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面积测量器
产品详细介绍面积测量器
宁波舜盈机电科技有限公司 2021-08-23
一种直流激励磁场下的非侵入式快速温度变化的测量方法
本发明公开了一种直流激励磁场下的非侵入式快速温度变化测量方法,包括:(1)将铁磁性粒子置于待测对象处;(2)对所述铁磁性粒子所在区域施加直流磁场使所述铁磁性粒子达到饱和磁化状态;(3)获得待测对象在常温下的稳态温度 T1,根据所述稳态温度 T1 计算出铁磁性粒子的初始自发磁化强度 M1;(4)当待测对象发生温度变化后,测量铁磁性粒子在温度变化后的磁化强度变化信号的幅值 A,根据所述磁化强度变化信号的幅值 A 计算得到
华中科技大学 2021-04-14
一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量方法
本发明公开了一种基于微流控芯片粒子捕获式单粒子散射测量 方法,包括微流控芯片的设计制作、测量环境配置、对准、单粒子的 捕获和单粒子环境的构建以及单粒子大角度的散射分布的测定等相关 方法。与现有技术相比,由于结合了微流控芯片粒子捕获技术,克服 了单粒子的大角度散射、大动态范围内的光散射特性测量方法的不足, 实现了单粒子大角度散射分布的测量
华中科技大学 2021-04-14
磁光克尔效应测量系统高灵敏磁强计样品磁性测量
产品概述: 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 磁光克尔效应测量系统 磁光克尔效应装置是一种基于磁光效应原理设计的超高灵敏度磁强计,是研究磁性薄膜、磁性微结构的理想测量工具。旋转磁光克尔效应(RotMOKE)是在磁光克尔效应测量基础上的一种类似于转矩测量各向异性的实验方法,可以定量的得到样品的磁各向异性的值。但由于电磁铁磁场大小的限制,只适合于测量磁各向异性的易轴在膜面内而且矫顽场不太大的磁性薄膜材料。结合源表可以进行样品的磁输运性能测量。RotMOKE具有以下特点:测量精度高、测量时间短;非接触式测量,是一种无损测量;测量范围为一个点,可以测量同一样品不同部位的磁化情况;可以产生平滑、稳定的受控磁场,并且磁场平滑过零。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 应用领域: 磁光克尔效应测量系统广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、GMR/TMR等磁学领域。 可测试材料:记录磁头,磁性薄膜,特殊磁介质,磁场传感器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 产品特点: 1·测量灵敏度高,稳定性好,噪音低 2·非接触式测量,是一种无损测量 3·可以测量同一样品厚度不等的楔形磁性薄膜 4·可以将样品放到真空中原位测量 5·可以测量同一样品不同部位的磁化情况 6·纵向、横向和极向克尔效应测试 7·三百六十度电动旋转样品,可测试样品各向异性 8·手动左右和上下位移样品,可测试样品表面不同点的克尔效应 9·样品座有电接口,可加入磁电耦合测试。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 技术指标: 1· 样品尺寸:大Φ10mm的圆 2· 克尔角分辨率(δ):0.001度; 3·椭偏率分辨率(ε):0.1%; 4·小光斑(Φ):10微米; 5· 大磁场:单维0.26特斯拉; 6· 样品电动角度步进0.1度,手动位移步进10微米; 7·噪音:1%。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 技术参数: 1·光学平台:    刚性隔震,不锈钢贴面,1200*800*800mm,M6螺孔,25mm阵距,150mm台板厚度,带脚轮。台面平整度0.1/1000mm,平台载荷300Kg,固有频率≤2.5Hz,阻尼比0.12~0.13R/S。 2·矢量电磁铁: 锦正茂二维矢量电磁铁,每维大磁场0.26T,极面直径30mm,磁场间隙40mm,中心10mm正方体内均匀区1%。 3·电磁铁电源: 锦正茂单相双极性恒流,大10A,小分辨率0.1mA,稳定性50ppm/h,对应小分辨率0.1Gauss。 4·激光器: Newport    632.8nm,2mW,2%稳定度,噪音<1% rms(30Hz~10MHz),通过聚焦透镜光斑小为10μm的圆。 5·起偏/检偏器:格兰-汤普森棱镜,外径25.4mm,通光孔径10mm,消光比<5*10^-5,角度范围14~16°,波长范围350~2300nm。 6·聚焦透镜:K9双凸,设计波长633nm,外径25.4mm,焦距150mm,焦距误差±0.5%,面精度X方向λ/4,Y方向λ/2。 7·四分之一波片:Ø25.4mm,波长632.8nm,投射波前畸变λ/8,相位延迟精度λ/100。 8·光电传感器:15mm²感应面积,0.21A/W响应度,暗电流1nA,对430~900nm波长光敏感,分流电阻200Mohm。 9·电流放大器:1pA/V大增益,1MHz带宽,大输入±5mA,大输出±5V,增益精度为输出的±0.05% 10·高精度电压表:六位半,小分辨率0.1μV,90天准确度达到0.002%,四位半精度下快2000 readings/second 11·手动位移和电动旋转样品杆:   XYZ三维位移,XY行程25mm,Z行程13mm,转动360度,样品座为直径11mm的圆,上有电接头。 12·计算机:联想商用,集成多串口卡。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!
北京锦正茂科技有限公司 2022-01-25
文化符号多层次数字化开发与应用
团队研究方向:(1)XR与沉浸场景设计研究;(2)中国风格创新设计研究;(3)基于文化和设计驱动力的品牌战略研究。科研项目:承担国家科技部、文旅部、中宣部、教育部等国家课题多项。承担企事业横向课题几十余项。 1、痛点问题:当前,传统文化产业面临数字化转型挑战。随着时代发展,传统文化元素现代转化存在障碍,品牌力不足,市场潜力未充分挖掘。同时,互联网经济下,时尚节奏加快,传统设计样式及产品迭代效率难以快速响应市场变化和消费者需求。 2、解决方案:成果开发了“文化符号多层次数据调取系统”软件算法,实现文化符号的数字化提取和二次开发。该技术能快速生成多元化设计原型,辅助设计和样品观赏。 3、竞争优势分析:成果在文化符号快速调取和应用方面具显著优势,可降低创新成本,提高生产效率。 4、AI对文化产业作用及市场应用前景:AI技术推动文化产业创新升级,满足消费者对个性化、时尚化产品需求。项目成果应用前景广阔,文旅行业市场规模逐年提升。成果已经在辽宁朝阳喀左的紫砂产业落地应用。 5、知识产权情况:《文化符号多层次数据调取系统》等2项软件著作权,法律状态已登记。
清华大学 2025-05-16
艾迪生数字书法教室—数字书法临摹台
产品详细介绍艾迪生科教设备(北京)有限公司是一家国内领先的专注服务教育行业的高新技术企业,公司致力于数字信息及互联网技术与传统教育有机融合,创造高性能、高品质的教学信息产品,提升课程教学中“教与学”的质量、效果和效率。艾迪生以服务教育、助力教育为使命,坚持创新与融合、开放与合作、技术与品质的发展理念,围绕科技助力教育的指导思想,坚持“易教、易学、易用”的教学产品策略,持续创新研发数字化书法教学产品,通过革新教学模式全面提升教学质量和效能。 艾迪生数字化书法教学系统,具有完全自主知识产权,完全按照教育部《中小学书法教育指导纲要》(教基二[2013]1号)进行开发,兼容教育部审核通过的11 套书法教材,借助信息化技术手段,即使在没有专业书法教师的情况下也能有效的开设较高质量的书法课程,在一定程度上弥补了我国中小学书法教师匮乏的困境,对全面均衡提高我国中小学书法艺术水平很有意义。  www.aodoso.com  电话:15901591913 QQ:1919191301 数字书法临摹台 规格:1400*600*760 材质:优质环保实木板材 工艺:采用中式传统设计方案,榫卯结构 油漆:采用优质环保水性易涂宝。    
艾迪生科教设备(北京)有限公司 2021-08-23
一种水面光谱手持式单通道三路自动测量装置与方法
本发明公开了一种水面光谱手持式单通道三路自动测量装置与方法,包括控制手柄、长杆、角度跟 踪仪、角度调节仪、连接导线、水上光谱仪光学探头安装架、图像记录仪;方法包括运输、组装、搭建、 计算观测方位、调整观测方位、调整光学探头观测天顶角、采集数据、保存数据等步骤;本发明避免了 人工调整光学探头观测角度带来的误差,提高了角度调整的精确度,能够在采集光谱数据的同时记录目 标区域的照片,为后续数据处理分析提供了重要的参考依据。并且,本发明装置结构设计灵活,易于拆 卸与安装,携带方便,操作简单,非常适合外出作业进行水体表观光谱数据的测量,具有很好的业务化 应用前景。
武汉大学 2021-04-13
种电液伺服阀叠合量测量装置及其测量方法
本发明涉及一种电液伺服阀叠合量气动测量装置及方法。本装置及系统对电液伺服阀的进油腔或回油腔提供稳定的气压,驱动阀芯缓慢及微量的移动,采集阀芯运动过程中气体流量、阀芯位移数据,并进一步计算出电液伺服阀各工作边的叠合量。本装置及系统主要包括:电动平移台、接触式位移传感器、流量控制器、配气座、气动滑台、气爪、气路系统等。电动平移台带动阀芯做缓慢及微量移动;气动平移台实现工艺壳体的压紧、阀芯的夹紧、位移传感器与气爪的接
华中科技大学 2021-04-14
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法,可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先,通过仿真分析的手段,选出最 优测量配置与最优等效介质模型;其次,将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量,包括:在最优测量配置下,对实际纳米结构进行光 学散射测量,获得测量光谱;运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法,对测量光谱进行分析,获得提取参数的数值;通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射,获得待测 参数的数值。 
华中科技大学 2021-04-11
电输运性质测量系统霍尔效应测试电阻测量仪器
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北京锦正茂科技有限公司 2022-03-30
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