产品详细介绍 一.简介Allview Pro是最新研制的专业级智能全景高精度电动云台，旋转位置分辨率可达0.01度。适用于各种单反相机高达上百亿像素的矩阵摄影， 360度环形全景摄影以及360度球形全景摄影。也可用于延时摄影（TimeLapes）高分辨率转台，或配合滑轨使用。Allview Pro 外形美观，设计精巧，结构合理，采用稳定性远好于L型支架的U型支架，可靠性高，承载性好，节点调节方便，机械旋转系统多 达14个轴承，自动消回差设计，永无磨损烦恼，易于使用。控制界面图形化，可选中文或英文。由于采用低功耗设计，整机续航时间超长，是 国外进口同类产品的两倍。    Allview Pro 可通过RS232通讯接口与计算机相连直接固件升级，也可直接由计算机全功能控制操作，也可通过无线WIFI, 由笔记本, iPad 或iPhone手机全功能控制操作。也可以多台组网联拍。二.性能参数 1.  工 作 方 式：    全景/转台两用 2.  云 台 自 重：     3.3 kg 3.  最 大 载 重：    全景5 kg (相机加镜头) / 转台10kg 4.  体         积：     28 x 30.3 x 13.3 cm 5.  运 动 范 围：    方位360度，俯仰 + 90度到 - 90度 6.  适 用 机 型：    镜头中心到相机底部小于80 mm所有单反相机 7.  相机放置方式： 横置或竖置 8.  结         构：     双臂（U形）全封闭 9.  架 体 材 质：     铝合金10. 驱 动 电 机：     步进电机11. 运动分辨率：     0.0001度/步(位置分辨率0.01度) 12. 最大回转速度：  15度/秒（方位），8度／秒（俯仰）13. 运 动 方 式：      双轴同时14. 传 动 方 式：      蜗轮蜗杆（金属）15. 回差（间隙）：   零（消间隙）16. 运 动 抖 动：      无17. 内 置 电 池：      7.4 V  4.4 AH可充电锂电池18. 续 航 时 间：      连续拍摄大于50000张（1张/每秒的条件下）    19. 显   示   器：      128 x 64 点阵LCD20. 矩 阵 选 择：      对角任意21. 快   门   线：      7根（佳能 N3，佳能 E3，尼康 10针，尼康MC-DC2，尼康MC-DC2，                                尼康MC-DC1，Olympus RU-UC1，SONY RM-S1AM）22. 远程触发接口：  2.5 mm三芯插座23. 无 线 通 讯：      WIFI全功能控制24. 通 讯 接 口：      RS232  RS48525. 软 件 升 级：      用户可固件升级26. 上位机控制：     上位机控制面板27. 背          包：     标配 IPANO Allview Pro智能电动全景云台，具有强大的延时摄影功能，可以自由设定起始位置、拍摄张数、间隔时间、每张间隔角度，还可以在延时拍摄时实现包围曝光。使用IPANO电动云台拍摄的扬州市文昌阁的延时作品：视频地址：http://www.tudou.com/programs/view/_gx66mFzAoI/ 使用IPANO电动云台拍摄的安徽歙县坡村的星空延时作品：视频地址：http://www.tudou.com/programs/view/NfCHzYzT3p8/PC端无线控制软件，iPano Commander.exe下载地址：http://pan.baidu.com/s/1o6DZNJWAllview Pro 最新固件：AVP_20150629.bin下载地址：http://pan.baidu.com/s/1c0yfjNi  

百度（中国）有限公司投资经营决策服务，市场营销服务，管理服务，员工管理服务，研究开发技术服务，信息技术服务。设计、制作、发布、代理国内外各类广告业务。

     班度科技(深圳)有限公司承续「信息光子学与光通信国家重点实验室（北京邮电大学）」十余年研发和工程化沉淀，拥有完全自主可控知识产权。班度致力于以裸眼3D光场显示技术为核心驱动，结合人工智能和大数据技术，以颠覆创新的系列软硬件产品，提升人类的认知分析能力，构建人和世界的新连接方式。班度专注于影像和数据的智慧呈现和管理，赋能产业进化、开创产业空间、创造人类生活崭新体验产品，性能可满足党政执法、文旅、医疗、教育、航空航天、展览展示、传媒等行业应用需求，多产业已落地。     班度科技教育行业解决方案覆盖高等学校、职业教育和K12普通教育，致力于以颠覆创新的完全自主知识产权的3D显示技术结合数字孪生、人工智能、大数据等技术，构建智慧教育的创新体系，解决当前教育信息化、教育现代化的痛点并满足广泛的升级需求。    传统裸眼 3D 显示系统显示分辨率、观看视角和出屏深度之间存在着相互制约的关系，因此无法在高分辨率、宽视角的前提下保证一个大的出屏深度，从而减弱了裸眼3D显示系统的显示效果。为了解决这个难题，班度团队创新性地将光场显示技术与离屏空间悬浮显示技术融合在一起提出了一种新型的显示系统 “立式裸眼3D空气悬浮3D光场显示系统”。该显示系统将上述两种显示技术的优势结合在一起，实现了一个高分辨率、宽视角、大出屏深度且拥有正确空间遮挡关系的悬浮3D效果。

本发明公开一种在二维平面内生成随机椭圆形增强相的方法，该方法利用计算机随机数生成方式，随机产生椭圆中心坐标和偏转角，通过判断点与椭圆的位置关系，避免了椭圆之间相互重叠。本发明理论简单、快速高效，判断椭圆之间是否相交只涉及到点与圆位置关系的判断公式，相比已有专利中通过多边形覆盖法、椭圆覆盖法等，本发明更易于学习掌握；本发明中椭圆的生成遵循逐行逐列的原则，相比在整个模拟区域内随机生成随机的椭圆，特别是当生成椭圆的纵横比相差较大的时候，生成椭圆形增强相的时间更短，效率更高。

本发明公开了一种基于金属基平面纳尖簇电极的电调透光率薄膜，其包括：由金属平面纳尖簇线密集排布构成的一层图案化阳极和一层平面金属纳膜阴极/阳极，它们被分别制作在透光的纳米厚度的基膜/光学介质层的两个外表面上；在加电态下，图案化阳极中的金属平面纳尖与金属纳膜阴极/阳极间形成局域弯曲的锐化电场阵，阴极/阳极上可自由移动的电子被阴阳电极间所激励的阵列化纳电场驱控，向各纳电场中电场强度最强部位聚集。本发明基于金属基平面纳尖簇电

本发明公开了一种基于金属平面微纳线尖簇电极的电调透光率薄膜，其包括：由金属平面微纳线尖有序密集排布构成的一层图案化阴极和一层平面阳极，它们被分别制作在一层纳米厚度的透光基膜/电绝缘膜的上下表面；在加电态下，阴极上可自由移动的电子被阴阳电极间所激励的电场驱控，向金属平面微纳线尖簇其各纳线尖顶聚集，纳线尖金属电连接线上的自由电子分布密度因部分甚至绝大多数电子被纳线尖顶抽走而减少甚至急剧降低。本发明基于金属平面微纳线尖

本发明涉及一种融合多尺度特征的激光扫描数据物理平面自动化提取方法。本发明解决的现有问题 主要包括:1发展了基于信息熵的最佳邻域自适应确定方法，克服了点密度变化、噪声、数据缺失等因 素对三维点局部几何特征计算的影响;2综合利用基于点的特征(维数特征，法向量等)和基于区域的 特征(粗糙度、紧凑度、尺度、长宽比等)进行物理平面区域提取，提高了物理平面提取的准确性;3 扩展了现有平面分割方法的适用范围，本发明适用于机载、车载、固定站等多种类型激光扫描数据的物 理平面提取。发明的整体技术流程图如下图。

CS2350M双恒电位仪是基于常规单通道CS350M 型电化学工作站拓展的产品，可以实现2个通道同步测试，搭配旋转环盘电极（RRDE）使用，各通道独立，可以实现不同参数、不同电分析方法的独立使用，软件友好，可以实现组合编程功能。具体应用于： 1）电合成、电沉积（电镀）、阳极氧化等反应机理研究； 2）电分析化学研究、电化学传感器的性能研究； 3）新型能源材料、先进功能材料以及光电材料的性能研究； 4）金属材料在不同介质（水/混凝土/土壤等）中的腐蚀研究蚀性评价； 5）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率的快速评价。 1、硬件参数指标   2，3，4电极体系 双恒电位仪，双通道独立使用 电位仪电位控制范围：±10V 恒电流控制范围：±1.0A 电位控制精度：0.1%×满量程读数±1mV 电流控制精度：0.1%×满量程读数 电位分辨率：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) 电流灵敏度：<1pA 电位上升时间：<1mS(<10mA),<10mS(<2A) 参比电极输入阻抗：1012W||20pF 电流量程：2A～2nA, 共10档 最大输出电流：1.5A 槽压：±21V   CV 和LSV扫描速度：0.001mV～10000V/s CA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s 电流扫描增量：1mA @1A/mS 电位扫描时电位增量：0.076mV @1V/mS SWV频率：0.001～100KHz DPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000s AD数据采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHz DA分辨率：16bit, 建立时间：1mS CV的最小电位增量：0.075mV 低通滤波器：8段可编程 电流与电位量程：自动设置 接口通讯模式：网口   2、电化学阻抗功能指标   信号发生器： 频率响应：10mHz~1MHz 频率精确度：0.005% 交流信号幅值：1mV~2500mV 信号分辨率：0.1mV RMS 直流偏压：-10~+10V DDS输出阻抗：50W 波形：正弦波，三角波，方波 正弦波失真：<1% 扫描方式：对数/线性，增加/下降   信号分析器： 最小积分时间：10mS 或循环的最长时间 最大积分时间：106个循环或者105S 测量时间延迟：0~105秒 直流偏置补偿： 电位自动补偿范围：-10V~+10V 电流补偿范围：-1A~+1A 带宽调整(Bandwidth) ： 自动或手动设置，共8级可调   3、CorrTest测量与控制软件主要功能 第一通道软件功能 稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（I-t曲线)、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP） 暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、恒电位阶跃、恒电流阶跃 计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC） 伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）#、线性循环伏安法（CV）、阶梯循环伏安法（SCV）#、方波伏安法（SWV）#、差分脉冲伏安法（DPV）#、常规脉冲伏安法（NPV）#、常规差分脉冲伏安法（DNPV）#、差分脉冲电流检测法（DPA）、双差分脉冲电流检测法（DDPA）、三脉冲电流检测法（TPA）、积分脉冲电流检测法（IPAD）、交流伏安法（ACV）#、二次谐波交流伏安（SHACV）、傅里叶变换交流伏安【标#号的方法包括相应的溶出伏安分析方法】 交流阻抗：电化学阻抗～电位控制模式、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、电化学阻抗～电流控制模式 腐蚀测量：动电位再活化法（EPR）、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试 电池测试：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电位间歇滴定（PITT）、恒电流间歇滴定（GITT） 其他：圆盘电极测试以及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 第二通道软件功能 稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（i-t 曲线）、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL 曲线）、动电流扫描（DGP） 暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、恒电位阶跃（VSTEP）、恒电流阶跃 计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC） 伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）、线性循环伏安法（CV） 电池测量：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电位间歇滴定（PITT）、恒电流间歇滴定（GITT） 其他：圆盘电极测试以及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 通道二可选配功能：交流阻抗功能   交流阻抗：电化学阻抗～电位控制模式、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、电化学阻抗～电流控制模式 4、仪器配置 1）仪器主机1台； 2）CorrTest测试与分析软件1套 3）电源线1条 4）网口通讯线1条 5）电极电缆线2条 6）模拟电解池2个（仪器自检器件）

本成果是基于针对空中隐身、弱小、高空高速等飞行目标的积累检测问题开展研究，通过建立三维时间模型和三维回波信号模型，并采用长时间积累检测算法，达到缩短发现时间、推远警戒距离，以改善空中微弱目标的检测性能。项目采用理论分析和计算机仿真验证相结合的研究方法，围绕“三跨”微弱目标回波建模及弱信号积累方法中的难点开展研究，结合空中微弱目标的运动方式及特点、在利用相控阵雷达多波束扫描工作特性的基础上，提出并建立了三维时间模型（即，快时间、慢时间和波束时间）和“三跨”微弱目标的三维回波信号模型；根据高速微弱目标的运动特征，提出并完善空中微弱目标长时间积累增强算法IAR-MTD，实现了空中匀速微弱目标的积累检测；利用空中目标的稀疏特性，通过将长时间积累算法与压缩感知技术相结合，提出IAR-MTD-CS算法，实现了空中稀疏微弱目标的检测；针对跨波束单元运动目标，基于上述三维时间模型和三维信号模型，提出并完善了MBACIA-TSMB和MBACIA-SSMB两种算法，并提出切向多普勒频率概念，从而实现对跨波束单元运动目标的检测及径向速度和切向速度的估计。

成果介绍研究方向为：（1）智能化软件工程(Intelligent Software Engineering,ISE)，旨在把人工智能技术、大数据技术和新型计算技术与传统的软件工程技术结合起来，运用到软件开发和管理过程中，以便提高软件开发的效率、降低软件开发成本，提升最终软件产品的质量等。具体包含智能化软件开发方法与技术、智能化软件调试和测试技术、智能化软件架构和演化技术等等。（2）软件全方位缺陷检测(Software Defects Detection from All Aspects, SDD)，研究各种类型的软件缺陷检测和定位技术，保障开发出少缺陷、高质量、高可靠性、高安全性和可信的软件产品。技术创新点及参数相关技术达到国内领先水平，有不少核心技术是国内首创。主要创新点包括：（1）全方位的缺陷类型分析；（2）全方位的缺陷分布检测；（3）全方位的缺陷检测视角；（4）全方位的缺陷检测技术；（5）全方位缺陷定位技术。