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一种压电与光电复合的流体流速流向测量装置及其方法
本发明公开了一种压电与光电复合的液体流速流向测量装置及 其方法，装置包括圆柱体，压电纤维束，激光发射准直模块，弹性阻 尼体，底座，二维 PSD 位移传感器，PSD 承载及信号放大电路板，以 及测量数据处理模块;本发明利用弹性圆柱体以及安装在圆柱体内部 中心轴线区域的压电纤维束，将流体的流动转换为浸入流体中的圆柱 体的偏转运动，以及压电纤维束随圆柱体偏转产生压差，利用圆柱体 的偏转与流体流向的关系，以及压电纤维束压差与流体流速的关系， 实现流体的流速和流向的测量。本发明结
华中科技大学
2021-04-14
纳米尺度下大面积散射场的快速测量方法及装置
本发明公开了一种纳米尺度下快速大面积海量散射场测量的装 置，包括:起偏端，用于将光束进行调制得到一定偏振态的光束;检 偏端，用于将偏振态光束进行解调以获得样品信息;还包括物镜和第 一透镜，待测样品位于物镜的前焦面上，偏振态光束经过该第一透镜 聚焦在物镜的后焦面，待测样品散射光被物镜收集并成像于其后焦面， 进而成像于图像采集装置上;以及扫描振镜，用于使得所述物镜出射 到样品上的光束角度改变，获得待测样品不同入射角下的散射场分布 图像，实现对待测样品纳米尺度下的快速精确的形貌测量。本发明还 公开了相应的
华中科技大学
2021-04-14
静压气体止推轴承气膜面的气体压强分布测量装置及方法
本发明公开了一种静压气体止推轴承气膜面的气体压强分布测 量装置及方法，该测量装置沿光路方向依次包括准直光源、起偏镜、 1/4 波片、前透明方块、光弹性薄片、后透明方块、1/4 波片、检偏镜 和成像记录仪，所述光弹性薄片采用受应力产生双折射现象的透明光 弹性材料制成，固定在前后透明方块之间，并置于供气状态的止推轴承气膜之下；所述测量方法采用单色光通过起偏镜和 1/4 波片后垂直 入射到光弹性薄片，并经过第二个 1/4 波片和检偏镜后产生明暗相间 的干涉条纹，用成像记录仪记录光弹性条纹，经过计算和标定反
华中科技大学
2021-04-14
一种基于磁致伸缩导波短吊杆索力测量装置及方法
一种基于磁致伸缩导波短吊杆索力测量装置及方法。该装置包 括激励偏置磁化器、接收偏置磁化器、激励线圈、接收线圈、导波测 量仪等组成，根据磁致伸缩效应原理，通过激励线圈长时间激励在短 吊杆内部形成稳态振动，在接收线圈基于逆磁致伸缩效应获得感应信 号，对感应信号进行分析计算得到短吊杆索力。该方法利用磁致伸缩 导波长时间频率激励，在短吊杆中产生稳态振动，停止激励后，通过 提取短吊杆从停止激励到衰减为 0 时段的振动信号，进行频谱分析得 到短吊杆纵向固有频率，通过纵向固有频率与索力的对应关系，得出 短吊杆索力
华中科技大学
2021-04-14
一种压电与光电复合的流体流速流向测量装置及其方法
本发明公开了一种压电与光电复合的液体流速流向测量装置及 其方法，装置包括圆柱体，压电纤维束，激光发射准直模块，弹性阻 尼体，底座，二维 PSD 位移传感器，PSD 承载及信号放大电路板，以 及测量数据处理模块；本发明利用弹性圆柱体以及安装在圆柱体内部 中心轴线区域的压电纤维束，将流体的流动转换为浸入流体中的圆柱 体的偏转运动，以及压电纤维束随圆柱体偏转产生压差，利用圆柱体 的偏转与流体流向的关系，以及压电纤维束压差与流体流速的关系， 实现流体的流速和流向的测量。本发明结构简单，体型小巧，可以减 少对
华中科技大学
2021-04-14
一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法
本发明公开了一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法， 其中该测量装置包括传感器探头阵列(10)、电容测量单元(13)、以及取 向计算模块(14)，其中，传感器探头阵列(10)包括多组共面电极；任意 一组共面电极均包括至少两个导电电极；电容测量单元(13)用于测量同 一共面电极内的任意两个导电电极之间的电容，并得到多组电容数据； 取向计算模块(14)则用于根据多组电容数据计算待测量聚合物的分子 取向。本发明利用聚合
华中科技大学
2021-04-14
一种基于聚磁桥路的钢管壁厚电磁超声测量装置
本发明公开了一种基于聚磁桥路的钢管壁厚电磁超声测量装置，包括穿过式磁化线圈、导磁元件、聚磁元件以及电磁超声检测线圈，其中磁化线圈用于将待检测钢管同心设置其中，由此在通电后产生沿其轴向分布的磁场；导磁元件呈板状结构对称设置在磁化线圈的外侧，用于使所产生的磁场沿着钢管法线方向分布；聚磁元件分别设置在各个所述导磁元件上，其下端贴近待检测钢管的外表面并保持间隙；电磁超声检测线圈安装在所述间隙中，用于在通以高频电流时执行对钢管壁厚的测量。本发明还公开了其他的构造形式。通过本发明，能够在待检测钢管的局部位置形成
华中科技大学
2021-04-14
一种微纳深沟槽结构侧壁形貌快速测量方法及装置
本发明公开了一种微纳深沟槽结构侧壁形貌快速测量方法及装置，能够同时快速测量微纳深沟槽结构线宽、沟槽深度、侧壁角、侧壁粗糙度等侧壁形貌参数。步骤为：将波长为从近红外到中红外的光束经起偏后得到的椭圆偏振光投射到待测结构表面；采集待测结构表面零级衍射信号，计算得到微纳深沟槽结构测量红外椭偏光谱；采用分波长建模方法分别计算在近红外和中红外波段理论椭偏光谱，采用分步光谱反演方法与实验测量红外椭偏光谱匹配，依次提取出沟槽结构参数和粗糙度参数。装置包括红外光源、第一至第四离轴抛物镜、迈克尔逊干涉仪、平面反射镜、起
华中科技大学
2021-04-14
一种可扩展到较高泥沙浓度测量与试验分析的装置
本实用新型涉及一种可扩展到较高泥沙浓度测量与试验分析的装置，包括水槽试验系统、B 超成像 测量分析系统、超声反射衰减系统；所述水槽试验系统包括沙粒、水流和水槽，所述沙粒和水流放置在 水槽内；所述超成像测量分析系统包括 B 超探头、信号线、B 超仪和计算机，B 超探头通过信号线与 B 超仪相连接，B 超仪通过连接线与计算机连接；所述超声反射衰减系统包括反射装置和用于固定 B 超探 头在反射装置正上方的固定装置，所述固定装置设置在反射装置上。本实用新型装置具有较广泛的适用 性，解决了水中泥沙浓度过高而导致含沙量无法通过 B 超成像测量问题。
武汉大学
2021-04-13
测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤 S21 采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22 根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测得的高度距离获得芯片与第一基准平面的第一倾角，并根据测量平面角度的方法并结合第二高度传感器测得的高度距离获得基板与第二基准平面的第二倾角；S23 将第二倾角、第一倾角和角度误差做向量减法运算获得芯片与基板之间的相对倾角。本发明利用高度传感器测量多点高度测量倾角，进而利用倾角标定
华中科技大学
2021-04-14