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一种可扩展到较高泥沙浓度测量与试验分析的装置
本实用新型涉及一种可扩展到较高泥沙浓度测量与试验分析的装置，包括水槽试验系统、B 超成像 测量分析系统、超声反射衰减系统；所述水槽试验系统包括沙粒、水流和水槽，所述沙粒和水流放置在 水槽内；所述超成像测量分析系统包括 B 超探头、信号线、B 超仪和计算机，B 超探头通过信号线与 B 超仪相连接，B 超仪通过连接线与计算机连接；所述超声反射衰减系统包括反射装置和用于固定 B 超探 头在反射装置正上方的固定装置，所述固定装置设置在反射装置上。本实用新型装置具有较广泛的适用 性，解决了水中泥沙浓度过高而导致含沙量无法通过 B 超成像测量问题。
武汉大学
2021-04-13
一种基于T形结构的纳米线热导率的测量装置及方法
本发明提供一种基于T形结构的纳米线热导率的测量装置及方法，将热线两端搭接在热沉上，将待测线搭接在热线和热沉之间，由于部分热量沿待测线方向导走，沿热线方向的温度分布将发生变化，即由抛物线形变为双拱形，热线平均温度将明显下降。通过测量热线的平均温升的变化，就可求解得到待测线引入的总热阻，从而求得待测线的热导率。该装置结构简单，成本低廉，测量精度高，可用于包括导电、非导电细丝材料热导率的测量，具有很大的通用性。
东南大学
2021-04-11
一种制冷剂液滴的可视化测量装置和方法
本发明属于制冷剂技术领域，具体涉及一种制冷剂液滴的可视化测量装置和方法，装置包括：液滴进样系统，进样仓通过进样阀连接沿重力方向设置的毛细针管；高压可视化系统，毛细针管伸入与进样仓连通的观测仓；可视窗口设于观测仓相对侧壁，观测平台固定于观测仓内且在可视窗口间、毛细针管下方，热电效应半导体设于观测平台上；压力控制系统，电加热模块和半导体制冷片设于进样仓上，压力微控制单元与两者电联；光学成像系统，高速摄像机和光源设于可视窗口外，计算机与两者电联。与现有技术相比，本发明解决现有技术需高成本、操作复杂的高压进样设备且仅能测量液滴接触角。本方案通过液体工质的重力作用，实现高压环境下进样，不需高压进样设备。
上海理工大学
2021-01-12
[5月24日·长春]教育高水平对外开放与经济学拔尖人才培养论坛启动报名
为深入贯彻习近平总书记关于教育的重要论述和全国教育大会精神，贯彻落实《教育强国建设规划纲要（2024—2035年）》和三年行动计划，研讨高等教育强国建设新路径新范式，宣传高等教育强国研究成果，中国高等教育培训中心决定举办“教育高水平对外开放与经济学拔尖人才培养论坛”（以下简称“论坛”）。
中国高等教育学会
2025-04-24
RSM-SMS(A)三维全场应变测量分析系统
武汉中岩科技股份有限公司
2024-10-29
多分支水平井增强地热能开发
增强型地热能开发技术主要用于地热取暖，属于环境友好型的地热能开采技术。 压裂辅助常规地热能开发系统，取热由抽水井和回灌井组成，这种方式几乎不消耗地热水。地热水通过换热器换热，向外输出热量，不进入供暖或发电系统管道。在抽、灌热水井之间进行人工压裂，形成裂缝，增强地热水的回灌，从而降低地热资源的浪费和对环境的破坏。选取合理的抽、灌井间距，并对回灌温度进行合理控制，不会出现地热水温度下降的问题。 基于水平分支井的封闭循环取热技术，利用多分支水平井技术，在主井眼上钻多个水平分支井眼，换热流体从主井眼进入，然后扩展到各分支水平井眼，流体在水平分支井眼中流动时，吸收热量，然后从绝热内管返回地面，随后进入换热器，经对流换热加热地面循环流体。最终，释放出热量的载热流体在循环泵的作用下进入主井眼，构成封闭循环系统。
西安交通大学
2021-04-11
一种水平二自由度隔振机构
本发明提供一种水平二自由度隔振机构，包括一连接板，连接板中心插有活塞杆，圆盘的沿周均匀安放有四个磁浮单元。利用磁铁(包括电磁铁和永磁体)的同极相斥产生的正刚度特性，以及磁铁异极相吸产生的负刚度特性，将磁浮单元设计为正负刚度并联的水平二自由度隔振系统。由于正负刚度并联使刚度相互抵消，因此，该水平二自由度隔振机构拥有接近零的固有刚度，从而实现超低频水平隔振。
华中科技大学
2021-04-14
桨叶前缘带旋转圆柱的水平轴风力机
桨叶前缘带旋转圆柱的水平轴风力机。装置示意图如下，包括塔架 5、 水平轴机箱 4、轮毂 3 及桨叶 1，每个桨叶 1，一根可控的绕自身轴线的旋转圆 柱2。
上海理工大学
2021-01-12
桨叶前缘带旋转圆柱的水平轴风力机
桨叶前缘带旋转圆柱的水平轴风力机的研发。装置示意图如下，包括塔 架 5、水平轴机箱 4、轮毂 3 及桨叶 1，每个桨叶 1，一根可控的绕自身轴线的旋 转圆柱 2。
上海理工大学
2021-01-12
测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤 S21 采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22 根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测得的高度距离获得芯片与第一基准平面的第一倾角，并根据测量平面角度的方法并结合第二高度传感器测得的高度距离获得基板与第二基准平面的第二倾角；S23 将第二倾角、第一倾角和角度误差做向量减法运算获得芯片与基板之间的相对倾角。本发明利用高度传感器测量多点高度测量倾角，进而利用倾角标定
华中科技大学
2021-04-14