参阅:盐雾试验机为人工气候环境“三防”(温热、盐雾、霉菌)试验设备之一,是模拟大气中含盐微小液滴所构成的弥散系统的设备。被广泛应用于对电子、电工及汽车、摩托车、五金工具等产品、零部件、金属材料与制品的镀、涂层等进行盐雾腐蚀试验。盐雾试验箱规格型号:型号            工作室尺寸D×W×H   外型尺寸D×W×HYSL-YWX/Q-150   450×600×400mm     700×1200×1100mmYSL-YWX/Q-250   600×900×500mm     950×1500×1200mmYSL-YWX/Q-750   750×1100×500mm    1100×1700×1250mmYSL-YWX/Q-010   850×1300×600mm    1150×2100×1550mmYSL-YWX/Q-020   900×2000×600mm    1250×2800×1600mm一、盐雾箱技术参数:温度范围:Rt+5℃~55℃湿度范围:85~98%RH温度均匀度:±2℃温度波动度:±0.5℃饱和空气筒温度范围: Rt+10℃~70℃盐雾沉降量:1~2mL/80cm2·h喷雾方式:连续/周期任选喷雾压力:0.07-0.17MPa(可调)试验时间:1~9999 H、M、S(可调)周期时间:1~99  H、M、S(可调)样 品 架:两层,可满足15/30度倾斜试验二、盐雾试验箱参照标准:    符合并适用我国颁布的专门用于电工电子产品盐雾试验的标准GB/T2423.17-2008;用于金属覆盖层的盐雾试验标准GB 6458、GB 6459、GB6460;专门用于考核轻工产品电镀层的盐雾试验标准GB 5938、GB 5939、GB 5940;主要适用于油漆层的盐雾试验标准GB/T1771-2007标准及GB/T10125-1997、ASTM-B117-73、GB10587、GJB150、DIN50021-75、JIS C5028-75、ISO3768、3769、3770持续盐雾等以及其他国际标准;三、【雅士林】盐雾箱箱体结构:整体模压经高温焊接而成、耐腐蚀、易清洁、无泄露现象。塔式喷雾系统,并装有盐液过滤系统,无结晶喷嘴,盐雾分布均匀,沉降量自由调整。箱盖采用透明材料可清楚看到箱内测试物品和喷雾状况。箱盖和箱体之间采用水密封结构,无盐雾溢出。线路控制板及其它元气件均固定在便于检查和维护的位置。门锁开启式边盖门,不仅美观,而且方便维护。 四、盐雾箱加热及温度控制系统:采用U型合金高速加温电热管;智能型高精度数显微电脑控制仪,温度控制均采用P.I.D+S.S.R,系统同频道协调控制,可提高控制元件与界面使用之稳定性及寿命;薄膜式按键,触控式设定、数位及直接显示,温度控制输出功率均由微电脑演算,以达高精度及高效率之用电效益;控制精度为:±0.1℃;测温传感器:PT100铂金电阻测温器;试验定时范围:1-9999时、分、秒、任意设置,当设备运行到达设定时间时,自动停止试验,并自动进入平衡状态降温;一套周期循环时间控制,满足客户做循环喷雾的需要。五、盐雾箱保护系统:无熔丝保护器;    试验箱超温保护;试验运行指示;    试验箱缺水保护;试验结束指示;    饱和器低水位保护;压缩气体两级稳压调压保护;过载、漏电具有自动关机等保护。六、盐雾箱使用条件:1、安装场地地面平整,通风良好设备周围无强烈振动设备周围无强电磁场影响设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘设备周围留有适当的使用及维护空间,2、供电条件电源要求:AC220V±10% 50±0.5Hz / AC380V±10% 50±0.5Hz                   预装功率:总功率+2.0KW要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关,并且此开关必须是独立供本设备使用(建议电源开关容量:32A)3、环境条件环境温度:5℃~+30℃(24小时内平均温度≤30℃)环境湿度:≤85%RH4、供水条件(仅限湿热型及需要用水设备)采用纯净水、蒸馏水、去离子水。电阻率≥500Ω.m5、其它注意事项试验过程中打开试验箱的门,会造成箱内的温、湿度波动;在试验过程中如果多次打开门或长时间敞开门或试验样品散发湿汽,可能会造成制冷系统换热器结冰而无法正常工作盐雾箱售后服务:1、安装调试:我司负责免费送货至客户指在地点, 并派专业技术人员免费安装调试,培训2~5名操作员到会操作为止。2、阳光售后服务承诺:公司产品均保修一年,终身维护。若产品出现问题,在接到报修电话15分钟响应,48小时内由我司专业维修人员上门处理。
北京雅士林试验设备有限公司 2021-08-23
1.5米1米双滚筒跌落试验机(订制)
产品详细介绍
欧美奥兰仪器有限公司 2021-08-23
基于近红外光谱的入孵前种蛋受精情况检测方法及装置
本发明提供一种基于近红外光谱的入孵前种蛋受精情况检测方法及装置,方法包括:获取对种蛋采用预设方式进行近红外光扫描形成的多个近红外光谱;所述预设方式为:对种蛋的至少两个不同预设位置中的每个预设位置进行至少一次扫描;获取所述多个近红外光谱中每个光谱中各个预设波段处的吸光度,并根据所述每个光谱中各个预设波段处的吸光度,计算各个预设波段处吸光度的平均值;根据各个预设波段处吸光度的平均值和各个预设波段处吸光度的预设权重系数,利用预设种蛋受精情况预测模型计算所述种蛋是否受精的预测值;根据所述预测值,确定所述种蛋是否受精。本发明可在不破坏种蛋完整性的情况下且在入孵前准确判定受精蛋未受精蛋的类型。
中国农业大学 2021-04-11
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学 2022-06-06
一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方法
本发明公开了一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方 法,首先使用 PPI 算法计算高光谱图像中所有像元的 PPI 值,根据像 元的 PPI 值确定初始候选端元集,并对初始候选端元按 PPI 值由大到 小进行排序;然后依次剔除初始候选端元集中独立性最弱的候选端元, 同时获得随端元个数递减的候选端元集的重构精度曲线和端元独立性 曲线,通过寻找这两条曲线变化的显著性位置确定端元个数的取值范 围;最后利用 SGA 算法获取不同端元个数下的二次选择候选端元集, 根据这些候选端元集所构成的重构精度曲线,确定最终的端元个数, 同时获得最终的端元提取结果。本发明不需要事先给定端元的个数, 有利于端元提取的自动化处理,同时提取的端元准确性高。 
华中科技大学 2021-04-11
一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法
本发明公开了一种利用多光谱图像分类进行典型地物参考图制备的方法,从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标,并制备出包含所述地标的参考图,以用于目标的间接定位识别,该方法具体包括:从多光谱图像中选择感兴趣类,提取其光谱-空间纹理特征,根据提取的光谱-空间纹理特征对多光谱图像进行分类;在分类基础上,提取完整的感兴趣类,并依据地标选取准则选择用作地标的感兴趣类;根据地标材质类型,利用红外辐射公式计算出地标在大气参数条件下的红外
华中科技大学 2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法,通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率,以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和,获取光谱 分析仪的校正分辨率;并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率, 获取光信噪比,提高其测量精度;本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题;本发明提 供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正,也适用于所有基于光 谱分析的光信
华中科技大学 2021-04-14
一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法
本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法,方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面,检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收,通过对测量光谱进行谐波分析,计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息,并通过非线性回归,库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数,特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源,透镜组,起偏器和伺服电机驱动的补偿器),待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器,检偏器,透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件,以及纳米制造中各种纳米结构的在线
华中科技大学 2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法,通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率,以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和,获取光谱 分析仪的校正分辨率;并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率, 获取光信噪比,提高其测量精度;本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题;
华中科技大学 2021-04-14
基于丰度显著性分析的高光谱图像解混方法及系统
本发明提供基于丰度显著性分析的高光谱图像解混方法及系统,包括建立待处理的高光谱遥感图像 的端元光谱库;用基于稀疏回归的混合像元分解方法对每个像元进行初步混合像元分解并按照丰度值的 大小降序排列,对排序后的丰度序列进行显著性分析,得到显著性丰度的临界值,然后根据预设的显著 性丰度阈值进行判断组成该像元的稀疏表示端元子集;最后采用丰度约束的最小二乘法再次进行混合像 元分解,将结果作为最终的混合像元分解结果。本发明可以得到更为稀疏和准确的像元表示端元
武汉大学 2021-04-14
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