B11-3恒温磁力搅拌器有液体温度设定与测量，还有台面温度设定控制。这一改进能大大克服加热时温度过冲现象。搅拌部分采用直流三相无刷电机恒速控制，所以搅拌性能更好，特别在低速时可以以50转/分的转速启动运行。

磁敏电阻芯片及相应传感器的开发与应用是磁敏传感技术近二十年来最蓬勃发展并实现产业化的新兴分支。1.我们研制的高分辨率（１０００～４０００脉冲/３６０º）磁编码器（国家自然科学基金项目）其关键技术指标频率响应达３００ＫＨｚ，超过国外同类产品的３０％，是光学编码器频响的３倍。2。我们生产的具有判向功能、从０～数万转速的测速传感器，具有信号无接触测量，无触点、无磨损、无噪声、使用寿命长，分辨高，检测距离远、频率响应宽达到0－200KHZ、性能明显优于光电测速传感器和电感测速传感器。已成功替代纺织进口设备传感器3。无触点磁敏电位器（北京市自然科学基金项目）已获得过国家专利，该产品内部具有信号无接触测量，使用寿命长，分辨率高，转动力距小，高频响应特性好，抗干扰能力强，适用于油、水、粉尘等惡劣环境的特点。4。最新结构的倾斜角传感器（建设部项目），已申报国家发明专利，信号感应检测无磨损   无电噪声 、高可靠性、高分辨率、 高稳定性、特别适用于运动频繁要求使用寿命长的场合，环境适应性强，可用于潮湿、油污、粉尘、盐污、露天等多种工业场合。  

本实用新型涉新颖性、创造性在于研发了具有自动防污功能的气敏报警装置.属于电子技术领域. 气敏传感器容易污损，导致工作不正常.它包括以下部分：分别是第1分隔舱、第2分隔舱、单片机控制部分、步进电机、遮污片. 第1分隔舱由污损检测传感器部分和气敏传感器组成. 污损检测传感器由检测外界光环境的光敏传感器、污损传感器组成.其中污损传感器由光线导筒、污损光敏传感器、标定调节螺栓组成.当单片机检测外界光环境的光敏传感器检测到光线而污损传感器由于光线导筒被油污堵塞光线无法通过，此时单片机软件可以判断出光线导筒被油污堵塞， 第2分隔舱开始工作. 其有益效果是，可自动更换气敏传感器，从而确保安全。

本发明公开了一种多探针平面度检测仪及其相应的检测方法，该检测仪包括测量探针阵列、测量物镜、干涉显微镜、CCD 成像装置、垂直扫描工作台和水平工作台，其中干涉显微镜和 CCD 成像装置设置在垂直扫描工作台上，分别用于形成光的干涉条纹和干涉条纹的成像；测量探针阵列包括多个探针，这些探针各自的前端具有探针针尖，后端具有平面反射镜；测量物镜固定安装在干涉显微镜下部并处于探针平面反射镜上方，用于对光线进行汇聚；水平工作台设置在测量探针阵列下方用于放置被测样品。按照本发明，能够实现多探针同时测量，充分利用光干涉的高精度特性并有效避免测量时被测表面材料光学性能的影响，相应能够实现结构简单、测量精度高和成本低的效果。

本项目可利用实验室开发的纳米材料薄膜，在弱电的激发下，对微量的过氧化氢实现传感测定的作用，其最低的检测极限达到10μM；抗干扰能力强，具有较高的选择性；检测时间迅速，在10s内即可完成检测过程；价格低廉，适用于快速的食品分析中。实验室结合丝网印刷技术，将传感材料批量化集成为微型传感芯片，同时，针对该传感材料的高灵敏特性，已针对开发出稳定的配套电子电路，其能将检测信号准确放大，实现快速的数据分析及显示功能，构建出手持式高灵敏度食品安全检测仪。

仪器概述   本仪器是采用国际液压标准委员会指定的光阻（遮光）法计数原理，专门用于现场油液污染度等级快速检测装置。具有体积小、质量轻、检测速度快、精度高、重复性好等优点，可在高温高压等及其恶劣的条件下工作。内置微水传感器和温度传感器，在进行污染度检测的同时，可对水含量和油液温度一并检测。可广泛应用于地下水、化工、交通港口、钢铁冶金、汽车制造等领域。 技术参数 1、光源：半导体激光器 2、粒径范围：0.8－600um（根据不同传感器而定） 3、检测通道：任意设置粒径尺寸 4、取样体积：0.2－1000ml 5、取样精度：优于±1% 6、取样速度：5－80mL/min 7、清洗速度：5－80mL/min 8、清洗体积：可在0ml～90ml间设置 9、计数准确性：误差小于±5% 10、分辨率：≤10% 11、重复性：RSD＜2%12、极限重合误差：12000-40000粒/mL13、离线检测粘度：≤100cSt（选配气压瓶式取样器最高粘度可达400cSt）14、压力范围：低压0－0.6MPa、高压可达40MPa（选配减压阀）15、在线检测间隔时间：任意设置16、检测样品温度：0℃～80℃17、工作温度：-20℃～60℃18、储存温度：-30℃～80℃19、电源：AC100－240V，50/60Hz20、电池容量：5200mAh21、电池运行时间：6－8小时22、外形尺寸：410×320×165mm23、重量：8.5kg 性能特点 1、国际液压标准委员会指定的光阻（遮光）法测试原理 2、高精度激光传感器，测试范围宽，性能稳定，噪声低，分辨率高3、高精度双向柱塞计量泵取样方式，进样速度可调，取样体积精度高4、管路采用316L及PTFE材料，耐腐蚀，满足各类有机溶剂及油品的检测5、用于实验室或现场测量，可选配减压装置用于在线高压测量6、可外接压力舱形成正/负压，实现高粘度样品的检测和样品负压脱气7、可使用标准取样瓶、取样杯等多种取样容器，或直接接入液压系统在线检测，满足不同行业的检测要求8、内置多重校准曲线，兼容所有国内外常用标准进行校准9、内置GJB-420A、GJB-420B、NAS1638、ISO4406、SAE4059E和ГOCT17216等多个常用标准，一次测试可给出所有内置标准下的数据结果，支持自定义标准测试，并可根据客户需求设置所需标准10、可设置1000个粒径通道，便于进行颗粒度分析11、内置数据分析系统，可根据标准自动判定样品等级，具有数据自动处理、打印功能12、彩色触摸屏操作，中英文输入，可自由切换语言界面，具有预设、输入、修改、存储功能，操作方便快捷13、具有RS232接口，可连接电脑或实验室平台进行数据处理，也可使用USB进行数据存储14、内置锂电池，适合野外作业，无需外接电源即可使用15、嵌入式设计，高强度外壳，便于携带，适合各类工程机械 网址链接 http://www.csscyq.com/proshow.asp?id=837

原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。

项目简介 原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)，是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微镜主要由带针尖的微悬臂，微悬臂运动检测装置，监控其运动的反馈回路，使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件，计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM 测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。a 传统的商业CAFM 针尖图  b 覆盖有石墨烯层的CAFM 针尖应用范围原子力显微镜(AFM) 在许多基础研究领域中得到广泛使用，是超微观察工具，特别是对于不具有导电性的生物样品和有机材料等，AFM 同样可以提供较高分辨率的表面形貌图像。同时，AFM 还具有操纵和改造原子、分子世界的手段。原子力显微镜为了避免加宽效应，一般通过电子束加工针尖使其曲率半径达到几个纳米，来提高图像的分辨率和准确度。但仍然存在着一些局限性，例如：针尖性质的变化很大，获得高分辨率的图像变得很难。另外，针尖扫描时的磨损对分辨率也有影响。AFM 能获得原子分辨率，主要是因为在其针尖的表面存在着原子级的突起，构成了与样品的实际接触。但是这些突起的尺寸形状和化学组成是未知的，而且在实验中经常发生改变，因此获得可信赖的针尖是成像过程中获得高分辨率的关键。不同的针尖适用于AFM 不同的应用领域。导电原子力显微镜（CAFM）采用固体金属作AFM 的针尖，对材料进行纳米尺度的电学表征依然存在着同样的困扰。 项目阶段北京大学工学院研究团队利用单层石墨烯包覆CAFM 金属针尖，发现石墨烯包覆的针尖保留了包覆前针尖的形状，并且包覆的针尖能承受非常高的电流和摩擦力。新型针尖具有稳定、耐磨、寿命长、图像失真度低等优点，很好的解决了现有AFM 针尖中存在的问题，提高了AFM 的仪器性能。知识产权该项研究已经申请了欧洲专利，纳米技术设备领域的诸多公司表现出了对该项研究成果的强烈兴趣。合作方式 技术转让、合作开发、技术入股。

利用等强度的偏振正交的双色飞秒光场（800nm + 400nm），深入研究遂穿电子干涉的干涉动力学，提出了利用新型的“时空电子干涉仪”，探测电子在遂穿过程中获得势垒下相位，揭示电子隧穿的动力学信息。该工作利用先进的冷靶反冲离子电子动量成像谱仪（所谓COLTRIMS），清晰地测量了正交双色光场下的光子周期内干涉图案。通过与理论模拟的对比 [强场近似（SFA）,库仑修正的强场近似(CCSFA)和数值求解含时薛定谔方程（TDSE）]，揭示出了光电子势垒下相位的对干涉图案的贡献。研究结果表明势垒下相位蕴藏着的电子隧穿动力学信息，对光电子干涉和光电子全息起着不可或缺的作用。

研究团队利用一团冷原子云在量子界面中演示了厄米性可调的动态分束器的干涉，在原子系综中实现了行进中的光波与定域的原子自旋波之间的直接干涉，构建了一种新的物理模型。该物理模型同时适用于所有类似结构的介质和光界面，为非厄米量子物理研究提供了一个新的平台。